詳細介紹
F50薄膜厚度測量儀
自動化薄膜厚度繪圖系統
依靠F50的光譜測量系統,,可以很簡單快速地獲得直徑450毫米的樣品薄膜的厚度分布圖。采用r-θ極坐標移動平臺,,可以非??焖俚亩ㄎ凰铚y試的點并測試厚度,測試非??焖?,大約每秒能測試兩點。用戶可以自己繪制需要的點位地圖,。F50系統配置高精度使用壽命長的移動平臺,,確保能夠做成千上萬次測量。
系統中預設了許多極坐標形,、方形和線性的圖形模式,,也可以編 輯自己需要的測試點。只需掌握基本電腦技術便可在幾分鐘內建立自己需要的圖形模式,。
可測樣品膜層
基本上所有光滑的,。非金屬的薄膜都可以測量??蓽y樣品包括:
選擇Filmetrics的優(yōu)勢
• 桌面式薄膜厚度測量
• 24小時電話,,郵件和在線支持
• 所有系統皆使用直觀的標準分析軟件
附加特性
• 嵌入式在線診斷方式
• 免費離線分析軟件
• 精細的歷史數據功能,幫助用戶有效存儲,,重現與繪制測試結果