目錄:上海波銘科學儀器有限公司>>半導體材料測試>>CV測試>> 汞CV測試系統(tǒng)
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Epi layer characterization
-Dopant Profile-N(x)
-Resistivity Profile-p(x)
Gate metrology
-Oxide thickness-EOT
-Flatland, threshold voltage-VFB,VT
Effective oxide charge-QEFF
-Dielectric constant-k
-Interface state density-Dit
IV measurements of low-k dielectricsStepped voltage, stepped current,
.Constant current modes
-Leakage current-lL
-VBDfor HMET
-Field-to-breakdown-FBD
-KSB, tsb,QBD, Vmax
上海波銘科學儀器有限公司主要提供光譜光電集成系統(tǒng)、晶萃光學機械和光學平臺,、激光器、Edmund 光學元件,、Newport 產(chǎn)品,、濱松光電探測器、卓立漢光熒光拉曼光譜儀,、是德 Keysight 電學測試系統(tǒng),、大塚 Otsuka 膜厚儀、鑫圖科研級相機,、Semilab 半導體測試設備及高低溫探針臺系統(tǒng),。經(jīng)過多年的發(fā)展,,上海波銘科學儀器有限公司在市場上已取得了一定的地位。我們的產(chǎn)品和服務在行業(yè)內(nèi)具有較高的知zhi名度和美譽度,,客戶遍布全國,。我們將繼續(xù)努力,不斷提升市場地位和影響力,。