高精度X熒光鍍層測厚儀精度0.001μm

深圳市天創(chuàng)美科技有限公司銷售產(chǎn)品包括X射線熒光光譜儀（含能量色散和波長色散型）（XRF）,、電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀（ICP）、原子熒光光譜儀（AFS）,、原子吸收分光光度計(jì)（AAS）,、光電直讀光譜儀（OES）、氣相色譜儀（GC）,、液相色譜儀（LC）等,。產(chǎn)品主要應(yīng)用領(lǐng)域有電子電器、五金塑膠,、珠寶首飾（貴金屬及鍍層檢測等）,、玩具安全（EN71-3等）,有害物質(zhì)(ROHS和鹵素)、建材（水泥,、玻璃,、陶瓷等）、合金（銅合金,、鋁合金,、鎂合金等）、冶金（鋼鐵,、稀土,、鉬精礦、其它黑色及有色金屬等）,、地質(zhì)采礦（各種礦石品位檢測設(shè)備）,、塑料（無鹵測試等）,、石油化工、嶺土,、煤炭,、食品、空氣,、水質(zhì),、土壤、,、商品檢驗(yàn),、質(zhì)量檢驗(yàn)、人體微量元素檢驗(yàn)等等,?？傊N售的儀器設(shè)備應(yīng)用于元素分析，化合物測試,，電鍍鍍層厚度檢測,。

以下是X熒光光譜儀測試電鍍鍍層的儀器簡介：

鍍層檢測：

常見金屬鍍層有：

單層厚度范圍：

金鍍層0－8um,

鉻鍍層0-15um,

其余一般為0-30um以內(nèi)，

可最小測量達(dá)0.001um。

多層厚度范圍:

Au/Ni/Cu : Au分析厚度:0-8um      Ni分析厚度:0-30um

Sn/Ni/Cu: Sn分析厚度:0-30um      Ni分析厚度:0-30um

Cr/Ni/Fe: Cr分析厚度0-15um       Ni分析厚度:0-30um

鍍層層數(shù)為1-6層

鍍層精度相對差值一般<5%,。

鍍層成分含量：Sn-Pb合金成分分析,；Zn-Ni合金成分分析,。

鍍層分析優(yōu)勢：分析PCB金手指最小尺寸可達(dá)0.2mm

單層分析精度,，以Ni舉例：（相對差值）

元素成分分析:

鍍液分析，目前常見鍍液元素分析有：金,、銀,、錫、銅,、鎳,、鉻、鋅,。

ROHS 和無鹵檢測,，高性能SDD探測器可以檢測無鹵,實(shí)現(xiàn)鍍層與環(huán)保一機(jī)多用。

金屬成分分析,，在檢測ROHS同時(shí)可檢測金屬中其他各元素成分含量,。

檢測精度：

Cr，Cd,，Hg,，Cu, Zn, Fe, Ni, Pb, Mn, W, Au, Ag, Sn等重金屬

檢測限達(dá)1ppm。

對這些金屬測試分析穩(wěn)定的讀取允許差值本儀器已達(dá)到下列標(biāo)準(zhǔn)：

A. 檢測含量大于5%的元素穩(wěn)定的測試讀取相對差值小于1%

B. 檢測含量在0.5～5%的元素穩(wěn)定的測試讀取相對差值小于2%

C. 檢測含量在0.1～0.5%的元素穩(wěn)定的測試讀取相對差值小于5%

D. 檢測含量低于0.1%的元素測試讀取相對差值變化率小于10%

測量精度:

1）精度(單層)：

                              測厚儀的檢測精度表

    測試方法: 在相同的操作條件下,，對同一標(biāo)準(zhǔn)樣板進(jìn)行5次檢測,，檢測到的平均數(shù)據(jù)與標(biāo)樣板的實(shí)際數(shù)據(jù)作比較。檢測精度為檢測平均值與標(biāo)準(zhǔn)樣片實(shí)際值之差（平均誤差）

2）兩層及以上：

  兩層及以上的首層精度符合單層的測試結(jié)果,，但是第二層以上比較復(fù)雜,，要根據(jù)上面一層的厚度來決定。在一層厚度小于2um時(shí)，一層和二層的測試精度基本符合單層的精度,，參照如下的測試報(bào)告 一層金標(biāo)樣厚度0.101um,，第二層鎳的標(biāo)樣厚度為4.52um。

   在 一層厚度在2～5um時(shí)會大大降低第二層的和第三層的測試精度,，第二層的誤差率會在5～10%,，第三層的誤差率小于15%。

重復(fù)性:

保證重復(fù)性值:≤±5%

    重復(fù)性的檢測應(yīng)在儀器校準(zhǔn)后: 在相同的操作條件下,使用相同的檢測樣板做連續(xù)重復(fù)檢測,，連續(xù)測量必須在同一檢測點(diǎn)位置使用一同樣片間隔60秒,測量一共進(jìn)行10次,每次測量值與10次平均值進(jìn)行對比,。

重復(fù)性=平均誤差÷平均值×100* %.

報(bào)告打印：

可以PDF,，Excel格式輸出報(bào)告，歷史數(shù)據(jù)查詢方便

安全使用,維護(hù)與保養(yǎng)

由于儀器非常精密,，未經(jīng)允許情況請不要打開儀器外殼,，不要對X射線源和探測器進(jìn)行改變，由用戶自身原因造成儀器損壞本公司將不負(fù)責(zé)任,。

儀器安裝一定要平穩(wěn),，儀器后面離墻距離不得小于30厘米，必須使用標(biāo)準(zhǔn)的220V交流電,，電壓不穩(wěn)情況要配備穩(wěn)壓電源,，插座必須接地良好，由用戶電源不合乎要求造成損失由用戶負(fù)責(zé),。

請不要用濕的手觸摸電源部分,，帶水的手也不要碰儀器外殼以免發(fā)生觸電。

進(jìn)行測量時(shí),，因?yàn)楦唠妷毫髦?/span>X射線源,，儀器運(yùn)行時(shí)，不要嘗試打開或觸摸蓋子,。由于高電壓源必須通過自動運(yùn)行或者遵循用戶指南中止,。

儀器環(huán)境要求：儀器使用環(huán)境需清潔，溫度適宜15℃~30℃,，濕度≤80%,電源：AC: 220V ±5V,。

以上細(xì)節(jié)均有可能造成無法預(yù)測后果，買方應(yīng)予以基本遵守,。

高精度X熒光鍍層測厚儀精度0.001μm