HORIBA SZ-100納米粒度/Zeta電位分析儀
- 公司名稱(chēng) 上海巨納科技有限公司
- 品牌 HORIBA/堀場(chǎng)
- 型號(hào)
- 產(chǎn)地 法國(guó)
- 廠(chǎng)商性質(zhì) 生產(chǎn)廠(chǎng)家
- 更新時(shí)間 2024/6/4 14:25:22
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產(chǎn)地類(lèi)別 | 進(jìn)口 | 分散方式 | 干濕法分散 |
---|---|---|---|
價(jià)格區(qū)間 | 80萬(wàn)-100萬(wàn) | 儀器種類(lèi) | 動(dòng)態(tài)光散射 |
應(yīng)用領(lǐng)域 | 醫(yī)療衛(wèi)生,化工,生物產(chǎn)業(yè),石油,能源 |
HORIBA SZ-100納米粒度/Zeta電位分析儀
動(dòng)態(tài)光散射粒徑分布測(cè)定裝置新型號(hào),,高靈敏度、高精度的測(cè)量,;*表征單一體系納米尺度粒子,;*解析納米粒子的物質(zhì)結(jié)構(gòu)。
主要應(yīng)用范圍為:陶瓷粒子,、金屬納米粒子,、碳黑、制藥,、病毒,、涂料、化妝品,、聚合物,、食品、CMP,、顏料,、油墨
粒子直徑測(cè)定:
超寬動(dòng)態(tài)光散射范圍:0.3nm~8000nm
通過(guò)采用與NEDO國(guó)家項(xiàng)目共同開(kāi)發(fā)的相關(guān)器,實(shí)現(xiàn)高性能化
在單一納米粒子光學(xué)系統(tǒng)中,,采用更低雜散光90度檢測(cè)光學(xué)系統(tǒng)
雙光路系統(tǒng)(90度和173度)適用于更寬更濃度范圍的樣品測(cè)量,,可以進(jìn)行釉漿、顏料等高濃度樣品以及膠束,、聚合物等濃度樣品的測(cè)定
產(chǎn)品特點(diǎn):
可測(cè)納米粒子的三個(gè)重要要素——粒子直徑,、Zeta電位和分子量
樣品濃度從PPM到百分之幾十,SZ-100都能在原液狀態(tài)下取樣和測(cè)定
HORIBA自主研發(fā)的微量電泳樣品池,,可以測(cè)定僅100uL的Zeta電位
廣泛應(yīng)用于膠制粒子,、機(jī)能性納米粒子,、高分子、膠束,、核糖體,、納米囊等的測(cè)定
取樣后,,僅需按測(cè)定開(kāi)始按鈕即可,,操作簡(jiǎn)單
粒子直徑分布測(cè)定圖例
溶菌酶(卵清蛋白) 醋酸緩沖劑pH4.3 鹽酸硫胺素(維生素B1鹽酸鹽)
分子量:約14000 分子量:337
濃度:0.1mg/ml 濃度:300mg/ml
平均直徑:4.0nm 平均直徑:0.5nm
Zeta電位
NIST SRM1980 α-FeOOH 電泳遷移率:2.53±0.12umcm/Vs
<測(cè)定結(jié)果>電泳遷移率:2.53umcm/Vs,Zeta電位:32.9mV
LUDOX TM SiO2,,0.01mol/L KCI
<測(cè)定結(jié)果>Zeta電位:-38.3mV