目錄:上海波銘科學(xué)儀器有限公司>>半導(dǎo)體材料測試>>霍爾電阻遷移率>> LEIModel1605非接觸遷移率測試系統(tǒng)
| 價(jià)格區(qū)間 | 面議 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 醫(yī)療衛(wèi)生,環(huán)保,食品/農(nóng)產(chǎn)品,生物產(chǎn)業(yè),綜合 |
|---|
快速,，非破壞
霍爾遷移率
方塊電阻
提高測試的重復(fù)性
與VDP法測試保持一致
上海波銘科學(xué)儀器有限公司主要提供光譜光電集成系統(tǒng),、晶萃光學(xué)機(jī)械和光學(xué)平臺,、激光器,、Edmund 光學(xué)元件、Newport 產(chǎn)品,、濱松光電探測器,、卓立漢光熒光拉曼光譜儀,、是德 Keysight 電學(xué)測試系統(tǒng)、大塚 Otsuka 膜厚儀,、鑫圖科研級相機(jī),、Semilab 半導(dǎo)體測試設(shè)備及高低溫探針臺系統(tǒng)。經(jīng)過多年的發(fā)展,，上海波銘科學(xué)儀器有限公司在市場上已取得了一定的地位,。我們的產(chǎn)品和服務(wù)在行業(yè)內(nèi)具有較高的知zhi名度和美譽(yù)度，客戶遍布全國。我們將繼續(xù)努力,，不斷提升市場地位和影響力,。
(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
5
化工儀器網(wǎng)