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目錄:上海波銘科學儀器有限公司>>半導體材料測試>>CV測試>> 汞CV測試系統(tǒng)

汞CV測試系統(tǒng)
  • 汞CV測試系統(tǒng)
參考價 面議
具體成交價以合同協(xié)議為準
參考價 面議
具體成交價以合同協(xié)議為準
  • 品牌 波銘科儀
  • 型號
  • 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)商
  • 產(chǎn)品資料 查看pdf文檔
  • 所在地 上海市
屬性

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>

更新時間:2025-01-23 12:47:03瀏覽次數(shù):424評價

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汞CV測試系統(tǒng),,用于對外延或前道工藝中的non-pattemed晶片做汞C-V測試;

MCV-530L可測最大200mm的樣品。

Capability:

  • Epi layer characterization
    -Dopant Profile-N(x)
    -Resistivity Profile-p(x)

  • Gate metrology
    -Oxide thickness-EOT
    -Flatland, threshold voltage-VFB,VT
    Effective oxide charge-QEFF
    -Dielectric constant-k
    -Interface state density-Dit

  • IV measurements of low-k dielectricsStepped voltage, stepped current,
    .Constant current modes
    -Leakage current-lL
    -VBDfor HMET
    -Field-to-breakdown-FBD
    -KSB, tsb,QBD, Vmax

汞CV測試系統(tǒng) 汞CV測試系統(tǒng)









上海波銘科學儀器有限公司主要提供光譜光電集成系統(tǒng)、晶萃光學機械和光學平臺,、激光器、Edmund 光學元件,、Newport 產(chǎn)品,、濱松光電探測器、卓立漢光熒光拉曼光譜儀,、是德 Keysight 電學測試系統(tǒng),、大塚 Otsuka 膜厚儀、鑫圖科研級相機,、Semilab 半導體測試設備及高低溫探針臺系統(tǒng),。經(jīng)過多年的發(fā)展,,上海波銘科學儀器有限公司在市場上已取得了一定的地位。我們的產(chǎn)品和服務在行業(yè)內(nèi)具有較高的知zhi名度和美譽度,,客戶遍布全國,。我們將繼續(xù)努力,不斷提升市場地位和影響力,。

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