動態(tài)二次離子質(zhì)譜儀 參考價：面議
動態(tài)二次離子質(zhì)譜儀（D-SIMS）是使用一次離子束（通常是Cs源）轟擊樣品表面,，而產(chǎn)生二次離子,，然后用質(zhì)譜分析儀分析二次離子的質(zhì)荷比（m/q）,，從而得知元素在樣...
掃描俄歇納米探針 參考價：面議
PHI 710掃描俄歇納米探針是一臺設計*的高性能的俄歇電子能譜（AES）儀器。該設備能分析納米級特征區(qū)域,，超薄薄膜和多層結(jié)構(gòu)材料表界面的元素態(tài)和化學態(tài)信息,。作...
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