-
Hysitron 納米力學(xué)測(cè)試系統(tǒng)
Hysitron 納米力學(xué)測(cè)試系統(tǒng)布魯克專(zhuān)門(mén)設(shè)計(jì)的Hysitron TI Premier 納米力學(xué)測(cè)試儀器在緊湊平臺(tái)中提供了業(yè)界的、定量納米力學(xué)表征技術(shù),。以被廣...
型號(hào)：
所在地：上海市
參考價(jià)：
面議更新時(shí)間：2023/5/24 11:46:49
對(duì)比
納米粒度儀納米力學(xué)儀納米測(cè)試儀納米分析儀納米力學(xué)系統(tǒng)
-
手持土壤重金屬分析儀
手持土壤重金屬分析儀實(shí)現(xiàn)了快速,、準(zhǔn)確分析土壤中的有害金屬元素Pb（鉛），As（砷）,，Cd（鎘）,，Hg（汞），Cu（銅）,，Ni（鎳）,，Zn（鋅），Cr（鉻）等有害...
型號(hào)： S1 TITAN
所在地：上海市
參考價(jià)：
面議更新時(shí)間：2023/5/24 10:07:25
對(duì)比
廢舊金屬光譜儀X射線(xiàn)熒光光譜儀礦山XRF分析儀土壤重金屬分析儀熒光成像光譜儀
-
混凝土成分分析M4 TORNADO
混凝土成分分析M4 TORNADO德國(guó)布魯克微區(qū)X射線(xiàn)熒光光譜Micro-XRF分析技術(shù)是對(duì)不均勻樣品,、不規(guī)則樣品,、甚至小件樣品和包裹物進(jìn)行高靈敏度的、非破壞性...
型號(hào)：
所在地：上海市
參考價(jià)：
面議更新時(shí)間：2023/5/24 9:09:34
對(duì)比
混凝土分析儀X射線(xiàn)熒光光譜儀礦山XRF分析儀混凝土成分分析儀熒光成像光譜儀
-
電子順磁共振波譜儀
電子順磁共振波譜儀電子順磁共振波譜儀（EPR）ESR5000是一種緊湊型高性能儀器,，其靈敏度和可靠性足可勝任EPR波譜領(lǐng)域的苛刻應(yīng)用,。ESR5000EPR（電子...
型號(hào)： ESR5000
所在地：上海市
參考價(jià)：
面議更新時(shí)間：2023/5/23 16:30:43
對(duì)比
電子順磁波譜儀共振波譜儀EPR波譜儀電子順磁共振波譜儀波譜儀布魯克
-
掃描儀Itrax XRF FleXRay
掃描儀Itrax XRF FleXRayItrax XRF FleXRay是一款靈活的非接觸式，無(wú)損巖芯掃描儀,，可以用于掃描鉆孔巖芯,、全巖和分散巖芯、板狀,、線(xiàn)性...
型號(hào)：
所在地：上海市
參考價(jià)：
面議更新時(shí)間：2023/5/23 16:16:36
對(duì)比
能量色散X射線(xiàn)譜儀X射線(xiàn)熒光光譜儀礦山分析儀重金屬分析儀考古分析儀
-
薄膜應(yīng)力及基底翹曲測(cè)試設(shè)備
薄膜應(yīng)力及基底翹曲測(cè)試設(shè)備產(chǎn)品品牌：Frontier Semiconductor產(chǎn)品型號(hào)：薄膜應(yīng)力和硅片翹曲檢測(cè)儀產(chǎn)品描述：光學(xué)設(shè)計(jì)減少圖形襯底對(duì)激光的干涉,。
型號(hào)： Frontier ...
所在地：上海市
參考價(jià)：
面議更新時(shí)間：2023/5/23 16:10:43
對(duì)比
薄膜應(yīng)力測(cè)試儀晶元彎曲測(cè)試儀基底翹曲分析儀薄膜裂紋測(cè)試儀半導(dǎo)體薄膜分析
-
掃描探針顯微鏡
掃描探針顯微鏡同類(lèi)AFM中具有很低的噪音水平和很高的分辨率Innova掃描探針顯微鏡（SPM）
型號(hào)： Innova
所在地：上海市
參考價(jià)：
面議更新時(shí)間：2023/5/23 16:00:00
對(duì)比
原子力顯微鏡原子力顯微鏡探針布魯克掃描顯微鏡顯微鏡探針針尖納米壓痕探針
-
多基體火花直讀光譜儀Q4 POLO
多基體火花直讀光譜儀Q4 POLO
型號(hào)：
所在地：上海市
參考價(jià)：
面議更新時(shí)間：2023/5/23 12:03:09
對(duì)比
直讀光譜儀布魯克光譜儀進(jìn)口光譜儀臺(tái)式光譜儀火花光譜儀
-
紅外干涉測(cè)量設(shè)備
紅外干涉測(cè)量設(shè)備適用于可讓紅外線(xiàn)通過(guò)的材料硅,、藍(lán)寶石、砷化鎵,、磷化銦,、碳化硅、玻璃,、石英,、聚合物…………襯底厚度(不受圖案硅片、有膠帶,、凹凸或者粘合硅片影響)平...
型號(hào)： FSM 413
所在地：上海市
參考價(jià)：
面議更新時(shí)間：2023/5/23 11:57:22
對(duì)比
紅外干涉光測(cè)厚儀反射膜測(cè)厚儀白光測(cè)厚儀光學(xué)薄膜測(cè)厚儀顯微反射測(cè)厚儀
-
便攜式涂層測(cè)厚儀
便攜式涂層測(cè)厚儀PaintCheck能測(cè)量涂層的厚度,，也能提供有關(guān)涂層結(jié)構(gòu)的有價(jià)值信息，例如,，頂部涂層或子填料,。如果所測(cè)量的厚度超過(guò)標(biāo)準(zhǔn)涂層，該儀器會(huì)識(shí)別出維修...
型號(hào)： PAINTCHEC...
所在地：上海市
參考價(jià)：
面議更新時(shí)間：2023/5/23 11:47:11
對(duì)比
X射線(xiàn)熒光測(cè)厚儀鍍層測(cè)厚儀布魯克測(cè)厚儀進(jìn)口鍍層測(cè)厚儀光學(xué)測(cè)厚儀
-
移動(dòng)式微區(qū)X射線(xiàn)熒光光譜儀
移動(dòng)式微區(qū)X射線(xiàn)熒光光譜儀CRONO移動(dòng)式微區(qū)X射線(xiàn)熒光光譜儀是一款可移動(dòng)且可重新配置的快速檢測(cè)的微型XRF掃描儀,?；贓DXRF技術(shù)，可對(duì)大型樣品進(jìn)行原位,，非...
型號(hào)： CRONO
所在地：上海市
參考價(jià)：
面議更新時(shí)間：2023/5/22 18:41:28
對(duì)比
司法鑒定光譜儀X射線(xiàn)熒光光譜儀礦山XRF分析儀重金屬分析儀熒光成像光譜儀
-
便攜式微區(qū)X射線(xiàn)熒光光譜儀
便攜式微區(qū)X射線(xiàn)熒光光譜儀微區(qū)X射線(xiàn)熒光光譜儀作為一款元素分析設(shè)備,，具有無(wú)損、快速,、分析元素范圍廣,、精度高、制樣簡(jiǎn)單,、樣品狀態(tài)不受限制等優(yōu)異性,，在物質(zhì)組成和結(jié)構(gòu)...
型號(hào)： ARTAX
所在地：上海市
參考價(jià)：
面議更新時(shí)間：2023/5/22 18:34:55
對(duì)比
司法鑒定光譜儀X射線(xiàn)熒光光譜儀礦山XRF分析儀重金屬分析儀熒光成像光譜儀
-
三維表面測(cè)量系統(tǒng)
三維表面測(cè)量系統(tǒng)布魯克NPFLEX三維表面測(cè)量系統(tǒng)為大樣品的表面表征測(cè)量提供了靈活的非接觸式的方案，超過(guò)300度的測(cè)量空間,，克服了以往由于零件某些角度或取向問(wèn)題...
型號(hào)： NP Flex
所在地：上海市
參考價(jià)：
面議更新時(shí)間：2023/5/22 18:19:37
對(duì)比
表面輪廓儀臺(tái)式輪廓儀布魯克輪廓儀DEKTAK XT輪廓儀輪廓分析儀
-
全自動(dòng)紫外線(xiàn)芯片應(yīng)力測(cè)量?jī)x
全自動(dòng)紫外線(xiàn)芯片應(yīng)力測(cè)量?jī)x全自動(dòng)紫外線(xiàn)芯片應(yīng)力測(cè)量?jī)x一臺(tái)全自動(dòng)紫外線(xiàn)——可見(jiàn)光RAMan儀器，主要用與測(cè)量芯片應(yīng)力,。
型號(hào)： FSM360
所在地：上海市
參考價(jià)：
面議更新時(shí)間：2023/5/22 18:11:14
對(duì)比
應(yīng)力測(cè)試儀芯片應(yīng)力分析儀應(yīng)力測(cè)試機(jī)應(yīng)力機(jī)器應(yīng)力分析儀
-
直讀光譜儀
直讀光譜儀用于金屬材料分析的全譜直讀光譜儀它具備良好分析性能,、使用方便，是一種基于 CCD 檢測(cè)器的金屬材料分析全譜直讀光譜儀,。
型號(hào)： Q4 TASMAN
所在地：上海市
參考價(jià)：
面議更新時(shí)間：2023/5/22 17:47:56
對(duì)比
直讀光譜儀布魯克光譜儀進(jìn)口光譜儀臺(tái)式光譜儀火花光譜儀
-
光學(xué)輪廓儀系統(tǒng)
光學(xué)輪廓儀系統(tǒng)?光學(xué)輪廓儀系統(tǒng)適用于科研和生產(chǎn)的高質(zhì)量表面測(cè)量手段ContourGT-I3D光學(xué)顯微鏡將三十多年表面測(cè)量經(jīng)驗(yàn)和技術(shù)融合到單一平臺(tái)上,，實(shí)現(xiàn)調(diào)整校準(zhǔn)...
型號(hào)： ContourGT...
所在地：上海市
參考價(jià)：
面議更新時(shí)間：2023/5/22 17:41:37
對(duì)比
表面輪廓儀臺(tái)式輪廓儀布魯克輪廓儀DEKTAK XT輪廓儀光學(xué)輪廓分析儀
-
輕便型直讀光譜儀Q2 ION
輕便型直讀光譜儀Q2 IONBruker設(shè)計(jì)的直讀光譜儀Q2 ION是現(xiàn)今市場(chǎng)上輕便的直讀光譜儀。Q2可同時(shí)配備多種基體例如鐵,、鋁和銅, 能夠很好地中小鑄造企業(yè)...
型號(hào)：
所在地：上海市
參考價(jià)：
面議更新時(shí)間：2023/5/22 17:24:24
對(duì)比
直讀光譜儀布魯克光譜儀進(jìn)口光譜儀臺(tái)式光譜儀火花光譜儀
-
藝術(shù)與考古分析儀
藝術(shù)與考古分析儀TRACER 5i是Bruker公司2016年底新發(fā)布的科研型手持式XRF設(shè)備,，也稱(chēng)便攜式XRF。是繼原有Tracer家族系列后, Bruker...
型號(hào)： Tracer
所在地：上海市
參考價(jià)：
面議更新時(shí)間：2023/5/22 17:10:02
對(duì)比
能量色散X射線(xiàn)譜儀X射線(xiàn)熒光光譜儀礦山分析儀重金屬分析儀考古分析儀
-
反射膜厚儀
反射膜厚儀采用近紅外光譜(NIR)的測(cè)厚儀可以用于測(cè)量一些可見(jiàn)光和紫外光無(wú)法使用的應(yīng)用領(lǐng)域,，比如在可見(jiàn)光范圍內(nèi)有吸收的太陽(yáng)能薄膜(CIGS, CdTe)可以快速...
型號(hào)： MProbe NI...
所在地：上海市
參考價(jià)：
面議更新時(shí)間：2023/5/22 17:02:09
對(duì)比
干涉光測(cè)厚儀反射膜測(cè)厚儀白光測(cè)厚儀光學(xué)薄膜測(cè)厚儀顯微反射測(cè)厚儀
-
涂層測(cè)厚儀SURFIX®系列
涂層測(cè)厚儀SURFIX®系列用于鋼/鐵以及有色金屬的清漆,、油漆和電鍍涂層的測(cè)量
型號(hào)：
所在地：上海市
參考價(jià)：
面議更新時(shí)間：2023/5/22 16:58:10
對(duì)比
X射線(xiàn)熒光測(cè)厚儀鍍層測(cè)厚儀布魯克測(cè)厚儀進(jìn)口鍍層測(cè)厚儀光學(xué)測(cè)厚儀
