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FT-335四探針電阻率測試儀按照硅片電阻率測量的標準（ASTM F84）及標準設計制造該儀器設計,，符合GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測定方法》,、...

多功能四探針/四點探針測試儀 很流源輸出，可同時顯示電阻,、電阻率,、方阻、溫度,、單位換算,、溫度系數、電流,、電壓,、探針形狀、探針間距,、厚度 ,、電導率；人體工程學設計...

金屬薄片低阻雙電四探針測試儀,，是目前同行業(yè)中能測量到的Z小值,，采用高精度AD芯片控制，恒流輸出,，結構合理,、質量輕便，運輸安全,、使用方便,；適用于生產企業(yè)、高等院校...

高溫四探針測試儀現貨,，采用由四探針雙電測量方法測試方阻和電阻率系統(tǒng)與高溫試驗箱結合配置的高溫測試探針治具,，滿足半導體材料因溫度變化對電阻值變化的測量要求，通過良...

高溫四探針電阻測試儀,，該儀器設計符合單晶硅物理測試方法標準并參考美國 A.S.T.M 標準,。利用電流探針、電壓探針的變換,，進行兩次電測量,，對數據進行雙電測分析,，...

金屬薄膜四探針電阻率測試儀可以測量片狀、塊狀半導體材料的電阻率,，擴散層的薄層電阻（亦稱方塊電阻）。也可測柔性導電薄膜和玻璃等硬基底上導電膜的方塊電阻（簡稱方阻）...