金屬薄片低阻雙電四探針測試儀，是目前同行業(yè)中能測量到的Z小值,，采用高精度AD芯片控制,，恒流輸出，結(jié)構(gòu)合理,、質(zhì)量輕便,，運輸安全、使用方便,；適用于生產(chǎn)企業(yè),、高等院校、科研部門,，是檢驗和分析導體材料和半導體材料質(zhì)量的一種重要的工具

FT-361超低阻雙電四探針測試儀

一,、概述：本品為解決四探針法測試超低阻材料方阻及電阻率,，zui小可以測試到1uΩ方阻值，是目前同行業(yè)中能測量到的zui小值,，采用高精度AD芯片控制，恒流輸出,，結(jié)構(gòu)合理,、質(zhì)量輕便，運輸安全,、使用方便,；適用于生產(chǎn)企業(yè)、高等院校,、科研部門,，是檢驗和分析導體材料和半導體材料質(zhì)量的一種重要的工具。本儀器配置各類測量裝置可以測試不同材料,。

液晶顯示,，無需人工計算，并帶有溫度補償功能,，電阻率單位自動選擇,，儀器自動測量并根據(jù)測試結(jié)果自動轉(zhuǎn)換量程，無需人工多次和重復設(shè)置,。選配：配備軟件可以由電腦操控,，并保存和打印數(shù)據(jù)，自動生成報表,；

雙電測數(shù)字式四探針測試儀是運用直線或方形四探針雙位測量,。該儀器設(shè)計符合單晶硅物理測試方法標準并參考美國 A.S.T.M 標準。利用電流探針,、電壓探針的變換,，進行兩次電測量，對數(shù)據(jù)進行雙電測分析,，自動消除樣品幾何尺寸,、邊界效應以及探針不等距和機械游移等因素對測量結(jié)果的影響，它與單電測直線或方形四探針相比,，大大提高度,，特別是適用于斜置式四探針對于微區(qū)的測試。

選購：本機還可以配合各類環(huán)境溫度試驗箱體使用,，通過不同的測量治具滿足不同環(huán)境溫度下測量方阻和電阻率的需求.

二,、金屬薄片低阻雙電四探針測試儀廣泛用于：覆蓋膜;導電高分子膜，高,、低溫電熱膜;隔熱,、防輻射導電窗膜 導電(屏蔽)布,、裝飾膜、裝飾紙;金屬化標簽,、合金類箔膜;熔煉,、燒結(jié)、濺射,、涂覆,、涂布層，電阻式,、電容式觸屏薄膜;電極涂料,，其他半導體材料、

薄膜材料方阻測試硅晶塊,、晶片電阻率及擴散層,、外延層、ITO導電箔膜,、導電橡膠等材料方塊電阻  半導體材料/晶圓,、太陽能電池、電子元器件,，導電薄膜（ITO導電膜玻璃等）,，金屬膜，導電漆膜,，蒸發(fā)鋁膜,，PCB銅箔膜，EMI涂層等物質(zhì)的薄層電阻與電阻率  導電性油漆,，導電性糊狀物,，導電性塑料，導電性橡膠,，導電性薄膜,，金屬薄膜，抗靜電材料,， EMI 防護材料,，導電性纖維，導電性陶瓷等

三,、低阻雙電四探針測試儀參數(shù)資料

1.方塊電阻范圍：10^-6～2×10²Ω/□

2.電阻率范圍：10^-7～2×10³Ω-cm

3.測試電流范圍：0.1μA ,，1μA，10μA,，100µA.

4.電流精度：±0.1%讀數(shù)

5.電阻精度：≤0.3%

6.顯示讀數(shù)：液晶顯示：電阻,、電阻率、方阻,、溫度,、單位換算,、溫度系數(shù)、電流,、電壓,、探針形狀、探針間距,、厚度 ,、電導率.

7.測試方式: 雙電測量

8.工作電源: 輸入: AC 220V±10% ,50Hz  功 耗：<30W

9.整機不確定性誤差: ≤4%（標準樣片結(jié)果）

10.選購功能: 選購1.pc軟件； 2.方形探頭,； 3.直線形探頭； 4.測試平臺

11.測試探頭：  探針間距選購：1mm,；2mm,；3mm三種規(guī)格; 探針材質(zhì)選購：碳化鎢針;白鋼針；鍍金磷銅半球形針