電鍍層厚度測試設備

以下介紹經(jīng)常使用的電鍍膜厚檢測設備：

產(chǎn)品概述

產(chǎn)品類型： 能量色散X熒光光譜分析設備

產(chǎn)品名稱： 鍍層厚度分析儀

型    號： iEDX-150T

原 產(chǎn) 商： 韓國ISP公司

產(chǎn)品優(yōu)勢及特征

（一）產(chǎn)品優(yōu)勢

1. 鍍層檢測,，檢測層數(shù)范圍1-5層；鍍層測量精度可達0.001μm,。

2. 全自動操作平臺,，平臺尺寸80X2*75X2*90(X*Y*Z)；

3. 激光定位和自動多點測量功能,；

4. 檢測的樣品可以為固體,、液體或粉末；

5. 運行及維護成本低,、無易損易耗品,，對使用環(huán)境相對要求低；

6. 可進行未知標樣掃描,、無標樣定性,、半定量分析；

7. 操作簡單,、精準無損,、高品質(zhì)、高性能,、高穩(wěn)定性,，快速檢測（5-40秒依配置而定）；

8. 頂級配置：SDD探測器,、超長壽命X射線管,、SPELLMAN高壓電源，儀器使用壽命長,。

9. 超高分辨率：125±5電子伏特（電子伏特越低分辨率越高,，檢測越精準,，這是能譜儀一個非常關鍵的技術指標）；

10. 可針對客戶個性化要求量身定做輔助分析配置硬件,；

11. 軟件升級,；

12. 無損檢測，一次性購買標樣可使用,；

13. 使用安心無憂,，售后服務響應時間24H以內(nèi)，提供保姆式服務,；

14. 具有遠程服務功能,，在客戶請求的情況下，可遠程進行儀器維護,；

（二）產(chǎn)品特征

1. 高性能高精度X熒光光譜儀（XRF）

2. 計算機 / MCA(多通道分析儀)

2048通道逐次近似計算法ADC（模擬數(shù)字轉換器）

3. Multi Ray. 運用基本參數(shù)法（FP）軟件,，對樣品進行精確的鍍層厚度分析，可對鍍液進行定量分析,。

MTFFP (多層薄膜基本參數(shù)法) 模塊進行鍍層厚度及全元素分析

勵磁模式 50987.1 DIN / ISO 3497-A1

吸收模式 50987.1 DIN / ISO 3497-A2

線性模式進行薄膜鍍層厚度測量

相對（比）模式  無焦點測量 DIN 50987.3.3/ ISO 3497

多鍍層厚度同時測量

單鍍層應用 [如：Cu/ABS等]

雙鍍層應用 [如：Ag/Pd/Zn, Au/Ni/Cu等]

三鍍層應用 [如：Au/Ni-P/Cu/Brass等]

四鍍層應用 [如：Cr/Ni/Cu/Zn/SnPb等]

合金鍍層應 [如：Ni-Zn/Fe Sn-Ni/ABS  Pd-Ni/Cu/ABS等]

4. Multi-Ray. 快速,、簡單的定性分析的軟件模塊?？赏瑫r分析20種元素,。半定量分析頻譜比較、減法運算和配給,。

Multi-Ray 金屬行業(yè)精確定量分析軟件,?？赏瑫r分析8種元素,。最小二乘法計算峰值反卷積。采用盧卡斯-圖思計算方法進行矩陣校正及內(nèi)部元素作用分析,。金屬分析精度可達±0.02%,，貴金屬（8-24 Karat) 分析精度可達±0.05kt

Multi-Ray. 對鍍液進行分析。采用不同的數(shù)學計算方法對鍍液中的金屬離子進行測定,。含全元素,、內(nèi)部元素、矩陣校正模塊,。

5. Multi-Ray WINDOWS 7軟件操作系統(tǒng)

6. 完整的統(tǒng)計函數(shù)均值,、 標準差、 低/高讀數(shù),，趨勢線,，Cp 和 Cpk 因素等

8. 自動移動平臺，用戶使用預先設定好的程序進行自動樣品測量,自動多點分析,。每個階段的文件有最多 25 個不同應用程序,。特殊工具如"線掃描"和"格柵",。每個階段文件包含*統(tǒng)計軟件包。包括自動對焦功能,、方便加載函數(shù),、瞄準樣品和拍攝、激光定位和自動多點測量功能,。

技術指標

多鍍層分析,，1～5層；

測試精度：0.001 μm,；

元素分析范圍從鋁(Al)到鈾(U),；

測量時間：10~30秒；

SDD探測器,，能量分辨率為125±5eV,；

探測器Be窗0.5mil（12.7μm）；

微焦X射線管50kV/1mA,，鉬,，銠靶（高配微焦鉬靶）；

6個準直器及多個濾光片自動切換,；

XYZ三維移動平臺,，MAX荷載為5公斤；

高清CCD攝像頭（200萬像素）,，準確監(jiān)控位置,；

多變量非線性去卷積曲線擬合；

高性能FP/MLSQ分析,；

儀器尺寸：618×525×490mm,；

樣品臺尺寸：250×220mm；

樣品臺移動范圍：前后左右各80mm,、高度90mm,。

1）、硬件參數(shù)：

1.       X射線管：高穩(wěn)定性X射線管,，使用壽命（工作時間>8,000小時）

微焦點x射線管

鈹窗口,， 光斑尺寸75um，油絕緣,，氣冷式,，輻射安全電子管屏蔽。

50kV,，1mA,。高壓和管流設定為應用程序提供最佳性能。

2.       探測器：Si-Pin探測器

能量分辨率：149±5eV

3.       濾光片/可選

初級濾光片：Al濾光片,，自動切換

多準直器：0.2,0.3,0.5mm可選

測試點大?。簻手逼髅娣e的1.5倍  

4.       平臺：軟件程序控制步進式電機驅(qū)動X-Y-Z軸移動大樣品平臺,。
激光定位、簡易荷載最大負載量為5公斤
軟件控制程序進行持續(xù)性自動測量

5.       樣品定位：顯示屏上顯示樣品鎖定,、簡易荷載,、激光定位及拍照功能  

6. 分析譜線：

7．視頻系統(tǒng)：高分辨率CCD攝像頭、彩色視頻系統(tǒng)

- 觀察范圍：3mm x 3mm

- 放大倍數(shù)：40X

- 射線方向：上照式

- 軟件控制取得高真圖像

8. 檢測厚度（正常指標）：

- 原子序數(shù) 22 - 24 : 6 ～ 1000 微英寸

- 原子序數(shù) 25 - 40 : 4 ～ 1200 微英寸

- 原子序數(shù) 41 - 51 : 6 ～ 3000 微英寸

- 原子序數(shù) 52 - 82 : 2 ～  500 微英寸

9. 計算機,、打印機（贈送）

2）,、光譜儀軟件功能

1)軟件應用

單鍍層測量

線性層測量，如：薄膜測量

雙鍍層測量

針對合金可同時進行鍍層厚度和元素分析

三鍍層測量,。

無電鍍鎳測量

電鍍?nèi)芤簻y量

吸收模式的應用 DIN50987.1/ ISO3497-A2

- 勵磁模式的應用DIN50987.1/ ISO3497-A1

基本參數(shù)法目前是鍍層領域最佳解決方案,。

2) 軟件標定方法

自動標定曲線進行多層分析

- 使用無標樣基本參數(shù)計算方法

- 使用標樣進行多點重復標定

- 標定曲線顯示參數(shù)及自動調(diào)整功能

3) 軟件校正功能：

- 基點校正（基線本底校正）

- 多材料基點校正，如：不銹鋼,，黃銅,，青銅等

- 密度校正

4) 軟件測量功能：

- 快速開始測量

- 快速測量過程

- 自動測量條件設定（光管電流，濾光片,，ROI）

5) 自動測量功能（軟件平臺）

- 同模式重復功能（可實現(xiàn)多點自動檢測）

- 確認測量位置 (具有圖形顯示功能)

- 測量開始點設定功能（每個文件中存儲原始數(shù)據(jù)）

- 測量開始點存儲功能,、打印數(shù)據(jù)

- 旋轉校正功能

- TSP應用

- 行掃描及格柵功能

6) 光譜測量功能

- 定性分析功能 （KLM 標記方法）

- 每個能量/通道元素ROI光標

- 光譜文件下載、刪除,、保存,、比較功能

- 光譜比較顯示功能：兩級顯示/疊加顯示/減法

- 標度擴充、縮小功能（強度,、能量）

7） 數(shù)據(jù)處理功能

- 監(jiān)測統(tǒng)計值： 平均值,、 標準偏差、 最大值,。

- 最小值,、測量范圍，N 編號,、 Cp,、 Cpk,，

- 獨立曲線顯示測量結果,。

- 自動優(yōu)化曲線數(shù)值、數(shù)據(jù)控件

8）其他功能

- 系統(tǒng)自校正取決于儀器條件和操作環(huán)境

- 獨立操作控制平臺

- 視頻參數(shù)調(diào)整

- 儀器使用單根USB數(shù)據(jù)總線與外設連接

- Multi-Ray自動輸出檢測報告（HTML,、Excel,、PDF）

- 屏幕捕獲顯示監(jiān)視器、樣本圖片,、曲線等.......

- 數(shù)據(jù)庫檢查程序

- 鍍層厚度測量程序保護,。

9）  儀器維修和調(diào)整功能

產(chǎn)品保修及售后服務

1. 協(xié)助做好安裝場地、環(huán)境的準備工作,、指導并參與設備的安裝,、測試,、診斷及各項工作。

2. 對客戶方操作人員進行培訓,。

3. 安裝,、調(diào)試、驗收,、培訓及技術服務均為免費,，在用戶方現(xiàn)場對操作人員進行培訓。

4. 整機保修一年（X光管保修兩年）,，終身維修,保修期從我司驗收合格后并正式投入使  用之日起計算,。

5. 免費提供軟件升級

6. 保修期內(nèi)，提供全天 24小時（包含節(jié)假日）技術支持及現(xiàn)場維護服務,。在接到設備故障報修后,，提供遠程故障解決方案（1小時內(nèi)）, 如有需要，24小時內(nèi)派人上門維修和排除故障,。

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