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外延電阻率方阻測(cè)試儀
- 公司名稱 九域半導(dǎo)體科技(蘇州)有限公司
- 品牌 其他品牌
- 型號(hào)
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
- 更新時(shí)間 2025/1/16 14:10:47
- 訪問(wèn)次數(shù) 441
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晶圓電阻率測(cè)試儀,硅片電阻率測(cè)試儀,,渦流法低電阻率分析儀,晶錠電阻率分析儀,,遷移率測(cè)試儀,,少子壽命測(cè)試儀
價(jià)格區(qū)間 | 面議 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 電子,電氣,綜合 |
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外延電阻率方阻測(cè)試儀相關(guān)介紹:
外延是半導(dǎo)體工藝當(dāng)中的一種。在bipolar工藝中,,硅片最底層是P型襯底硅(有的加點(diǎn)埋層),;然后在襯底上生長(zhǎng)一層單晶硅,這層單晶硅稱為外延層,;再后來(lái)在外延層上注入基區(qū),、發(fā)射區(qū)等等。最后基本形成縱向NPN管結(jié)構(gòu):外延層在其中是集電區(qū),,外延上面有基區(qū)和發(fā)射區(qū),。外延片就是在襯底上做好外延層的硅片。因有些廠只做外延之后的工藝生產(chǎn),,所以他們買別人做好外延工藝的外延片來(lái)接著做后續(xù)工藝,。
半導(dǎo)體制造商主要用拋光Si片(PW)和外延Si片作為IC的原材料。20世紀(jì)80年代早期開(kāi)始使用外延片,,它具有標(biāo)準(zhǔn)PW所不具有的某些電學(xué)特性并消除了許多在晶體生長(zhǎng)和其后的晶片加工中所引入的表面/近表面缺陷,。
外延片是由Si片制造商生產(chǎn)并自用,在IC中用量不大,,它需要在單晶Si片表面上沉積一薄的單晶Si層,。一般外延層的厚度為2~20μm,而襯底Si厚度為610μm(150mm直徑片)和725μm(200mm片),。
外延沉積既可(同時(shí))一次加工多片,,也可加工單片。單片反應(yīng)器可生產(chǎn)出的外延層(厚度,、電阻率均勻性好,、缺陷少);這種外延片用于150mm“前沿”產(chǎn)品和所有重要200mm產(chǎn)品的生產(chǎn),。
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