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化工儀器網(wǎng)>產(chǎn)品展廳>物理特性分析儀器>測厚儀>其它測厚儀 >Dektak XTL 探針式輪廓儀

Dektak XTL 探針式輪廓儀

具體成交價以合同協(xié)議為準
  • 公司名稱 鉑悅儀器(上海)有限公司
  • 品牌 其他品牌
  • 型號 Dektak XTL
  • 產(chǎn)地
  • 廠商性質 代理商
  • 更新時間 2025/1/2 12:44:07
  • 訪問次數(shù) 3749

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聯(lián)系我們時請說明是化工儀器網(wǎng)上看到的信息,,謝謝!


鉑悅儀器自2004年成立以來,憑借與世界各大儀器品牌的戰(zhàn)略合作關系,,以及不斷優(yōu)化公司自身經(jīng)營管理,,提高服務質量,成為中國國內(nèi)的儀器供應商,。鉑悅儀器所提供的產(chǎn)品均屬于高科技行業(yè),,產(chǎn)品包括高精度的分析儀器、檢測儀器和生產(chǎn)設備,,以及配套的耗材和配件,,這些產(chǎn)品廣泛應用于工業(yè)、環(huán)境,、食品,、生物、地質,、半導體,、太陽能、醫(yī)藥,、醫(yī)療器械,、藝術考古、刑偵等各個領域并服務于各大院校,、研究所,、檢測機構,、及政府部門等。

鉑悅儀器不僅擁有高品質的產(chǎn)品,,更培養(yǎng)了專業(yè)的銷售,、應用支持和售后服務團隊。本著客戶至上的原則,,從客戶的實際需求出發(fā),,鉑悅儀器為客戶提供儀器銷售,安裝培訓,,應用支持,,代檢測服務及儀器短期租賃服務等綜合解決方案,并提供持續(xù)而良好的售后服務,,由此也獲得了廣大客戶的信任與認可,。

企業(yè)文化Corporate Culture: CREDIT

C- Confidence: 自信

R- Responsibility: 責任心

E- Efficiency: 效率

D- Diligence: 勤奮

I- Intelligence: 機智

T- Trust: 信任

鉑悅儀器持續(xù)為您提供:儀器銷售,安裝培訓,,應用支持,,代檢測服務及儀器短期租賃服務。

行業(yè)涵蓋:

工業(yè),、環(huán)境,、食品、生物,、地質,、半導體、太陽能,、醫(yī)藥,、醫(yī)療器械、藝術考古,、刑偵

應用范圍:

材料成份分析(定性/定量)
大面積材料元素分布
材料表面/形貌分析
3D掃描--快速3D成像
CT--3D內(nèi)部結構分析
太陽能IV檢測

產(chǎn)品:

-- 直讀光譜儀
-- 手持式XRF分析儀 S1 TITAN
-- 科研級手持式XRF分析儀TRACER
-- 便攜式熒光光譜儀 ELIO
-- 便攜臺式XRF分析儀 CTX
-- 微區(qū)X射線熒光光譜儀-元素掃描M4 TORNADO
-- 巖芯分析儀
-- 臺階儀,、光學輪廓儀、原子力顯微鏡AFM
-- 臺式X射線熒光測厚儀
-- X射線透射系統(tǒng)/3D斷層掃描系統(tǒng) (CT )
-- 3D掃描儀
-- 便攜式IV曲線檢測儀

 

 

 

 

 

巖芯分析儀,,微區(qū)X射線熒光光譜儀,,直讀光譜儀,手持式合金分析儀;Bruker臺階儀,光學輪廓儀,摩擦磨損儀,原子力顯微鏡;膜厚儀,藝術與考古分析儀

產(chǎn)地類別 進口 價格區(qū)間 面議
應用領域 電子,綜合

探針式輪廓儀系統(tǒng)Dektak XTL.jpg

探針式輪廓儀是一種用于化學,、材料科學,、電子與通信技術、化學工程領域的分析儀器,。分析樣品表面大尺寸三維形貌,,探測樣品厚度。

   布魯克公司的新型DektakXTL探針式輪廓儀系統(tǒng)可容納多大350mm*350mm的樣品,,將Dektak有意的可重復性和再現(xiàn)性應用于大尺寸晶片及面板制造業(yè),。DektakXTL集成氣體隔振裝置和方便的交互鎖裝置使儀器在全封閉工作環(huán)境下運行,,是當今要求苛刻的生產(chǎn)環(huán)境的理想之選。它的雙攝像頭設置使空間感增強,,其高水平自動化可生產(chǎn)量,。

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   探針式輪廓儀系統(tǒng)DektakXTL產(chǎn)品特性

   一、Bruker公司的雙攝像頭控制系統(tǒng)

   1.通過點擊實時視頻更快鎖定到關注點

   2.通過選擇實時視頻中的兩個點快速定位樣品(自動旋轉使連線水平)

   3.通過在實時視頻中點擊掃描起始和結束位置簡化測量設置(教學)

   二,、自動化設置和操作

   1.借助300毫米的自動化編碼XY工作臺以及360度旋轉能力,,編程控制無限制測量位置。

   2.利用帶圖形識別功能的Vision64位產(chǎn)品軟件減少使用中的定位偏差

   3.將自定義用戶提示以及其它元數(shù)據(jù)編入您的方案中,,并存儲到數(shù)據(jù)庫內(nèi)

   三,、方便的分析和數(shù)據(jù)采集

   1.快速分析儀支持大部分常用分析方法,可輕松實現(xiàn)分析程序自動化

   2.通過臺階檢測功能將分析集中于復雜樣品上感興趣的特征

   3.通過賦予每個測量點名稱并自動記錄到數(shù)據(jù)庫來簡化數(shù)據(jù)分析

   4.Dektak在大樣品制造業(yè)中的傳奇性能

   四,、業(yè)界自動分析軟件

   新增軟件功能使DektakXTL成為市面上易使用的探針式輪廓儀,。系統(tǒng)使用的Vision64軟件,與Bruker公司的光學輪廓儀*兼容,。Vision64軟件可以進行樣品任何位置測量,、3D繪圖以及借助數(shù)百個內(nèi)置分析工具實現(xiàn)的高度定制表征方法。也可以使用VisionMicroform軟件來測量曲率半徑等形狀,。

   五,、探針式檢測技術

   圖形識別功能可以盡量減少操作員誤差并測量位置精度。在同一軟件包內(nèi),,以直觀流程進行數(shù)據(jù)采集和2D,、3D分析。每個系統(tǒng)都帶有Vision軟件許可證,,可在裝有Windows7操作系統(tǒng)的個人電腦上安裝,,用戶可在電腦桌面上創(chuàng)建數(shù)據(jù)分析和報告。

   DektakXTL擁有超過40年的探針經(jīng)驗和軟件定制生產(chǎn)經(jīng)驗,,符合現(xiàn)在和未來的嚴格的行業(yè)發(fā)展藍圖,。

         


   應用

   一、晶片應用:                             二,、大型基板應用:

   沉積薄膜(金屬,、有機物)的臺階高度     印刷電路板(凸起、臺階高度)

   抗蝕劑(軟膜材料)的臺階高度                   窗口涂層

   蝕刻速率測定                       晶片掩模

   化學機械拋光(腐蝕,,凹陷,,彎曲)      晶片卡盤涂料

   拋光板

   三、玻璃基板及顯示器應用:                    四,、柔性電子器件薄膜:

   AMOLED                         有機光電探測器

   液晶屏研發(fā)的臺階步級高度測量         印于薄膜和玻璃上的有機薄膜

   觸控面板薄膜厚度測量                觸摸屏銅跡線

   太陽能涂層薄膜測量

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