產(chǎn)品簡介：
         NanoMap-O三維非接觸光學(xué)表面輪廓儀基于白光干涉測量技術(shù),，可快速精確測量材料表面參數(shù),，像表面粗糙度，劃痕形貌,，磨損深度,、寬度和體積，臺階高度,，薄膜厚度等,。所有測量都是非接觸,、非破壞的，而且無需制樣,，無需真空,，金屬非金屬均可，操作方便,、直觀,。
產(chǎn)品特性：                                                                                產(chǎn)品應(yīng)用：   
        非接觸測量                                                                                  薄膜厚度測量
        成像質(zhì)量在200萬像素之上                                                       臺階高度測量
        0.001nm的分辨率                                                                      表面粗糙度測量
        nm到50mm的Z軸范圍                                                              二維薄膜應(yīng)力測量
        XY掃描范圍達(dá)到150x150mm                                                   平坦度或曲率測量
       超高分辨率數(shù)字成像傳感器傳輸數(shù)據(jù)快                                    表面輪廓（缺陷、形貌等）呈現(xiàn)
       大于15年的LED光源壽命                                                           劃痕形貌,，磨損深度,、寬度和體積定量測量