FT-335四探針電阻率測試儀參數(shù)資料：

1.方塊電阻范圍：10-2～2×105Ω/□,。

2.電阻率范圍：10-3～2×106Ω-cm,。

3.測試電流范圍：0.1μA,，1μA,，10μA，100µA,，1mA,，10mA，100 mA,。

4.電流精度：±0.3%讀數(shù),。

5.電阻精度：≤0.5%。

6.顯示讀數(shù)：液晶顯示：電阻,、電阻率,、方阻、溫度,、單位換算,、溫度系數(shù)、電流,、電壓,、探針形狀、探針間距,、厚度 ,、電導率。

7.測試方式: 普通單電測量,。

8.工作電源: 輸入: AC 220V±10% ,50Hz  功耗：<30W,。

9.整機不確定性誤差: ≤4%（標準樣片結(jié)果）。

10.選購功能: 選購1.pc軟件,； 選購2.方形探頭,； 選購3.直線形探頭； 選購4.測試平臺,。

11.測試探頭：   探針間距選購：1mm,；2mm；3mm三種規(guī)格; 探針材質(zhì)選購：碳化鎢針;白鋼針,；鍍金磷銅半球形針,。

FT-335四探針電阻率測試儀按照硅片電阻率測量的標準（ASTM F84）及標準設(shè)計制造該儀器設(shè)計符合GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測定方法》、GB/T 1551-1995《硅,、鍺單晶電阻率測定直流兩探針法》,、

GB/T 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流四探針法》并參考美國 A.S.T.M 標準,，本機配置232電腦接口及USB兩種接口,，本機結(jié)合采用范德堡測量原理能改善樣品因幾何尺寸,、邊界效應、探針不等距和機械游移等外部因素對測量結(jié)果的影響及誤差,，比市場上其他普通的四探針測試方法更加完善和進步,特別是方塊電阻值較小的產(chǎn)品測量,，準確。

本儀器本儀器采用四探針單電測量法適用于生產(chǎn)企業(yè),、高等院校,、科研部門，是檢驗和分析導體材料和半導體材料質(zhì)量的一種重要的工具,。

本儀器配置各類測量裝置可以測試不同材料,。

液晶顯示，無需人工計算,，并帶有溫度補償功能,，電阻率單位自動選擇，儀器自動測量并根據(jù)測試結(jié)果自動轉(zhuǎn)換量程,，無需人工多次和重復設(shè)置,。

采用高精度AD芯片控制，恒流輸出,，結(jié)構(gòu)合理,、質(zhì)量輕便，運輸安全,、使用方便,；選配：配備軟件可以由電腦操控，并保存和打印數(shù)據(jù),，自動生成報表,；本儀器采用4.3吋大液晶屏幕顯示，同時顯示液晶顯示：電阻,、電阻率,、方阻、溫度,、單位換算,、溫度系數(shù)、電流,、電壓,、探針形狀、探針間距,、厚度 ,、電導率，配置不同的測試治具可以滿足不同材料的測試要求。測試治具可以根據(jù)產(chǎn)品及測試項目要求選購,。

廣泛用于：覆蓋膜;導電高分子膜,，高、低溫電熱膜;隔熱,、防輻射導電窗膜 導電(屏蔽)布,、裝飾膜、裝飾紙;金屬化標簽,、

合金類箔膜;熔煉、燒結(jié),、濺射,、涂覆、涂布層,，電阻式,、電容式觸屏薄膜;電極涂料，其他半導體材料,、薄膜材料方阻測試,、硅晶塊、晶片電阻率及擴散層,、外延層,、ITO導電箔膜、導電橡膠等材料方塊電阻  半導體材料/晶圓,、太陽能電池,、電子元器件，導電薄膜（ITO導電膜玻璃等）,，金屬膜,，導電漆膜，蒸發(fā)鋁膜,，PCB銅箔膜,，EMI涂層等物質(zhì)的薄層電阻與電阻率  導電性油漆，導電性糊狀物,，導電性塑料,，導電性橡膠，導電性薄膜,，金屬薄膜,，抗靜電材料，EMI 防護材料,，導電性纖維,，導電性陶瓷等。