低溫強磁綜合探針臺在光學兼容性及功能擴展性方面表現(xiàn),，高精度光學適配，多維度光路接入,，可通過頂窗和側(cè)窗結(jié)構(gòu)設(shè)計,，靈活引入不同角度的入射光，滿足復(fù)雜光學測試需求,。
低溫強磁綜合探針臺擁有極為靈活的配置,，為滿足不同科研及測試需求，提供了豐富多樣的擴展模塊,， 助力實現(xiàn)多種綜合測量,。常規(guī)擴展選件有：基礎(chǔ)顯微鏡光學選件、光電流測試選件,、磁光克爾測試選件,、拉曼選件、 基礎(chǔ)材料電學測量選件,、微納器件測試選件,、霍爾效應(yīng)測量選件、SOT測量選件等,。
低溫強磁綜合探針臺集成了高磁場,、寬溫區(qū)和閉環(huán)制冷、低振動技術(shù)等特性,，一套PSM-SM系統(tǒng)即可能夠?qū)崿F(xiàn)電 - 光 - 磁 - 溫多模態(tài)的原位測量,，滿足MEMS等器件跨尺度表征的需求，是實驗室開展多物理場耦合測試的理想選擇,。

產(chǎn)品特點：

- 超低溫,，強磁場
• 采用閉循環(huán)制冷，無需消耗液氦,，降低實驗成本
• 溫度范圍:2K~300K（無探針臂）,，支持全溫區(qū)連續(xù)精確控溫。寬溫區(qū)能夠模擬多種與常規(guī)的溫度環(huán)境,，滿足不同材料在各種溫度條件下的特性科研需求
• 采用高性能超導磁體,，實現(xiàn)7T磁場強度(3T,，3-1-1T矢量可選)，顯著提升磁場豐富性

- 低振動

• 滿足振動敏感測量：的減震技術(shù),，雙極波紋管平衡結(jié)構(gòu),，實現(xiàn)超低震動；標準系統(tǒng)振動（RMS)小于500nm,，安裝低振動選件后,，系統(tǒng)振動（RMS)小于50nm

- 探針測試方便快捷
• 樣品腔采用全屏蔽設(shè)計，能夠有效減小外界的電磁干擾提高測試的精準度和穩(wěn)定性
• 探針臂的位移調(diào)節(jié)在真空腔外操作,，探針臂 X-Y-Z調(diào)節(jié),，可以在不破壞真空的情況下，切換樣品上的不同器件進行測試,。
• 直流臂采用三同軸接頭,，漏電性能好，漏電流小于100fA
• 微波臂支持到110GHz,，可滿足不同類型的微波測試需求
• 系統(tǒng)可安裝6個探針臂（直流,、微波、光纖可選）,，可以根據(jù)實驗需求,，靈活搭配，實現(xiàn)對樣品多種測試需求,，獲取更全面的實驗數(shù)據(jù)

- 樣品空間大
• 樣品座尺寸35mm,，探針可探測區(qū)域1英寸
• 可對薄膜、塊體,、粉末和液體等各類樣品進行測試,，提供多種樣品座可供選擇，包括光學樣品座,、粉末樣品座,、液體樣品座以及多電極樣品座等
• 樣品可以水平或垂直于磁場，方便研究不同磁場特性
• 高精度樣品定位：可選XYZR壓電位移臺實現(xiàn)器件的精準定位
• 預(yù)置電學接口：系統(tǒng)預(yù)置20根同軸電纜,，用于傳輸電信號,，低溫端采用FPC 接頭通斷，能夠適應(yīng)低溫環(huán)境下的使用要求,。

- 兼容性和擴展性強
• 高精度光學兼容：15mm工作距離,，支持50x物鏡配套使用，便于微觀樣品的觀察和光信號耦合測試,。
• 提供多種材料的側(cè)面光窗和頂部光窗,，方便將各方向的光路引入樣品腔。樣品腔周圍可搭建各種光學光路，靈活實現(xiàn)各種光學測量
• 提供多種測試選件：納米量級顯微鏡光學選件,、光電流測試選件,、磁光克爾測試選件、拉曼選件,、基本電學測量選件,、微納器件電學測試選件、霍爾效應(yīng)測量選件,、SOT 測量選件等,，全新方案設(shè)計,，提供低溫強磁環(huán)境下材料的光信號和電信號測量的全套解決方案
• 集成智能化控制軟件,，操作簡單，方便數(shù)據(jù)的記錄和導出

技術(shù)參數(shù)：