SuperViewW1 白光干涉3D表面形貌儀
| 參考價(jià) | ￥ 960000 |
| 訂貨量 | ≥1臺 |
- 公司名稱 深圳市中圖儀器股份有限公司
- 品牌 CHOTEST/中圖儀器
- 型號 SuperViewW1
- 產(chǎn)地 學(xué)苑大道1001號南山智園B1棟2樓,、5樓
- 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
- 更新時(shí)間 2024/9/14 13:56:09
- 訪問次數(shù) 562
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| 產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) | 價(jià)格區(qū)間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 環(huán)保,化工,能源,電子,綜合 |
中圖儀器SuperViewW白光干涉3D表面形貌儀基于白光干涉原理,，結(jié)合精密Z向掃描模塊,、3D 建模算法等，以3D非接觸方式測量分析樣品表面形貌的關(guān)鍵參數(shù)和尺寸,。典型結(jié)果包括表面形貌（粗糙度,，平面度，平行度,，臺階高度,，錐角等等）；幾何特征（關(guān)鍵孔徑尺寸,，曲率半徑,，特征區(qū)域的面積和體積,，特征圖形的位置和數(shù)量等等）。
產(chǎn)品功能
1)樣件測量能力：單一掃描模式即可滿足從超光滑到粗糙,、鏡面到全透明或黑色材質(zhì)等所有類型樣件表面的測量,；
2)單區(qū)域自動測量：單片平面樣品或批量樣品切換測量點(diǎn)位時(shí)，可一鍵實(shí)現(xiàn)自動條紋搜索,、掃描等功能,；
3)多區(qū)域自動測量：可設(shè)置方形或圓形的陣列形式的多區(qū)域測量點(diǎn)位，一鍵實(shí)現(xiàn)自動條紋搜索,、掃描等功能,；
4)自動拼接測量；支持方形,、圓形,、環(huán)形和螺旋形式的自動拼接測量功能，配合影像導(dǎo)航功能,，可自定義測量區(qū)域,，支持?jǐn)?shù)千張圖像的無縫拼接測量；
5)編程測量功能：支持測量和分析同界面操作的軟件模塊,，可預(yù)先配置數(shù)據(jù)處理和分析步驟,，結(jié)合自動單測量功能，實(shí)現(xiàn)一鍵測量,；
6)數(shù)據(jù)處理功能：提供位置調(diào)整,、去噪、濾波,、提取四大模塊的數(shù)據(jù)處理功能,；
7)數(shù)據(jù)分析功能：提供粗糙度分析、幾何輪廓分析,、結(jié)構(gòu)分析,、頻率分析、功能分析等五大分析功能,。
8)批量分析功能：可根據(jù)需求參數(shù)定制數(shù)據(jù)處理和分析模板,，針對同類型參數(shù)實(shí)現(xiàn)一鍵批量分析；
9)數(shù)據(jù)報(bào)表導(dǎo)出：支持word,、excel,、pdf格式的數(shù)據(jù)報(bào)表導(dǎo)出功能，支持圖像,、數(shù)值結(jié)果的導(dǎo)出,；
10)故障排查功能：配置診斷模塊，可保存掃描過程中的干涉條紋圖像,；
11)便捷操作功能：設(shè)備配備操縱桿,，支持操縱桿進(jìn)行所有位置軸的操作及速度調(diào)節(jié),、光源亮度調(diào)節(jié)、急停等,；
12)環(huán)境噪聲評價(jià)：具備0.1nm分辨率的環(huán)境噪聲評價(jià)功能,，定量檢測出儀器受到外界環(huán)境干擾的噪聲振幅和頻率，為設(shè)備調(diào)試和故障排查提供定量依據(jù),；
13)氣浮隔振功能：采用氣浮式隔振底座，可有效隔離地面?zhèn)鲗?dǎo)的振動噪聲,，確保測量數(shù)據(jù)的高精度,；
14)光源安全功能：光源設(shè)置無人值守下的自動熄燈功能，當(dāng)檢測到鼠標(biāo)軌跡長時(shí)間未變動后會自主降低熄滅光源,，防止光源高亮過熱損壞,，并有效延長光源使用壽命；
15)鏡頭安全功能：雙重防撞保護(hù),，軟件ZSTOP防撞保護(hù),，設(shè)置后即以當(dāng)前位置為位移下限位，不再下移且伴有報(bào)警聲,；設(shè)備配備壓力傳感器,，并在鏡頭處進(jìn)行了彈簧結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)，確保當(dāng)鏡頭碰撞后彈性回縮,，進(jìn)入急停狀態(tài),，大幅減小碰撞沖擊力,，有效保護(hù)鏡頭和掃描軸,，消除人為操作的安全風(fēng)險(xiǎn)。
應(yīng)用領(lǐng)域圖片
對各種產(chǎn)品,、部件和材料表面的粗糙度,、波紋度,、面形輪廓、表面缺陷,、磨損情況,、腐蝕情況、孔隙間隙,、臺階高度,、彎曲變形情況、加工情況等表面形貌特征進(jìn)行測量和分析,。
SuperViewW白光干涉3D表面形貌儀具有測量精度高,、操作便捷、功能齊全,、測量參數(shù)涵蓋面廣的優(yōu)點(diǎn),，測量單個(gè)精細(xì)器件的過程用時(shí)短,，確保了高款率檢測。白光干涉儀的特殊光源模式,，可以廣泛適用于從光滑到粗糙等各種精細(xì)器件表面的測量,。
針對完成樣品超光滑凹面弧形掃描所需同時(shí)滿足的高精度、大掃描范圍的需求,，中圖儀器SuperView W1的復(fù)合型EPSI重建算法,，解決了傳統(tǒng)相移法PSI掃描范圍小、垂直法VSI精度低的雙重缺點(diǎn),。在自動拼接模塊下,，只需要確定起點(diǎn)和終點(diǎn)，即可自動掃描,，重建其超光滑的表面區(qū)域,，不見一絲重疊縫隙。
部分技術(shù)指標(biāo)
| 型號 | W1 | |
| 光源 | 白光LED | |
| 影像系統(tǒng) | 1024×1024 | |
| 干涉物鏡 | 標(biāo)配：10× 選配：2.5×;5×;20×;50×;100× | |
| 光學(xué)ZOOM | 標(biāo)配：0.5× 選配：0.375×;0.75×;1× | |
| 物鏡塔臺 | 標(biāo)配：3孔手動 選配：5孔電動 | |
XY位移平臺 | 尺寸 | 320×200㎜ |
| 移動范圍 | 140×100㎜ | |
| 負(fù)載 | 10kg | |
| 控制方式 | 電動 | |
| Z軸聚焦 | 行程 | 100㎜ |
| 控制方式 | 電動 | |
| Z向掃描范圍 | 10 ㎜ | |
| 主機(jī)尺寸（長×寬×高） | 700×606×920㎜ | |
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