襯底電阻率方阻測試儀相關(guān)介紹：

襯底的定義

1.襯底的物理與化學(xué)性質(zhì)

襯底,，或稱基片（substrate）,，是指在半導(dǎo)體器件制造過程中用來支持其他材料或結(jié)構(gòu)的底層材料。襯底的物理性質(zhì)包括其晶體結(jié)構(gòu),、機械強度,、熱導(dǎo)率、膨脹系數(shù)等,，而化學(xué)性質(zhì)則涵蓋其純度,、表面化學(xué)穩(wěn)定性、化學(xué)反應(yīng)活性等,。常見的襯底材料如硅（Si）,、砷化鎵（GaAs）、碳化硅（SiC）等,，因其物理與化學(xué)性質(zhì)而被廣泛應(yīng)用,。

2.襯底的作用與功能

在半導(dǎo)體制造中，襯底起到至關(guān)重要的支撐作用,。首先,，襯底為后續(xù)的材料沉積和器件制作提供了一個平整且穩(wěn)定的基礎(chǔ)，其次,，襯底材料的選擇直接影響器件的性能和制造成本,。此外，襯底還需具備良好的機械強度和熱導(dǎo)率,，以支持器件在高功率和高溫條件下穩(wěn)定運行,。

襯底電阻率方阻測試儀更多信息請聯(lián)系我們。