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產(chǎn)地類別 | 進口 | 應用領(lǐng)域 | 電子,綜合 |
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HITACHI CG 4100臨界尺寸掃描電子顯微鏡(CD-SEM)
分辨率:1.8 nm產(chǎn)量:42片/小時MAM 時間:2.8 秒級著陸精度:±1μm
Hitachi CG 4100 是一款關(guān)鍵尺寸掃描電子顯微鏡 (CD-SEM),專為半導體和納米技術(shù)領(lǐng)域的高性能應用而設(shè)計,。主要規(guī)格和功能包括:
分辨率:CG 4100 提供高分辨率成像功能,,分辨率低至 1.8 納米,這對于詳細分析材料和半導體器件中的小特征至關(guān)重要,。
吞吐量:該系統(tǒng)每小時可處理多達 42 片晶圓,,適用于大批量制造環(huán)境。
載物臺精度:載物臺著陸精度為 ±1 微米,,確保精確定位以實現(xiàn)一致的測量,。
高壓操作:顯微鏡在高達150kV的加速電壓下工作,為更好的成像和分析提供高能量,。
成像和分析:CG 4100 配備先進的電子光學元件和強大的電子槍,,可提供出色的圖像清晰度和清晰度。它還包括自動對焦和導航系統(tǒng),,以提高易用性和效率,。
軟件和自動化:CG 4100 具有智能自動化功能,包括自動機械臂,、圖像分析軟件和可定制的配置,,以滿足各種用戶需求。這樣可以快速準確地收集和分析數(shù)據(jù),。
模塊化設(shè)計:模塊化設(shè)計允許使用不同的探測器和載物臺進行可定制的配置,以適應特定應用,,例如吸收和發(fā)射光譜,、高分辨率成像和能量色散光譜。
這些特性使 Hitachi CG 4100 成為各種科學和工業(yè)應用中詳細 3D 成像和分析的理想選擇