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國(guó)產(chǎn)高低溫防爆試驗(yàn)箱

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  • 國(guó)產(chǎn)高低溫防爆試驗(yàn)箱
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參考價(jià) 面議
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 型號(hào) ZK-GDFB-225L
  • 品牌 其他品牌
  • 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)商
  • 所在地 東莞市
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更新時(shí)間:2020-04-10 14:11:21瀏覽次數(shù):1823

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產(chǎn)品簡(jiǎn)介

產(chǎn)地類別 國(guó)產(chǎn) 價(jià)格區(qū)間 20萬-50萬
應(yīng)用領(lǐng)域 醫(yī)療衛(wèi)生,化工,電子/電池,公安/司法,電氣
國(guó)產(chǎn)高低溫防爆試驗(yàn)箱具備對(duì)產(chǎn)品做耐高溫、耐低溫,、高低溫交變,、冷熱循環(huán)、高低溫恒定等各種氣候環(huán)境條件下貯存和使用的適應(yīng)性試驗(yàn)或?qū)嶒?yàn),。

詳細(xì)介紹

國(guó)產(chǎn)高低溫防爆試驗(yàn)箱用途介紹

適用于汽配廠,、電池廠、新能源動(dòng)力公司,、軍工單位,、高校院所等企事業(yè)研發(fā)機(jī)構(gòu)單位。測(cè)試鎳鎘電池,、鎳氫電池,、鋰離子電池、鉛蓄電池,、鋰電池,、動(dòng)力電池、電池組模塊,、特種材料,、兵器戰(zhàn)斗部、密閉特種器具,、易燃易爆等產(chǎn)品做耐高溫,、耐低溫、高低溫交變,、冷熱循環(huán),、高低溫恒定等各種氣候環(huán)境條件下貯存和使用的適應(yīng)性試驗(yàn)或?qū)嶒?yàn)。

 

國(guó)產(chǎn)高低溫防爆試驗(yàn)箱技術(shù)參數(shù)

1. 溫度范圍: -20℃~+150℃,;-40℃~+150℃,;-70℃~+150℃。

2. 濕度范圍:20%~98%R.H.(可定制:5%~98%R.H.或10%~98%R.H.),。

3. 內(nèi)箱承受壓力:0.4Mpa(4kg),。

4. 防爆箱泄壓能力:4kg/min。

5. 泄壓口:Φ10cm,。

6. 低溫極限: -70℃,。

7. 高溫極限: +150℃。

8. 溫度均勻度: ±2.0℃,。

9. 溫度波動(dòng)度: ±0.5℃

10.濕度波動(dòng)度:±1.5%R.H.,。

11.濕度均勻度:±2.0%R.H.。

12.溫度升溫速率:1.0℃~3.0℃/min,。

13.溫度降溫速率:0.7℃~1.0℃/min,。

14.升溫時(shí)間:-20 -->+150℃≤60min ,;-40 -->+150℃≤70min;-70 -->+150℃≤80min,。

15.降溫時(shí)間:+20 -->-20℃≤40min,;+20 -->-40℃≤60min;+20 -->-70℃≤80min,。

 

設(shè)備試驗(yàn)滿足標(biāo)準(zhǔn)

1.防爆等級(jí):Exd Ⅱ BT4,。

2.GJB150.9-8溫濕試驗(yàn)。

3.GB/T10586-1989溫濕試驗(yàn)箱技術(shù)條件,。

4.GJBl50.4(MIL-STD-810D) 低溫試驗(yàn)方法,。

5.GJBl50.3(MIL-STD-810D) 高溫試驗(yàn)方法。

6.GB/T 10592 -2008高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件,。

7.GJB/150A-2009.實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法第1部分。

8.GB/T2423.4-93(MIL-STD810)方法507.2程序,。

9.GB/ T 2421-1991《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 總則》,。

10.B2423.34-86、MIL-STD883C方法1004.2溫濕度組合回圈試驗(yàn),。

11.GB/T 5170.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 總則,。

12.GB/2423.34-86.MIL-STD883(方法1004.2)高低溫組合循環(huán)試驗(yàn)。

13.GJB 150.3A-2009 軍用裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法 第3部分:高溫試驗(yàn),。

14.GJB 150.4A-2009 軍用裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法 第4部分:低溫試驗(yàn),。

15.GB/T 2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)A:低溫。

16.GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)B:高溫,。

17.GB/T2423.1~2《電工電子產(chǎn)品的基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn),。A:低溫試驗(yàn)方法、試驗(yàn)B:高溫試驗(yàn)方法》,。

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