DektakXT 臺階儀-表面輪廓儀
參考價 | ¥ 500000 |
訂貨量 | ≥1 件 |
- 公司名稱 鉑悅儀器(上海)有限公司
- 品牌 其他品牌
- 型號 DektakXT
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 代理商
- 更新時間 2025/1/2 11:35:30
- 訪問次數(shù) 10273
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巖芯分析儀,,微區(qū)X射線熒光光譜儀,,直讀光譜儀,手持式合金分析儀;Bruker臺階儀,光學(xué)輪廓儀,摩擦磨損儀,原子力顯微鏡;膜厚儀,藝術(shù)與考古分析儀
- 【電子檢測】臺階儀在晶圓測試的應(yīng)用09月14日
產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 | 價格區(qū)間 | 面議 |
---|---|---|---|
應(yīng)用領(lǐng)域 | 電子 | 探針尖半徑 | 50nm~25um |
臺階高度重復(fù)性 | 測量重復(fù)性可以到5? | 1? 測量樣品最大尺寸 | 50mm |
德國布魯克DektakXT臺階儀(探針式表面輪廓儀)可以提供更高的重復(fù)性和分辨率,,測量重復(fù)性可以到5?,。臺階儀這項(xiàng)性能的到了過去四十年Dektak技術(shù),更加鞏固了其行業(yè),。不論應(yīng)用于研發(fā)還是產(chǎn)品測量,,通過在研究工作中的廣泛使用,DektakXT能夠做到功能更強(qiáng)大,,操作更簡易,,檢測過程和數(shù)據(jù)采集更完善。第十代DektakXT臺階儀(探針式表面輪廓儀)的技術(shù),,使納米尺度的表面輪廓測量成為可能,,從而可以廣泛的應(yīng)用于微電子器件,,半導(dǎo)體,電池,,高亮度發(fā)光二管的研發(fā)以及材料科學(xué)領(lǐng)域,。
臺階儀DektakXT能實(shí)現(xiàn):
1、 使用溫度條件:10-30℃,;
2,、很好的性能,臺階高度重現(xiàn)性低于4埃
3,、Single-arch設(shè)計(jì)提供掃描穩(wěn)定性
4,、的“智能電子器件”設(shè)立了新低噪音基準(zhǔn)
5、新硬件配置使數(shù)據(jù)采集時間縮短
6,、64-bit,,Vision64同步數(shù)據(jù)處理軟件,使數(shù)據(jù)分析速度高了10倍
7,、頻率,,操作簡易
8、直觀的Vision64用戶界面,,操作簡易
9,、針尖自動校準(zhǔn)系統(tǒng)
10,、布魯克(Bruker)以實(shí)惠的配置實(shí)現(xiàn)高的性能
11,、單傳感器設(shè)計(jì),提供單一平面上低作用和寬掃描范圍
建立在40多年的探針輪廓技術(shù)的知識和經(jīng)驗(yàn)薄膜測試儀,,在基于微處理器的輪廓儀,,和300mm自動輪廓儀DektakXT繼承了以往的。新的DektakXT是single-arch設(shè)計(jì)的探針輪廓儀,,內(nèi)置真彩高清光學(xué)攝像機(jī),,及安裝64-bit并行處理架構(gòu)已獲得測量及操作效率的探針輪廓儀
當(dāng)需要臺階高度、表面粗糙度,、測量時,,人們就會借助Dektak。引進(jìn)DektakXT,,Bruker能讓您進(jìn)一步獲得表面測量
數(shù)據(jù)采集和分析速度
直接驅(qū)動掃描平臺,,Dektak XT減少了掃描間的時間,而沒有影響分辨率和背景噪聲,。這一改進(jìn)大范圍掃描3D形貌或者對于表面應(yīng)力長程掃描(就探針輪廓儀而言,,通常是耗時的)的掃描速度。在行業(yè)的質(zhì)量和重現(xiàn)性前提下,,DektakXT可以將數(shù)據(jù)采集處理的速度,。另外,,DektakXT采用Bruker64-bit數(shù)據(jù)采集分析同步操作軟件Vision64,它可以大范圍3D形貌圖的高數(shù)據(jù)量處理速度,,并且可以加快濾波器的工作速度和多模式掃描是的數(shù)據(jù)分析,。Vision64還具有行業(yè)內(nèi)的直觀用戶界面,簡化了實(shí)驗(yàn)操作設(shè)置,,自動完成多掃描模式,,讓重復(fù)和常規(guī)的實(shí)驗(yàn)操作變得更快速簡潔。