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粉體流動(dòng)性測(cè)試儀主機(jī) 通過(guò)測(cè)試休止角（安息角）,、定質(zhì)量流速、定體積流速,、表觀密度、松裝比、體積密度,、堆積密度及松散密度等數(shù)據(jù)來(lái)評(píng)定粉末流動(dòng)能力；采用多規(guī)格可更換...

智能型方阻測(cè)試儀大顯示屏,，直觀度數(shù),，穩(wěn)定性好，可以外接其他控制單元,，與其他系統(tǒng)集成使用,。適用于覆蓋膜;導(dǎo)電高分子膜，高,、低溫電熱膜;隔熱,、防輻射導(dǎo)電窗膜；導(dǎo)電（...

導(dǎo)電布方塊電阻測(cè)試儀,，參照標(biāo)準(zhǔn)GB/T1551-2009《硅單晶電阻率測(cè)定方法》.GB/T1551-1995《硅,、鍺單晶電阻率測(cè)定直流兩探針?lè)ā?GB/T155...

高溫雙電測(cè)四探針?lè)阶铚y(cè)試儀使用說(shuō)明，采用四探針雙電組合測(cè)量方法測(cè)試方阻和電阻率系統(tǒng)與高溫箱結(jié)合配置高溫四探針測(cè)試探針治具與PC軟件對(duì)數(shù)據(jù)的處理和測(cè)量控制,，解決半...

合金粉安息角測(cè)定儀測(cè)定方法,，將足夠滿溢料盤的粉塵從漏斗口注入到水平料盤上；測(cè)量粉塵堆積斜面與底部水平面所夾銳角,，即粉塵安息角,。

接觸壓降測(cè)試儀 廣泛用于測(cè)量開關(guān)觸點(diǎn)、繼電器,、汽車開關(guān),、汽車線束、壓接線端子,、連接器,、不可重接插頭插銷與連接插頭引出線等類似接線口的電壓降等相關(guān)產(chǎn)品之接觸電壓降...

粉末和顆粒休止角測(cè)試儀使用方法，用休止角評(píng)價(jià)粉體的流動(dòng)性能,，只能表示流動(dòng)性的好壞,，或者用于比較同種粉體因水分和粒度等引起的流動(dòng)性差別。休止角常用的方法是固定圓錐...

FT-102D粉體綜合特性測(cè)試儀使用Hausner Ratio豪斯納比和壓縮性指數(shù)來(lái)評(píng)定粉體的流動(dòng)性,，還可以通過(guò)休止角或者安息角數(shù)據(jù),，定質(zhì)量法和定體積法獲得粉體...

鋰電池壓實(shí)密度測(cè)定儀操作配置清單,粉末壓實(shí)密度儀鋰離子動(dòng)力電池在制作過(guò)程中.在外力的壓縮過(guò)程中,，隨著粉末的移動(dòng)和變形，較大的空隙被填充,，顆粒間接觸面積,，使原子間...

維生素粉體流動(dòng)性和密度測(cè)量?jī)x，在實(shí)際生產(chǎn)科研中,，粒子間的粘著力,、摩擦力、范德華力,、靜電力等作用阻礙粒子的自由流動(dòng),，影響粉體的流動(dòng)性，粉體難以自然流動(dòng)常常伴隨著,，...

化工助劑粉體流速測(cè)試儀檢測(cè)方法,，本機(jī)采用固定的接料筒配置不同出口孔徑之漏斗來(lái)解決不同粉體因粉體本身物性而流動(dòng)性差，無(wú)法流動(dòng)現(xiàn)象

谷物粉末流動(dòng)性測(cè)試儀樣品檢測(cè),， 粉體的流動(dòng)性測(cè)量在粉體工程設(shè)計(jì)中應(yīng)用范圍很廣,，粉體的流動(dòng)性對(duì)其生產(chǎn)、輸送,、儲(chǔ)存、裝填以及工業(yè)中的粉末冶金,、醫(yī)藥中不同組分的混合,、...

雙電四探針?lè)阶铚y(cè)試儀分析方法，適用于生產(chǎn)企業(yè),、高等院校,、科研部門，是檢驗(yàn)和分析導(dǎo)體材料和半導(dǎo)體材料質(zhì)量的一種重要的工具,。本儀器配置各類測(cè)量裝置可以測(cè)試不同材料四...

硅片四探針電導(dǎo)率測(cè)試儀操作方法,，參照標(biāo)準(zhǔn)：硅片電阻率測(cè)量的標(biāo)準(zhǔn)（ASTMF84）.GB/T1551-2009《硅單晶電阻率測(cè)定方法》.

導(dǎo)電性薄膜方阻測(cè)試儀測(cè)定方法，按標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)制造該儀器設(shè)計(jì)符合GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測(cè)定方法》,、GB/T 1551-1995《硅,、鍺單晶電阻率...

四探針?lè)綁K電阻測(cè)試儀怎么用，軟件可以由電腦操控,，并保存和打印數(shù)據(jù),，自動(dòng)生成報(bào)表；本儀器采用4.3吋大液晶屏幕顯示,，同時(shí)顯示液晶顯示：電阻,、電阻率、方阻,、溫度

涂層四探針電阻率測(cè)試儀現(xiàn)貨,，參照 GB/T 1552-1995《硅,、鍺單晶電阻率測(cè)定直流四探針?lè)ā凡⒖济绹?guó) A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)，本機(jī)配置232電腦接口及US...

ITO導(dǎo)電箔膜四探針?lè)阶铚y(cè)試儀操作步驟,， 改善樣品因幾何尺寸,、邊界效應(yīng)、探針不等距和機(jī)械游移等外部因素對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響及誤差,，比市場(chǎng)上其他普通的四探針測(cè)試方法更...

高溫電阻率測(cè)試系統(tǒng)數(shù)據(jù)管理,，高溫電阻率測(cè)試系統(tǒng) 生產(chǎn)企業(yè)、高等院校,、科研部門對(duì)導(dǎo)體材料在高溫下電阻率數(shù)據(jù)的測(cè)量,。用于：企業(yè)、高等院校,、科研部門對(duì)導(dǎo)電陶瓷,、硅、鍺...

高溫四探針電阻率測(cè)試儀樣品檢測(cè),， 采用高精度AD芯片控制,，恒流輸出，結(jié)構(gòu)合理,、質(zhì)量輕便,，運(yùn)輸安全、使用方便,；配備軟件可以由電腦操控,。用于：企業(yè)、高等院校,、科研部...