產品簡介：
         NanoMap-D 是一款集白光干涉非接觸測量法和大范圍SPM探針掃描接觸式測量法于一體的雙模式三維表面輪廓儀，測量方式可以根據測量需要靈活切換
    在強大的分析軟件和*的傳感器下,，NanoMap-D的應用領域覆蓋了薄膜/涂層,、光學、工業(yè)軋鋼和鋁,、紙,、聚合物、生物材料,、陶瓷,、磁介質和半導體等幾乎所有的材料領域。
產品特性：                                                                               產品應用：   
        平臺：                                                                                        薄膜厚度測量
        一個平臺融合兩種技術（接觸和非接觸）                             臺階高度測量
        計算機可控5個方向的精密電控工作臺                                   表面粗糙度測量                              
        使用方便 - 關鍵2步操作                                                           二維薄膜應力測量
        超高分辨率數字成像傳感器傳輸數據快                                 平坦度或曲率測量
        非接觸光學輪廓儀探頭：                                                      表面輪廓（缺陷,、形貌等）呈現(xiàn)
        成像質量在200萬像素之上                                                       劃痕形貌,，磨損深度、寬度和體積定量測量
        0.001nm的分辨率                                                                                       
        nm到10mm的Z軸范圍
        XY掃描范圍達到150x150mm
        測量速度快 -
        大于20年的LED光源壽命
        接觸式輪廓儀探頭：
        可生成二維和三維圖像
        nm到500um的Z軸范圍
        XY掃描范圍達到150x150mm（針尖掃描和樣品臺掃描）