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反射膜厚儀

參  考  價(jià)面議
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)

產(chǎn)品型號(hào)MProbe NIR

品       牌其他品牌

廠商性質(zhì)生產(chǎn)商

所  在  地上海市

更新時(shí)間:2023-05-22 17:02:09瀏覽次數(shù):445次

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應(yīng)用領(lǐng)域 醫(yī)療衛(wèi)生,生物產(chǎn)業(yè),能源,電子,制藥
反射膜厚儀
采用近紅外光譜(NIR)的測(cè)厚儀可以用于測(cè)量一些可見光和紫外光無法使用的應(yīng)用領(lǐng)域,比如在可見光范圍內(nèi)有吸收的太陽能薄膜(CIGS, CdTe)可以快速的測(cè)量,。

產(chǎn)品品牌:Semiconsoft

產(chǎn)品型號(hào):MProbe NIR

產(chǎn)品描述:采用近紅外光譜(NIR)的測(cè)厚儀可以用于測(cè)量一些可見光和紫外光無法使用的應(yīng)用領(lǐng)域,。

反射膜厚儀

產(chǎn)品概述

采用近紅外光譜(NIR)的測(cè)厚儀可以用于測(cè)量一些可見光和紫外光無法使用的應(yīng)用領(lǐng)域,比如在可見光范圍內(nèi)有吸收的太陽能薄膜(CIGS, CdTe)可以快速的測(cè)量,。

測(cè)量范圍: 100 nm -200um

波長范圍: 900 nm -2500 nm

適用于實(shí)時(shí)在線測(cè)量,,多層測(cè)量,非均勻涂層, 軟件包含大量材料庫(超過500材料),,新材料可以很容易的添加,,支持多重算法:Cauchy, Tauc-Lorentz, Cody-Lorentz, EMA等

測(cè)量指標(biāo):薄膜厚度,光學(xué)常數(shù)

界面友好: 一鍵式測(cè)量和分析,。

實(shí)用的工具:曲線擬合和靈敏度分析,,背景和變形校正,連接層和材料,,多樣品測(cè)量,,動(dòng)態(tài)測(cè)量和產(chǎn)線批量處理,。

(MProble NIR薄膜測(cè)厚儀系統(tǒng)示 )

案例1,73nm SiN氮化硅薄膜的測(cè)量


硅晶圓反射率,,測(cè)量時(shí)間10ms


使用Tauc-Lorentz模型,,測(cè)量SiN薄膜的n和k值





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