分光輻射照度測量系統(tǒng) 參考價：面議
該檢測器 是一種高性能的分光光度計 ,，在光源測量,、反射/透射測量,、過程測量等 方面取得 了 多項成果 ,。 覆蓋從紫外線到可見光和可見光到紅外線的寬波長范圍
分光干涉式晶圓膜厚儀 SF-3 參考價：面議
●非接觸式、非破壞性光學(xué)式膜厚檢測●采用分光干涉法實現(xiàn)高度檢測再現(xiàn)性●可進行高速的即時研磨檢測●可穿越保護膜,、觀景窗等中間層的檢測●可對應(yīng)長工作距離,、且容易安裝...
光波場三維顯微鏡 MINUK 參考價：面議
MINUK是一種可以評估納米量級的透明異物和缺陷的設(shè)備，可以單次獲取高度方向的信息,，并且可以無損,、非接觸、非侵入性地進行測量,。此外,，還可以高速掃描任何表面并確定...
ZETA電位 · 粒徑測試系統(tǒng)·ELSZneoSE 參考價：面議
本產(chǎn)品為粒徑及zeta電位測量專用裝置。ELSZneoSE選擇了ELSZneo的新功能,。 根據(jù)用途,，可以根據(jù)需要定制任意數(shù)量的必要功能。
ZETA電位 · 粒徑測試系統(tǒng)·ELSEneoSE 參考價：面議
● 可根據(jù)用途增加功能(分子量測定,、粒子濃度測定,、微流變測定、凝膠網(wǎng)眼結(jié)構(gòu)分析,、粒徑多角度測定)● 可以用標準流動池連續(xù)測量粒徑和zeta電位● 可以測量從稀薄...
ZETA電位 · 粒徑 · 分子量測試系統(tǒng)·ELSZneo 參考價：面議
ELSZ series的最zu高級機型,，除了在稀薄溶液~濃厚溶液中進行zeta電位（Zeta Potential，ζ-電位）和粒徑測定之外,，還能進行分子量測定的...
ZETA電位 · 粒徑 · 分子量·ELSZ-2000ZS 參考價：面議
●可測量稀薄溶液~濃厚溶液的ZETA電位和粒徑,，并可進行分子量測量的檢測裝置?！襁m用于粒徑測量范圍（0.6nm~10um）,濃度范圍（0.00001%~40%）...
OPTM series 嵌入型 參考價：面議
利用顯微微分光膜厚計OPTM series的高精度,、微小光點，在線提供制作晶片圖案后的微小區(qū)域測量等膜厚信息,。
Load Port對應(yīng)膜厚測量系統(tǒng) GS-300 參考價：面議
●Φ支持到300mmEFM單元備用端口的集成●實現(xiàn)嵌入在晶片中的布線圖案的圖案對齊●支持半導(dǎo)體工藝的高吞吐量要求●支持槽口對齊功能●小尺寸規(guī)格●高精度自...
ZETA電位 · 粒徑 · 分子量測試系統(tǒng) 參考價：面議
ZETA電位 · 粒徑 · 分子量測試系統(tǒng)可測量濃度低的溶液～濃度高的溶液的ZETA電位?粒徑及分子量,。
熒光量子效率測試系統(tǒng) 參考價：面議
QE-2000熒光量子效率測試系統(tǒng)瞬間測量絕.對量子效率。適用于粉末,、溶液,、固體（膜）、薄膜樣品的測量,。通過低雜散光多通道分光檢出器,，大大減少了紫外區(qū)域 的雜散...
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