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化工儀器網(wǎng)>產(chǎn)品展廳>分析儀器>其它分析儀器>其它通用分析> 電鍍層厚度分析機(jī)器

電鍍層厚度分析機(jī)器

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訂貨量 ≥1
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    深圳市天創(chuàng)美科技有限公司銷售產(chǎn)品包括X射線熒光光譜儀(含能量色散和波長色散型)(XRF),、電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀(ICP)、電感耦合等離子體質(zhì)譜儀(ICP-MS) ,、原子熒光光譜儀(AFS),、原子吸收分光光度計(AAS),、光電直讀光譜儀(OES),、氣相色譜儀(GC)、氣相質(zhì)譜儀(GC-MS),、液相色譜儀(LC),、液相質(zhì)譜儀(LC-MS)、能譜儀(EDS),、高頻紅外碳硫分析儀(CS),、礦漿載流在線采樣儀(OSA)等。產(chǎn)品主要應(yīng)用領(lǐng)域有電子電器,、五金塑膠,、珠寶首飾(貴金屬及鍍層檢測等)、玩具安全(EN71-3等),F963中規(guī)定的有害物質(zhì):鉛Pb,、砷As,、銻Sb、鋇Ba,、鎘Cd,、鉻Cr、Hg,、硒Se以及氯等鹵族元素,、建材(水泥、玻璃,、陶瓷等),、合金(銅合金、鋁合金,、鎂合金等),、冶金(鋼鐵、稀土,、鉬精礦,、其它黑色及有色金屬等)、地質(zhì)采礦(各種礦石品位檢測設(shè)備),、塑料(無鹵測試等),、石油化工,、高嶺土、煤炭,、食品,、空氣、水質(zhì),、土壤,、環(huán)境保護(hù)、香精香料,、紡織品,、醫(yī)藥、商品檢驗,、質(zhì)量檢驗,、人體微量元素和化合物檢驗等等。銷售的儀器設(shè)備應(yīng)用于元素分析,,化合物測試,,電鍍鍍層厚度檢測等。






能量色散X熒光光譜儀,ROHS ROHS2.0 REACH指令檢測儀|化合物分析|元素分析儀|土壤檢測儀|ROHS檢測儀|合金檢測儀|元素分析儀|礦石檢測儀|含鉛量檢測儀

應(yīng)用領(lǐng)域 環(huán)保,化工,農(nóng)林牧漁,鋼鐵/金屬,綜合

電鍍層厚度分析機(jī)器

我公司銷售產(chǎn)品包括X射線熒光光譜儀(含能量色散和波長色散型)(XRF),、電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀(ICP),、電感耦合等離子體質(zhì)譜儀(ICP-MS) 、原子熒光光譜儀(AFS),、原子吸收分光光度計(AAS),、光電直讀光譜儀(OES)、氣相色譜儀(GC),、氣相質(zhì)譜儀(GC-MS),、液相色譜儀(LC)、液相質(zhì)譜儀(LC-MS),、能譜儀(EDS),、高頻紅外碳硫分析儀(CS)、礦漿載流在線采樣儀(OSA)等,。以下介紹經(jīng)常使用的電鍍膜厚檢測設(shè)備:

產(chǎn)品概述

產(chǎn)品類型: 能量色散X熒光光譜分析設(shè)備

產(chǎn)品名稱: 鍍層厚度分析儀

   號: iEDX-150T

產(chǎn) 商: 韓國ISP公司

產(chǎn)品優(yōu)勢及特征

(一)產(chǎn)品優(yōu)勢

1. 鍍層檢測,,檢測層數(shù)范圍1-5層;鍍層測量精度可達(dá)0.001μm,。

2. 全自動操作平臺,,平臺尺寸80X2*75X2*90(X*Y*Z);

3. 激光定位和自動多點測量功能,;

4. 檢測的樣品可以為固體,、液體或粉末;

5. 運(yùn)行及維護(hù)成本低、無易損易耗品,,對使用環(huán)境相對要求低,;

6. 可進(jìn)行未知標(biāo)樣掃描、無標(biāo)樣定性,、半定量分析,;

7. 操作簡單、精準(zhǔn)無損,、高品質(zhì),、高性能、高穩(wěn)定性,,快速檢測(5-40秒依配置而定),;

8. 頂級配置:SDD探測器、超長壽命X射線管,、SPELLMAN高壓電源,,儀器使用壽命長。

9. 超高分辨率:125±5電子伏特(電子伏特越低分辨率越高,,檢測越精準(zhǔn),這是能譜儀一個非常關(guān)鍵的技術(shù)指標(biāo)),;

10. 可針對客戶個性化要求量身定做輔助分析配置硬件,;

11. 軟件升級;

12. 無損檢測,,一次性購買標(biāo)樣可使用,;

13. 使用安心無憂,售后服務(wù)響應(yīng)時間24H以內(nèi),,提供保姆式服務(wù),;

14. 具有遠(yuǎn)程服務(wù)功能,在客戶請求的情況下,,可遠(yuǎn)程進(jìn)行儀器維護(hù),;

(二)產(chǎn)品特征

1. 高性能高精度X熒光光譜儀(XRF)

2. 計算機(jī) / MCA(多通道分析儀)

2048通道逐次近似計算法ADC(模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換器)

3. Multi Ray. 運(yùn)用基本參數(shù)法(FP)軟件,對樣品進(jìn)行精確的鍍層厚度分析,,可對鍍液進(jìn)行定量分析,。

MTFFP (多層薄膜基本參數(shù)法) 模塊進(jìn)行鍍層厚度及全元素分析

勵磁模式 50987.1 DIN / ISO 3497-A1

吸收模式 50987.1 DIN / ISO 3497-A2

線性模式進(jìn)行薄膜鍍層厚度測量

相對(比)模式  無焦點測量 DIN 50987.3.3/ ISO 3497

多鍍層厚度同時測量

單鍍層應(yīng)用 [如:Cu/ABS等]

雙鍍層應(yīng)用 [如:Ag/Pd/Zn, Au/Ni/Cu等]

三鍍層應(yīng)用 [如:Au/Ni-P/Cu/Brass等]

四鍍層應(yīng)用 [如:Cr/Ni/Cu/Zn/SnPb等]

合金鍍層應(yīng) [如:Ni-Zn/Fe Sn-Ni/ABS  Pd-Ni/Cu/ABS等]

4. Multi-Ray. 快速、簡單的定性分析的軟件模塊,??赏瑫r分析20種元素。半定量分析頻譜比較,、減法運(yùn)算和配給,。

Multi-Ray 金屬行業(yè)精確定量分析軟件??赏瑫r分析8種元素,。最小二乘法計算峰值反卷積,。采用盧卡斯-圖思計算方法進(jìn)行矩陣校正及內(nèi)部元素作用分析。金屬分析精度可達(dá)±0.02%,,貴金屬(8-24 Karat) 分析精度可達(dá)±0.05kt

Multi-Ray. 對鍍液進(jìn)行分析,。采用不同的數(shù)學(xué)計算方法對鍍液中的金屬離子進(jìn)行測定。含全元素,、內(nèi)部元素,、矩陣校正模塊。

技術(shù)指標(biāo)

多鍍層分析,,1~5層,;

測試精度:0.001 μm;

元素分析范圍從鋁(Al)到鈾(U),;

測量時間:10~30秒,;

SDD探測器,能量分辨率為125±5eV,;

探測器Be窗0.5mil(12.7μm),;

微焦X射線管50kV/1mA,鉬,,銠靶(高配微焦鉬靶),;

6個準(zhǔn)直器及多個濾光片自動切換;

XYZ三維移動平臺,,MAX荷載為5公斤,;

高清CCD攝像頭(200萬像素),準(zhǔn)確監(jiān)控位置,;

多變量非線性去卷積曲線擬合,;

高性能FP/MLSQ分析;

儀器尺寸:618×525×490mm,;

樣品臺尺寸:250×220mm,;

樣品臺移動范圍:前后左右各80mm、高度90mm,。

1,、硬件參數(shù):

1.       X射線管:高穩(wěn)定性X射線管,使用壽命(工作時間>8,000小時)

微焦點x射線管

鈹窗口,, 光斑尺寸75um,,油絕緣,氣冷式,,輻射安全電子管屏蔽,。

50kV,1mA。高壓和管流設(shè)定為應(yīng)用程序提供最佳性能,。

2.       探測器:Si-Pin探測器

能量分辨率:149±5eV

3.       濾光片/可選

初級濾光片:Al濾光片,,自動切換

多準(zhǔn)直器:0.2,0.3,0.5mm可選

測試點大小:準(zhǔn)直器面積的1.5倍  

4.       平臺:軟件程序控制步進(jìn)式電機(jī)驅(qū)動X-Y-Z軸移動大樣品平臺,。
激光定位,、簡易荷載最大負(fù)載量為5公斤
軟件控制程序進(jìn)行持續(xù)性自動測量

5.       樣品定位:顯示屏上顯示樣品鎖定、簡易荷載,、激光定位及拍照功能

6. 分析譜線:

- 2048通道逐次近似計算法ADC(模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換)

- 基點改正(基線本底校正)

- 密度校正

- Multi-Ray軟件包含元素ROI及測量讀數(shù)自動顯示

7.視頻系統(tǒng):高分辨率CCD攝像頭,、彩色視頻系統(tǒng)

- 觀察范圍:3mm x 3mm

- 放大倍數(shù):40X

- 射線方向:上照式

- 軟件控制取得高真圖像

8. 檢測厚度(正常指標(biāo)):

- 原子序數(shù) 22 - 24 : 6 ~ 1000 微英寸

- 原子序數(shù) 25 - 40 : 4 ~ 1200 微英寸

- 原子序數(shù) 41 - 51 : 6 ~ 3000 微英寸

- 原子序數(shù) 52 - 82 : 2 ~  500 微英寸

9. 計算機(jī)、打印機(jī)(贈送)

1  含計算機(jī),、顯示器,、打印機(jī)、鍵盤,、鼠標(biāo)

2  Windows 7操作系統(tǒng)

3  Multi-Ray軟件

注:設(shè)備需要配備穩(wěn)壓電源,,需另計。

2),、光譜儀軟件功能

1)軟件應(yīng)用

單鍍層測量

線性層測量,,如:薄膜測量

雙鍍層測量

針對合金可同時進(jìn)行鍍層厚度和元素分析

三鍍層測量。

無電鍍鎳測量

電鍍?nèi)芤簻y量

2) 軟件標(biāo)定方法

自動標(biāo)定曲線進(jìn)行多層分析

- 使用無標(biāo)樣基本參數(shù)計算方法

- 使用標(biāo)樣進(jìn)行多點重復(fù)標(biāo)定

- 標(biāo)定曲線顯示參數(shù)及自動調(diào)整功能

3) 軟件校正功能:

- 基點校正(基線本底校正)

- 多材料基點校正,,如:不銹鋼,,黃銅,青銅等

- 密度校正

4) 軟件測量功能:

- 快速開始測量

- 快速測量過程

- 自動測量條件設(shè)定(光管電流,,濾光片,ROI)

5) 自動測量功能(軟件平臺)

- 同模式重復(fù)功能(可實現(xiàn)多點自動檢測)

- 確認(rèn)測量位置 (具有圖形顯示功能)

- 測量開始點設(shè)定功能(每個文件中存儲原始數(shù)據(jù))

- 測量開始點存儲功能,、打印數(shù)據(jù)

- 旋轉(zhuǎn)校正功能

- TSP應(yīng)用

- 行掃描及格柵功能

6) 光譜測量功能

- 定性分析功能 (KLM 標(biāo)記方法)

- 每個能量/通道元素ROI光標(biāo)

- 光譜文件下載,、刪除、保存,、比較功能

- 光譜比較顯示功能:兩級顯示/疊加顯示/減法

- 標(biāo)度擴(kuò)充,、縮小功能(強(qiáng)度、能量)

7) 數(shù)據(jù)處理功能

- 監(jiān)測統(tǒng)計值: 平均值,、 標(biāo)準(zhǔn)偏差,、 最大值。

- 最小值,、測量范圍,,N 編號、 Cp,、 Cpk,,

- 獨立曲線顯示測量結(jié)果。

- 自動優(yōu)化曲線數(shù)值、數(shù)據(jù)控件

8)其他功能

- 系統(tǒng)自校正取決于儀器條件和操作環(huán)境

- 獨立操作控制平臺

- 視頻參數(shù)調(diào)整

- 儀器使用單根USB數(shù)據(jù)總線與外設(shè)連接

- Multi-Ray自動輸出檢測報告(HTML,、Excel,、PDF)

- 屏幕捕獲顯示監(jiān)視器、樣本圖片,、曲線等.......

- 數(shù)據(jù)庫檢查程序

- 鍍層厚度測量程序保護(hù),。

9  儀器維修和調(diào)整功能

-          自動校準(zhǔn)功能;

-          優(yōu)化系統(tǒng)取決儀器條件和操作室環(huán)境,;

-          自動校準(zhǔn)過程中值增加,、偏置量、強(qiáng)度,、探測器分辨率,,迭代法取決于峰位置、CPS,、主X射線強(qiáng)度,、輸入電壓、操作環(huán)境,。

電鍍層厚度分析機(jī)器



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