PROTO AXRD 臺(tái)式X-射線衍射儀
- 公司名稱 廣州貝拓科學(xué)技術(shù)有限公司
- 品牌 其他品牌
- 型號(hào)
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
- 更新時(shí)間 2024/7/18 11:16:19
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X射線衍射儀混合光子計(jì)數(shù)探測(cè)器臺(tái)式X-射線衍射儀AXRD臺(tái)式X-射線衍射儀
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廣州貝拓科學(xué)技術(shù)有限公司成立于2010年8月,，是國(guó)家高新技術(shù)企業(yè)，廣州科技小巨人企業(yè),，并在廣東股權(quán)交易中心成功掛牌（股權(quán)代碼：892081）,，通過(guò)ISO9001-2015質(zhì)量體系認(rèn)證和知識(shí)產(chǎn)權(quán)貫標(biāo)認(rèn)定體系，擁有近30項(xiàng)國(guó)家磚利,。貝拓科學(xué)一直從事光譜分析儀器領(lǐng)域，自主研發(fā)儀器有光學(xué)接觸角測(cè)量?jī)x,，拉曼光譜儀,，表界面張力儀，白光干涉膜厚分析儀,，陣列式紫外可見(jiàn)分光光度計(jì),，積分球式透反射率測(cè)試儀等,。具備光學(xué)設(shè)計(jì)、機(jī)械設(shè)計(jì),、軟件編寫(xiě)和算法編寫(xiě)核心能力,，和中山大學(xué),、廣州大學(xué)、華南師范大學(xué)有緊密的合作關(guān)系,，并且是廣州大學(xué)物理與光電學(xué)院的長(zhǎng)期實(shí)習(xí)基地,。貝拓科學(xué)所研發(fā)生產(chǎn)的產(chǎn)品定位在國(guó)內(nèi)高水平，未來(lái)面向市場(chǎng),。
貝拓科學(xué)陪伴著科學(xué)家一起探索未知事件，“Touch the future”作為我們的口號(hào),，貝拓科學(xué)尊重以嚴(yán)謹(jǐn)?shù)目茖W(xué)理論為指導(dǎo),，為科學(xué)家提供有力的科研工具,。我們默默堅(jiān)持做前沿分析儀器的搬運(yùn)工，陪伴科學(xué)家不斷成長(zhǎng),。我們很榮幸作為一些有儀器生產(chǎn)廠家,，例如：日本Hitachi，德國(guó)WITec,德國(guó)Bruker,，英國(guó)OXFORD，美國(guó)ThermoFisher,Ametek旗下輸力強(qiáng)和普林斯頓,以及中國(guó)臺(tái)灣OtO等大電子儀器廠家的代理,，一起為中國(guó)的科學(xué)家提供專業(yè)的服務(wù),。
我們的宗旨是為科學(xué)學(xué)提供更專業(yè)，更貼心的服務(wù),。
我們的優(yōu)勢(shì)和專注點(diǎn)集中于材料測(cè)試方面，為了普惠科研工作者,，我們還提供測(cè)試服務(wù),，其中包括材料的結(jié)構(gòu),、元素分布,、表面特征,、物理化學(xué)特性以及光學(xué)、電學(xué)特性的分析,。
材料分析領(lǐng)域代理品牌：
OXFORD（牛津）,、FEI（賽默飛）,、KeySight(前安捷倫納米部)、STOE,、AMETEK(阿美特克),、TESCAN(泰思肯),、LEICA、KRUSS,、BEL,、HITACHI（日立）、OTO（中國(guó)臺(tái)灣超微光學(xué)）,、WITec（威泰克）、BRUKER（布魯克）,、普析,、徠卡、本原納米等,。
接觸角測(cè)量?jī)x、在線測(cè)厚儀,、光學(xué)膜厚儀,、紅外光譜儀、拉曼成像光譜儀,、拉曼電鏡,、低溫恒溫器,、掃描探針顯微鏡/原子力,、納米壓痕劃痕儀、橢偏儀,、熱分析,、差示掃描熱儀
| 價(jià)格區(qū)間 | 面議 | 儀器種類 | 探測(cè)器及其他設(shè)備 |
|---|
PROTO AXRD 臺(tái)式X-射線衍射儀
PROTO AXRD臺(tái)式X-射線衍射儀是易于使用,并提供準(zhǔn)確,、可靠的測(cè)量結(jié)果與類似的速度全尺寸實(shí)驗(yàn)單位。配備強(qiáng)大的混合光子計(jì)數(shù)探測(cè)器,AXRD臺(tái)式X-射線衍射儀具有極快的數(shù)據(jù)收集能力,。低分辨率掃描數(shù)據(jù)收集只需3min,，高分辨率掃描數(shù)據(jù)收集只需15-30min。令人難以置信的低角度性能,優(yōu)秀的峰值低至1o,。
600W 的x射線的力量,*可以實(shí)現(xiàn)的應(yīng)用解決峰值：< 0.05°2θ角精度的<±0.02°Δ2θ全角范圍,AXRD臺(tái)式,提供了一個(gè)低成本替代粉末衍射,同時(shí)保持所有必要的性能,即使是較苛刻的x射線衍射材料調(diào)查。
無(wú)論你是做階段識(shí)別,、定量分析或結(jié)構(gòu)分析AXRD臺(tái)式帶給你多年的方便和價(jià)值在一個(gè)緊湊的,易于維護(hù)系統(tǒng),。
優(yōu)秀的分辨率,，準(zhǔn)確性和數(shù)據(jù)質(zhì)量
PROTO AXRD 臺(tái)式X-射線衍射儀
無(wú)論你是做階段識(shí)別、定量分析或結(jié)構(gòu)分析AXRD臺(tái)式帶給你多年的方便和價(jià)值在一個(gè)緊湊的,易于維護(hù)系統(tǒng),。
優(yōu)秀的分辨率,，準(zhǔn)確性和數(shù)據(jù)質(zhì)量
六硼化鑭
二十二酸銀鹽
*進(jìn)的x射線探測(cè)器
DECTRIS®混合光子計(jì)數(shù)探測(cè)器——高速數(shù)據(jù)采集
- 640通道高速固態(tài)線性探測(cè)器。
-同時(shí)多個(gè)通道集合使集合的速度比a快100倍,。閃爍計(jì)數(shù)器
-使用硅片技術(shù)直接檢測(cè)x射線。
—全球1 x10 ^ 9計(jì)數(shù)的計(jì)數(shù)率/ s
-高速采集時(shí)間,。
- 32毫米x8毫米傳感器區(qū)域,。
-優(yōu)良的信噪比和非常高的動(dòng)態(tài)范圍。
-熒光抑制模式
SPD硅點(diǎn)探測(cè)器- XRD和XRF在一個(gè)方便的包中,。
-能量甄別單通道固態(tài)探測(cè)器。
-推薦用于高熒光的樣品(例如Fe和Co)
-不需要衍射光束單色器,。
—Kβ抑制功能
—粉使用Kα1模式集合,2或Kβ
-使用XRF頻譜來(lái)協(xié)助樣品的化學(xué)鑒定,，并改善搜索結(jié)果。
優(yōu)異的精確性
我們的全合一軟件對(duì)粉末模式的數(shù)據(jù)采集和分析是基本定性和定量分析的*解決方案,。XRDWIN的一些*的功能包括:儀器預(yù)熱和控制,、數(shù)據(jù)采集、k-alpha 1和k-alpha 2分離,、數(shù)據(jù)平滑、集成強(qiáng)度,、背景擬合,、峰搜索、峰擬合,、強(qiáng)度比方法定量分析,、尖峰法定量分析、晶粒尺寸和應(yīng)變,。另外還有ICDD數(shù)據(jù)庫(kù)搜索匹配和MDI Jade接口,。我們提供無(wú)限的軟件支持,。
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