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電池防爆高低溫試驗(yàn)箱

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參考價(jià) 面議
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 型號(hào) ZK-GDFB-800L
  • 品牌 其他品牌
  • 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)商
  • 所在地 東莞市
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更新時(shí)間:2020-06-09 17:43:31瀏覽次數(shù):477

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產(chǎn)品簡介

產(chǎn)地類別 國產(chǎn) 價(jià)格區(qū)間 20萬-50萬
應(yīng)用領(lǐng)域 化工,生物產(chǎn)業(yè),能源,航空航天,汽車及零部件
東莞中科測試設(shè)備有限公司制造的電池防爆高低溫試驗(yàn)箱是依據(jù)標(biāo)準(zhǔn)GB8897.4-200(IEC60086-4:2000)《原電池第4部分:鋰電池的安全要求》,、GB8897.5-2006(IEC60086-5:2005)《原電池第5部分:水溶液電解質(zhì)電池的安全要求》、IEC61951-1:2003《含堿性或其它非酸性電解質(zhì)的便攜式密封可再充電電池和電池組第1部分:鎳鎘電池》等特性要求進(jìn)行設(shè)計(jì),、研發(fā),。

詳細(xì)介紹

電池防爆高低溫試驗(yàn)箱用途介紹

防爆高低溫試驗(yàn)箱依據(jù)標(biāo)準(zhǔn)GB8897.4-200(IEC60086-4:2000)《原電池第4部分:鋰電池的安全要求》、GB8897.5-2006(IEC60086-5:2005)《原電池第5部分:水溶液電解質(zhì)電池的安全要求》,、IEC61951-1:2003《含堿性或其它非酸性電解質(zhì)的便攜式密封可再充電電池和電池組第1部分:鎳鎘電池》,、IEC61951-2:2003《含堿性或其它非酸性電解質(zhì)的便攜式密封可再充電電池和電池組第2部分:鎳金屬氫化物》、IEC 61960:2003《堿性或其它非酸性電解液二次單體電池和電池組便攜式二次鋰單體電池和電池組》,、UL 1642:2006《鋰蓄電池組》進(jìn)行熱濫用,。主要適用于汽配廠、電池廠,、新能源動(dòng)力公司,、軍工單位、高校院所等企事業(yè)研發(fā)機(jī)構(gòu)單位,對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行耐高溫,、耐低溫,、高低溫交變、冷熱循環(huán),、高低溫恒定等氣候環(huán)境條件下貯存和使用的適應(yīng)性試驗(yàn)或?qū)嶒?yàn),。

 

電池防爆高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)參數(shù)

1. 溫度范圍:-20℃~+150℃;-40℃~+150℃,;-60℃~+150℃,;-70℃~+150℃。

2. 濕度范圍:20%~98%R.H.(可選5%~98%R.H或10%~98%R.H)

3. 內(nèi)箱承受壓力:0.4Mpa(4kg),。

4. 防爆箱泄壓能力:4kg/min,。

5. 泄壓口:Φ10cm。

6. 溫度波動(dòng)度: ±0.5℃,。

7. 溫度均勻度: ±2.0℃,。

8. 濕度波動(dòng)度:±1.5%R.H.。

9. 濕度均勻度:±2.0%R.H.,。

10.溫度升溫速率:平均1.0℃~3.0℃/min,。

11.溫度降溫速率:平均0.7℃~1.0℃/min。

12.低溫極限: -70℃,。

13.高溫極限: +150℃,。

14.升溫時(shí)間:-20 -->+150℃≤60min ;-40 -->+150℃≤70min,;-70 -->+150℃≤80min,。

15.降溫時(shí)間:+20 -->-20℃≤40min;+20 -->-40℃≤60min,;+20 -->-70℃≤80min,。

 

防爆高低溫試驗(yàn)箱測試滿足標(biāo)準(zhǔn)

1. 防爆等級(jí):Exd Ⅱ BT4。

2. GJBl50.3(MIL-STD-810D) 高溫試驗(yàn)方法,。

3. GJBl50.4(MIL-STD-810D) 低溫試驗(yàn)方法。

4. GB/T10586-1989溫濕試驗(yàn)箱技術(shù)條件,。

5. GJB150.9-8溫濕試驗(yàn),。

6. B2423.34-86、MIL-STD883C方法1004.2溫濕度組合回圈試驗(yàn),。

7. GJB/150A-2009.實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法第1部分,。

8. GJB 150.3A-2009 軍用裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法 第3部分:高溫試驗(yàn)。

9. GJB 150.4A-2009 軍用裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法 第4部分:低溫試驗(yàn),。

10.GB/T 10592 -2008高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件,。

11.GB/T2423.4-93(MIL-STD810)方法507.2程序。

12.GB/ T 2421-1991《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 總則》。

13.GB/T 5170.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 總則,。

14.GB/2423.34-86.MIL-STD883(方法1004.2)高低溫組合循環(huán)試驗(yàn),。

15.GB/T 2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)A:低溫。

16.GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)B:高溫,。

17.GB/T2423.1~2《電工電子產(chǎn)品的基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn),。A:低溫試驗(yàn)方法、試驗(yàn)B:高溫試驗(yàn)方法》,。

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