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FT-335四探針電阻率測試儀按照硅片電阻率測量的標(biāo)準(zhǔn)（ASTM F84）及標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)制造該儀器設(shè)計(jì)，符合GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測定方法》,、...

多功能四探針/四點(diǎn)探針測試儀 很流源輸出,，可同時(shí)顯示電阻、電阻率,、方阻,、溫度、單位換算,、溫度系數(shù),、電流、電壓,、探針形狀,、探針間距、厚度 ,、電導(dǎo)率,；人體工程學(xué)設(shè)計(jì)...

金屬薄片低阻雙電四探針測試儀，是目前同行業(yè)中能測量到的Z小值,，采用高精度AD芯片控制,，恒流輸出，結(jié)構(gòu)合理,、質(zhì)量輕便,，運(yùn)輸安全,、使用方便；適用于生產(chǎn)企業(yè),、高等院校...

高溫四探針測試儀現(xiàn)貨,，采用由四探針雙電測量方法測試方阻和電阻率系統(tǒng)與高溫試驗(yàn)箱結(jié)合配置的高溫測試探針治具，滿足半導(dǎo)體材料因溫度變化對(duì)電阻值變化的測量要求,，通過良...

高溫四探針電阻測試儀,，該儀器設(shè)計(jì)符合單晶硅物理測試方法標(biāo)準(zhǔn)并參考美國 A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)。利用電流探針,、電壓探針的變換,，進(jìn)行兩次電測量，對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行雙電測分析,，...

金屬薄膜四探針電阻率測試儀可以測量片狀,、塊狀半導(dǎo)體材料的電阻率，擴(kuò)散層的薄層電阻（亦稱方塊電阻）,。也可測柔性導(dǎo)電薄膜和玻璃等硬基底上導(dǎo)電膜的方塊電阻（簡稱方阻）...