您好, 歡迎來到化工儀器網(wǎng)！ 登錄| 免費(fèi)注冊(cè)| 產(chǎn)品展廳| 收藏商鋪|
您好, 歡迎來到化工儀器網(wǎng)！ 登錄| 免費(fèi)注冊(cè)| 產(chǎn)品展廳| 收藏商鋪|
18930218592
當(dāng)前位置：上海富瞻環(huán)保科技有限公司>>物理特性儀器>>測(cè)厚儀>> MProbe NIR反射膜厚儀
| 參 考 價(jià) | 面議 |
產(chǎn)品型號(hào)MProbe NIR
品 牌其他品牌
廠商性質(zhì)生產(chǎn)商
所 在 地上海市
更新時(shí)間：2023-05-22 17:02:09瀏覽次數(shù)：445次
聯(lián)系我時(shí),，請(qǐng)告知來自 化工儀器網(wǎng)
| 產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 | 價(jià)格區(qū)間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 醫(yī)療衛(wèi)生,生物產(chǎn)業(yè),能源,電子,制藥 |
產(chǎn)品品牌：Semiconsoft
產(chǎn)品型號(hào)：MProbe NIR
采用近紅外光譜(NIR)的測(cè)厚儀可以用于測(cè)量一些可見光和紫外光無法使用的應(yīng)用領(lǐng)域，比如在可見光范圍內(nèi)有吸收的太陽能薄膜(CIGS, CdTe)可以快速的測(cè)量,。
測(cè)量范圍: 100 nm -200um
波長范圍: 900 nm -2500 nm
適用于實(shí)時(shí)在線測(cè)量,，多層測(cè)量，非均勻涂層, 軟件包含大量材料庫(超過500材料),，新材料可以很容易的添加,，支持多重算法：Cauchy, Tauc-Lorentz, Cody-Lorentz, EMA等
測(cè)量指標(biāo)：薄膜厚度，光學(xué)常數(shù)
界面友好: 一鍵式測(cè)量和分析,。
實(shí)用的工具：曲線擬合和靈敏度分析,，背景和變形校正，連接層和材料,，多樣品測(cè)量,，動(dòng)態(tài)測(cè)量和產(chǎn)線批量處理,。
（MProble NIR薄膜測(cè)厚儀系統(tǒng)示 ）
案例1，73nm SiN氮化硅薄膜的測(cè)量
硅晶圓反射率,，測(cè)量時(shí)間10ms
使用Tauc-Lorentz模型,，測(cè)量SiN薄膜的n和k值
請(qǐng)輸入賬號(hào)
請(qǐng)輸入密碼
請(qǐng)輸驗(yàn)證碼
以上信息由企業(yè)自行提供,，信息內(nèi)容的真實(shí)性、準(zhǔn)確性和合法性由相關(guān)企業(yè)負(fù)責(zé),，化工儀器網(wǎng)對(duì)此不承擔(dān)任何保證責(zé)任,。
溫馨提示：為規(guī)避購買風(fēng)險(xiǎn)，建議您在購買產(chǎn)品前務(wù)必確認(rèn)供應(yīng)商資質(zhì)及產(chǎn)品質(zhì)量,。
上海富瞻環(huán)?？萍加邢薰?
化工儀器網(wǎng)