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當(dāng)前位置:上海富瞻環(huán)??萍加邢薰?/a>>>物理特性儀器>>測(cè)厚儀>> MProbe MSP顯微反射膜厚儀
參 考 價(jià) | 面議 |
產(chǎn)品型號(hào)MProbe MSP
品 牌其他品牌
廠商性質(zhì)生產(chǎn)商
所 在 地上海市
更新時(shí)間:2023-05-22 09:45:54瀏覽次數(shù):397次
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應(yīng)用領(lǐng)域 | 醫(yī)療衛(wèi)生,生物產(chǎn)業(yè),能源,電子,制藥 |
產(chǎn)品品牌:Semiconsoft
產(chǎn)品型號(hào):MProbe MSP
MProbe MSP顯微薄膜測(cè)厚儀適用于實(shí)時(shí)在線測(cè)量,,多層測(cè)量,非均勻涂層, 軟件包含大量材料庫(kù)(超過500材料),,新材料可以很容易的添加,,支持多重算法:Cauchy, Tauc-Lorentz, Cody-Lorentz, EMA等。
大部分透光或弱吸收的薄膜均可以快速且穩(wěn)定的被測(cè)量,。比如:氧化物,,氮化物,,光刻膠,高分子聚合物,,半導(dǎo)體(硅,,單晶硅,多晶硅),,半導(dǎo)體化合物(AlGaAs, InGaAs,,CdTe, CIGS),硬涂層(碳化硅,,類金剛石炭),,聚合物涂層(聚甲基丙烯酸甲酯,聚酰胺),。
測(cè)量范圍: 1 nm -800um
波長(zhǎng)范圍: 200 nm -1700 nm
光斑直徑:200um-4um
適用于實(shí)時(shí)在線測(cè)量,,多層測(cè)量,非均勻涂層, 軟件包含大量材料庫(kù)(超過500材料),,新材料可以很容易的添加,,支持多重算法:Cauchy, Tauc-Lorentz, Cody-Lorentz, EMA等。
測(cè)量指標(biāo):薄膜厚度,,光學(xué)常數(shù)
界面友好: 一鍵式測(cè)量和分析,。
實(shí)用的工具:曲線擬合和靈敏度分析,背景和變形校正,,連接層和材料,,多樣品測(cè)量,動(dòng)態(tài)測(cè)量和產(chǎn)線批量處理,。
測(cè)量100nm二氧化硅薄膜,,40um光斑直徑,波長(zhǎng)范圍:200-1000nm:
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