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哈氏槽
哈氏槽黃銅片，陽(yáng)塊,，鎳陽(yáng),，波紋吸盤，哈氏槽,，磷銅陽(yáng),，純錫陽(yáng)，整流器,，哈氏片

型號(hào)：所在地：上海市參考價(jià)：面議更新時(shí)間：2023/5/22 15:26:50 對(duì)比

哈氏槽整流器磷銅陽(yáng)純錫陽(yáng)波紋吸盤
微聚焦熒光光譜儀M6 JETSTREAM
微聚焦熒光光譜儀M6 JETSTREAMM6 JETSTREAM可以分析水平放置的樣品,，還可以分析垂直放置的樣品。

型號(hào)：所在地：上海市參考價(jià)：面議更新時(shí)間：2023/5/22 15:09:04 對(duì)比

能量色散X射線譜儀X射線熒光光譜儀礦山分析儀重金屬分析儀考古分析儀
直讀光譜儀
直讀光譜儀Q8MAGELLAN 是一款具備技術(shù),、靈活性和操作便利性的火花直讀光譜儀,。它是一款采用通道光電倍增管技術(shù),、數(shù)字等離子發(fā)生器、單火花和時(shí)間分辨率并配有免...

型號(hào)： Q8 MAGELL... 所在地：上海市參考價(jià)：面議更新時(shí)間：2023/5/22 14:57:34 對(duì)比

直讀光譜儀布魯克光譜儀進(jìn)口光譜儀臺(tái)式光譜儀火花光譜儀
反射膜厚儀
反射膜厚儀MProbe UVVisSR薄膜測(cè)厚儀大部分透光或弱吸收的薄膜均可以快速且穩(wěn)定的被測(cè)量,。比如：氧化物,，氮化物，光刻膠,，高分子聚合物,，半導(dǎo)體(硅，單晶硅...

型號(hào)： MProbe UV... 所在地：上海市參考價(jià)：面議更新時(shí)間：2023/5/22 14:38:22 對(duì)比

干涉光測(cè)厚儀反射膜測(cè)厚儀白光測(cè)厚儀光學(xué)薄膜測(cè)厚儀顯微反射測(cè)厚儀
涂層測(cè)厚儀SURFIX®X系列
涂層測(cè)厚儀SURFIX®X系列這款新型PHYNIX儀器其性能在于精美的彩色顯示屏,，更好的內(nèi)容顯示,，并包含多種語(yǔ)言。目前的版本含有英語(yǔ),，德語(yǔ),，法語(yǔ)，意大...

型號(hào)：所在地：上海市參考價(jià)：面議更新時(shí)間：2023/5/22 14:34:17 對(duì)比

X射線熒光測(cè)厚儀鍍層測(cè)厚儀布魯克測(cè)厚儀進(jìn)口鍍層測(cè)厚儀光學(xué)測(cè)厚儀
晶圓厚度測(cè)量系統(tǒng)
晶圓厚度測(cè)量系統(tǒng)非接觸式厚度測(cè)量,，可以測(cè)量背面研磨減薄和刻蝕后的晶圓,，也可測(cè)量粘附在藍(lán)膜或者其他載體上的有圖形或凸起的晶圓，可應(yīng)用于堆疊芯片和微機(jī)電系統(tǒng),。

型號(hào)： FSM 413 E... 所在地：上海市參考價(jià)：面議更新時(shí)間：2023/5/22 14:16:00 對(duì)比

干涉光測(cè)厚儀反射膜測(cè)厚儀IR干涉測(cè)厚儀薄膜厚度測(cè)量顯微反射測(cè)厚儀
納米力學(xué)測(cè)試系統(tǒng)
納米力學(xué)測(cè)試系統(tǒng)布魯克的海思創(chuàng)TI 980 TriboIndenter同時(shí)具有高的性能,、靈活性、可信度,、實(shí)用性和速度,。基于海思創(chuàng)幾十年的技術(shù),，他為納米力學(xué)表征帶...

型號(hào)： TI 980 所在地：上海市參考價(jià)：面議更新時(shí)間：2023/5/22 13:34:06 對(duì)比

納米粒度儀納米力學(xué)儀納米測(cè)試儀納米分析儀納米力學(xué)系統(tǒng)
摩擦磨損儀
摩擦磨損儀布魯克UMT摩擦磨損儀由于其良好的兼容新和多模塊化設(shè)計(jì)得到了市場(chǎng),。良好的設(shè)備兼容性設(shè)計(jì)理念，可以使一個(gè)樣品在同一個(gè)實(shí)驗(yàn)設(shè)備上實(shí)現(xiàn)多種性能表征,，大大節(jié)省...

型號(hào)： CETR-UMT 所在地：上海市參考價(jià)：面議更新時(shí)間：2023/5/22 13:27:13 對(duì)比

磨損試驗(yàn)機(jī)摩擦磨損儀UMT摩擦磨損儀布魯克磨損儀進(jìn)口磨損儀
TXRF全反射X射線熒光光譜儀S4 TSTAR
TXRF全反射X射線熒光光譜儀S4 TSTAR數(shù)十年來(lái),，X 射線熒光（XRF）光譜法在多個(gè)行業(yè)中被廣泛用于對(duì)固體和石油化工樣品進(jìn)行元素分析，檢測(cè)限值低于PPb ...

型號(hào)：所在地：上海市參考價(jià)：面議更新時(shí)間：2023/5/22 12:12:49 對(duì)比

能量色散X射線譜儀X射線熒光光譜儀礦山分析儀重金屬分析儀考古分析儀
貴金屬檢測(cè)
貴金屬檢測(cè)采用了具有布魯克SharpBeam™優(yōu)化檢測(cè)器,S1TITAN運(yùn)行時(shí)功率很低,，從而大大使電池壽命增加,。S1TITAN較寬的元素范圍使它適合...

型號(hào)： S1 TITAN 所在地：上海市參考價(jià)：面議更新時(shí)間：2023/5/22 12:02:49 對(duì)比

廢舊金屬光譜儀X射線熒光光譜儀礦山XRF分析儀合金分析儀熒光成像光譜儀
反射膜厚儀
顯微反射膜厚儀MProbe MSP顯微薄膜測(cè)厚儀適用于實(shí)時(shí)在線測(cè)量，多層測(cè)量,，非均勻涂層, 軟件包含大量材料庫(kù)(超過(guò)500材料),，新材料可以很容易的添加，支持多...

型號(hào)： MProbe RT 所在地：上海市參考價(jià)：面議更新時(shí)間：2023/5/22 11:46:04 對(duì)比

干涉光測(cè)厚儀反射膜測(cè)厚儀白光測(cè)厚儀光學(xué)薄膜測(cè)厚儀顯微反射測(cè)厚儀
涂層測(cè)厚儀
涂層測(cè)厚儀PHYNIX涂層測(cè)厚儀也被用于許多研究機(jī)構(gòu)和實(shí)驗(yàn)室,，例如為了開發(fā)新的涂層和鍍膜方法,。是眾多對(duì)我們?cè)O(shè)備的測(cè)量精度充滿信心的原因所在。

型號(hào)： M2 BLIZZA... 所在地：上海市參考價(jià)：面議更新時(shí)間：2023/5/22 11:33:23 對(duì)比

X射線熒光測(cè)厚儀鍍層測(cè)厚儀布魯克測(cè)厚儀進(jìn)口鍍層測(cè)厚儀光學(xué)測(cè)厚儀
便捷式光伏檢測(cè)儀
便捷式光伏檢測(cè)儀英國(guó)seaward PV150 太陽(yáng)能安裝檢測(cè)儀為光伏安裝提供、簡(jiǎn)單的電氣和光伏安裝性能確認(rèn),。

型號(hào)： PV150 所在地：上海市參考價(jià)：面議更新時(shí)間：2023/5/22 10:39:59 對(duì)比

太陽(yáng)電池板測(cè)試光伏檢測(cè)儀安規(guī)檢測(cè)儀I-V測(cè)試PV檢測(cè)儀
薄膜應(yīng)力及基底翹曲測(cè)試設(shè)備
薄膜應(yīng)力及基底翹曲測(cè)試設(shè)備 FSM 500TC 200mm 高溫應(yīng)力測(cè)試系統(tǒng)可以幫助研發(fā)和工藝工程師評(píng)估薄膜的熱力學(xué)性能和穩(wěn)定性特性,，主要應(yīng)用于半導(dǎo)體，三-五族...

型號(hào)： FSM 500TC 所在地：上海市參考價(jià)：面議更新時(shí)間：2023/5/22 10:32:36 對(duì)比

薄膜應(yīng)力測(cè)試儀晶元彎曲測(cè)試儀基底翹曲分析儀薄膜裂紋測(cè)試儀半導(dǎo)體薄膜分析
金屬回收檢測(cè)儀
金屬回收檢測(cè)儀手持式X射線熒光光譜儀（俗稱手持金屬成份分析儀）是金屬回收,、再利用中的常用設(shè)備。布魯克手持光譜儀采用了現(xiàn)代SDD(硅漂移探測(cè)器)技術(shù),與傳統(tǒng)的基于...

型號(hào)： S1 TITAN 所在地：上海市參考價(jià)：面議更新時(shí)間：2023/5/22 10:29:06 對(duì)比

廢舊金屬光譜儀X射線熒光光譜儀礦山XRF分析儀合金分析儀熒光成像光譜儀
大尺寸鍍層測(cè)厚儀
大尺寸鍍層測(cè)厚儀M2 BLIZZARD是布魯克公司推出的一款微區(qū)X射線熒光光譜儀,，依據(jù)ASTMB568和DIN/ISO 3497,，對(duì)材料成分和多層涂層厚度進(jìn)行無(wú)...

型號(hào)： M2 BLIZZA... 所在地：上海市參考價(jià)：面議更新時(shí)間：2023/5/22 10:14:49 對(duì)比

X射線熒光測(cè)厚儀鍍層測(cè)厚儀布魯克測(cè)厚儀進(jìn)口鍍層測(cè)厚儀光學(xué)測(cè)厚儀
薄膜應(yīng)力及基底翹曲測(cè)試設(shè)備
薄膜應(yīng)力及基底翹曲測(cè)試設(shè)備 FSM推出基于商業(yè)化應(yīng)用的激光掃描光學(xué)杠桿（Optilever）技術(shù)，主要應(yīng)用于薄膜應(yīng)力和晶圓彎曲測(cè)量,。該設(shè)備頻繁使用在分析解決諸如...

型號(hào)：所在地：上海市參考價(jià)：面議更新時(shí)間：2023/5/22 10:08:02 對(duì)比

薄膜應(yīng)力測(cè)試儀晶元彎曲測(cè)試儀基底翹曲分析儀薄膜裂紋測(cè)試儀半導(dǎo)體薄膜分析
原子力顯微鏡Dimension FastScan
原子力顯微鏡Dimension FastScanDimensionFastScan原子力顯微鏡(AFM)在不損失Dimension®Icon®...

型號(hào)：所在地：上海市參考價(jià)：面議更新時(shí)間：2023/5/22 9:50:16 對(duì)比

原子力顯微鏡原子力顯微鏡探針布魯克探針顯微鏡探針針尖納米壓痕探針
顯微反射膜厚儀
顯微反射膜厚儀MProbe MSP顯微薄膜測(cè)厚儀適用于實(shí)時(shí)在線測(cè)量,，多層測(cè)量，非均勻涂層, 軟件包含大量材料庫(kù)(超過(guò)500材料),，新材料可以很容易的添加,，支持多...

型號(hào)： MProbe MS... 所在地：上海市參考價(jià)：面議更新時(shí)間：2023/5/22 9:45:54 對(duì)比

干涉光測(cè)厚儀反射膜測(cè)厚儀白光測(cè)厚儀光學(xué)薄膜測(cè)厚儀顯微反射測(cè)厚儀
能量色散X射線熒光光譜儀
能量色散X射線熒光光譜儀能量色散X射線熒光光譜儀主要用途包括兩個(gè)方面，元素成分定性及定量分析,、涂覆層厚度分析,。

型號(hào)： ELIO 所在地：上海市參考價(jià)：面議更新時(shí)間：2023/5/19 18:43:21 對(duì)比

能量色散X射線譜儀X射線熒光光譜儀礦山分析儀重金屬分析儀考古分析儀

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