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當(dāng)前位置:上海富瞻環(huán)保科技有限公司>>物理特性儀器>>測(cè)厚儀>> MProbe NIR反射膜厚儀
參 考 價(jià) | 面議 |
產(chǎn)品型號(hào)MProbe NIR
品 牌其他品牌
廠商性質(zhì)生產(chǎn)商
所 在 地上海市
更新時(shí)間:2023-05-22 17:02:09瀏覽次數(shù):445次
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應(yīng)用領(lǐng)域 | 醫(yī)療衛(wèi)生,生物產(chǎn)業(yè),能源,電子,制藥 |
產(chǎn)品品牌:Semiconsoft
產(chǎn)品型號(hào):MProbe NIR
采用近紅外光譜(NIR)的測(cè)厚儀可以用于測(cè)量一些可見光和紫外光無法使用的應(yīng)用領(lǐng)域,比如在可見光范圍內(nèi)有吸收的太陽能薄膜(CIGS, CdTe)可以快速的測(cè)量,。
測(cè)量范圍: 100 nm -200um
波長范圍: 900 nm -2500 nm
適用于實(shí)時(shí)在線測(cè)量,,多層測(cè)量,非均勻涂層, 軟件包含大量材料庫(超過500材料),,新材料可以很容易的添加,,支持多重算法:Cauchy, Tauc-Lorentz, Cody-Lorentz, EMA等
測(cè)量指標(biāo):薄膜厚度,光學(xué)常數(shù)
界面友好: 一鍵式測(cè)量和分析,。
實(shí)用的工具:曲線擬合和靈敏度分析,,背景和變形校正,連接層和材料,,多樣品測(cè)量,,動(dòng)態(tài)測(cè)量和產(chǎn)線批量處理,。
(MProble NIR薄膜測(cè)厚儀系統(tǒng)示 )
案例1,73nm SiN氮化硅薄膜的測(cè)量
硅晶圓反射率,,測(cè)量時(shí)間10ms
使用Tauc-Lorentz模型,,測(cè)量SiN薄膜的n和k值
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