數(shù)顯磁性測厚儀應(yīng)用：
▲激光測厚儀是利用激光的反射原理，根據(jù)光切法測量和觀察機械制造中零件加工表面的微觀幾何形狀來測量產(chǎn)品的厚度,，是一種非接觸式的動態(tài)測量儀器,。它可直接輸出數(shù)字信號與工業(yè)計算機相連接，并迅速處理數(shù)據(jù)并輸出偏差值到各種工業(yè)設(shè)備,。

▲X射線測厚儀利用X射線穿透被測材料時,，X射線的強度的變化與材料的厚度相關(guān)的特性，從而測定材料的厚度,，是一種非接觸式的動態(tài)計量儀器,。它以PLC和工業(yè)計算機為核心，采集計算數(shù)據(jù)并輸出目標(biāo)偏差值給軋機厚度控制系統(tǒng),，達(dá)到要求的軋制厚度,。主要應(yīng)用行業(yè)：有色金屬的板帶箔加工、冶金行業(yè)的板帶加工.
紙張測厚儀：適用于4mm以下的各種薄膜,、紙張,、紙板以及其他片狀材料厚度的測量。

▲薄膜測厚儀：用于測定薄膜,、薄片等材料的厚度,，測量范圍寬、測量精度高,，具有數(shù)據(jù)輸出,、任意位置置零、公英制轉(zhuǎn)換,、自動斷電等特點,。

▲涂層測厚儀：用于測量鐵及非鐵金屬基體上涂層的厚度。

▲超聲波測厚儀：超聲波測厚儀是根據(jù)超聲波脈沖反射原理來進(jìn)行厚度測量的,，當(dāng)探頭發(fā)射的超聲波脈沖通過被測物體到達(dá)材料分界面時,，脈沖被反射回探頭，通過測量超聲波在材料中傳播的時間來確定被測材料的厚度,。凡能使超聲波以一恒定速度在其內(nèi)部傳播的各種材料均可采用此原理測量,。

數(shù)顯磁性測厚儀原理分類：
測厚儀按照測量的方式不同，可大致分為：
1,、接觸式測厚儀
接觸面積大小劃分：
▲點接觸式測厚儀
▲面接觸時測厚儀

2,、非接觸式測厚儀
非接觸式測厚儀根據(jù)其測試原理不同，又可分為以下幾種：
▲激光測厚儀
▲超聲波測厚儀
▲涂層測厚儀
▲X射線測厚儀
▲白光干涉測厚儀
▲電解式測厚儀

數(shù)顯磁性測厚儀用途：
該測厚儀測定磁性材料表面上非磁性涂鍍層的厚度。于鐵磁性材料表面上非磁性涂鍍層厚度的測定,。

數(shù)顯磁性測厚儀參數(shù)：
▲測量范圍： O-200μm,。
▲執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)： GB/T1764-89 、GB/T13452.2-92 ,、ISO2808-74,。
▲測量精度：±（ 0.7μm 3%H ）*H為標(biāo)準(zhǔn)厚度。

漆膜測厚儀檢校：
◆校驗條件
1,、溫度20±5℃,，相對濕度50%-80%。
2,、標(biāo)準(zhǔn)箔片47.8μm±1%,、98.6μm±1%、257.2μm±1%,、489μm±1%,、1002μm±1%厚。
◆校驗過程
1,、取以上各種厚度的校準(zhǔn)箔片在未涂層的基體上,，各測量5次，計算出測量平均值,。
2,、顯示值與標(biāo)準(zhǔn)箔片厚度值不符，用“Δ”和“▽”鍵改變顯示值直到顯示值與標(biāo)準(zhǔn)箔片厚度一致,。
3,、按CAL鍵，校正結(jié)束,。
◆判定示值誤差,，在±1%范圍內(nèi)為合格。
◆對校驗過程進(jìn)行記錄并將記錄填寫在《監(jiān)視和測量設(shè)備校驗記錄》上,。
◆對校驗合格的漆膜測量儀貼合格證標(biāo)簽,，不合格的則進(jìn)行修理、調(diào)試,，完后重新校驗,。
◆校驗周期為一年。

簡介：
該儀器測定油漆涂料干膜厚度,。試驗技術(shù)特征：通過涂覆前后的比較測量干膜厚度,。

參數(shù)：
◆千分表精度：1μm。
◆測量范圍：0-1000μm,。
◆執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)：ISO2808-74 GB/T134522-92 GB/T1764-79,。

注意事項：
測厚儀的測試方法主要有：磁性測厚法,，放射測厚法，電解測厚法,，渦流測厚法，超聲波測厚法,。
測量注意事項：
◆在進(jìn)行測試的時候要注意標(biāo)準(zhǔn)片集體的金屬磁性和表面粗糙度應(yīng)當(dāng)與試件相似,。
◆測量時側(cè)頭與試樣表面保持垂直。
◆測量時要注意基體金屬的臨界厚度,，如果大于這個厚度測量就不受基體金屬厚度的影響,。
◆測量時要注意試件的曲率對測量的影響。因此在彎曲的試件表面上測量時不可靠的,。
◆測量前要注意周圍其他的電器設(shè)備會不會產(chǎn)生磁場,，如果會將會干擾磁性測厚法。
◆測量時要注意不要在內(nèi)轉(zhuǎn)角處和靠近試件邊緣處測量,，因為一般的測厚儀試件表面形狀的忽然變化很敏感,。
◆在測量時要保持壓力的恒定，否則會影響測量的讀數(shù),。
◆在進(jìn)行測試的時候要注意儀器測頭和被測試件的要直接接觸,，因此超聲波測厚儀在進(jìn)行對側(cè)頭清除附著物質(zhì)。