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空氣顆粒物(PM)濾膜檢測(cè)--- X射線駐波(XSW)及全反射X射線熒光(TXRF)法
檢測(cè)樣品:空氣顆粒物(PM)濾膜
檢測(cè)項(xiàng)目:元素含量
方案概述:此項(xiàng)工作是對(duì)此前介紹的空氣顆粒物(PM)濾膜檢測(cè)方法的改進(jìn)[1]。用一種新型專用實(shí)驗(yàn)室儀器實(shí)現(xiàn)空氣顆粒物(PM)濾膜的X射線駐波(XSW)及全反射X射線熒光(TXRF)檢測(cè)。同時(shí)進(jìn)行XSW和TXRF檢測(cè)的主要優(yōu)點(diǎn)是可以區(qū)分樣品的性質(zhì):小液滴干燥殘留物,、薄膜樣品或大塊樣品;另一方面,它選擇合適的全反射角進(jìn)行TXRF測(cè)量,。
近年來,,流行病學(xué)研究表明,暴露在富含顆粒物(PM)的空氣環(huán)境中會(huì)對(duì)健康產(chǎn)生不利影響[2],。這些研究表明,,為了了解它對(duì)人類健康的影響,不僅需要了解這些顆粒物的來源,、傳輸媒介,,而且還必須研究它們的化學(xué)組成及物理性質(zhì)。在多數(shù)情況下,,氣溶膠分析只提供質(zhì)量濃度信息及粒徑的可能分布,。然而,這些PM污染物的主要指標(biāo)(PM2.5和PM10的質(zhì)量濃度)本質(zhì)上是不完善的PM毒性檢測(cè)方法,,識(shí)別PM中有毒的成分及其對(duì)健康的影響,,將為更具針對(duì)性的濃度限值和有效的控制策略提供依據(jù)。因此,,化學(xué)組成檢測(cè)是確定PM有毒成分及流行病學(xué)研究的基礎(chǔ)[3],。
此外,相關(guān)研究表明,,獲得顆粒物中相關(guān)元素的化學(xué)狀態(tài)信息也有著很重要的作用[4],。
空氣顆粒物(PM)通常由濾膜收集[5]。傳統(tǒng)的光譜分析技術(shù)(如:電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀ICP-OES[6]和原子吸收光譜AAS[7])用于濾膜分析時(shí)有著許多缺點(diǎn),。如:必須使用酸等試劑進(jìn)行消解,;存在試劑雜質(zhì)污染的問題,揮發(fā)性元素的損失,,并可能出現(xiàn)稀釋后濃度低于檢出限的情況,。此外,,樣品消解過程非常費(fèi)時(shí)費(fèi)力。
直接分析方法的使用避免了上述問題,。濾膜直接上機(jī)分析,,如X射線熒光(XRF)或中子活化分析(INAA)[8]。其中,,XRF被認(rèn)為是一種非常有效的空氣顆粒物(PM)元素分析技術(shù)[9],。其是一種非破壞性分析技術(shù),樣品可以留存,。然而,,XRF分析仍有一些問題:一些元素的靈敏度較低,如果沒有適當(dāng)?shù)男?zhǔn)方法和對(duì)照標(biāo)準(zhǔn)品,,則很難對(duì)濾膜樣品進(jìn)行定量檢測(cè),。
全反射X射線熒光 (TXRF)[10]的原理是,當(dāng)一束X射線以小于全反射臨界角的角度照射樣品載片上的薄膜樣品時(shí),,該輻射被反射,。因此,基體效應(yīng)可以忽略不計(jì),,TXRF可以檢測(cè)極少量樣品中的目標(biāo)元素[11]以及極低含量檢測(cè),。
一般來說,在小掠入角下的激發(fā)方法,,如X射線反射[12]和掠入射X射線衍射[13]被稱為掠入射X射線光譜法,。TXRF屬于這一類,從激發(fā)的角度來看,,它是一種靜態(tài)方法,。掠入射角的小步距連續(xù)變化使TXRF響應(yīng)值上升到一個(gè)新的維度。在步進(jìn)掃描過程中收集的熒光輻射也可以繪制成X射線駐波圖[14],。從每個(gè)光譜圖中提取出目標(biāo)元素峰強(qiáng)度,,并根據(jù)相應(yīng)的入射角繪制出強(qiáng)度分布圖。
TXRF儀器所用的可變光束允許根據(jù)實(shí)際情況對(duì)信號(hào)強(qiáng)度值進(jìn)行測(cè)定,,并評(píng)估樣品制備方法,,而不僅僅是靠經(jīng)驗(yàn)去確定。事實(shí)上,,通過XSW分析,,可以區(qū)分樣品的性質(zhì):即是小液滴干燥殘留物、薄膜樣品或大塊樣品[15],。對(duì)于小液滴干燥殘留物,,XSW所得熒光強(qiáng)度在載片臨界角以下(發(fā)生全反射)幾乎是恒定的。但在臨界角之后,它會(huì)降低至一半,。對(duì)于載片表面非常薄的薄膜或單層樣品(如空氣濾膜)來說,,當(dāng)入射角度為0°時(shí),熒光強(qiáng)度為0,。增大角度至剛好小于臨界角時(shí),,強(qiáng)度增至四倍,大于臨界角后熒光強(qiáng)度大幅下降,。對(duì)于大塊樣品,,例如沒有沉積分析物的空白載片來說,臨界角以下時(shí)的背景值很低,,大于臨界角時(shí),,入射深度增大,背景熒光強(qiáng)度不斷增加[15],。
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