UHV VT-350/750 超高真空變溫變磁場(chǎng)掃描探針顯微鏡
- 公司名稱 QUANTUM量子科學(xué)儀器貿(mào)易(北京)有限公司
- 品牌
- 型號(hào) UHV VT-350/750
- 產(chǎn)地 美國(guó)RHK Technology Inc.
- 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
- 更新時(shí)間 2024/4/18 8:50:50
- 訪問(wèn)次數(shù) 2980
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RHK Tech.公司用其多年來(lái)積累的設(shè)計(jì)經(jīng)驗(yàn),,推出了UHV VT-300/700 STM和UHV VT-350/750 AFM/STM等“模塊化”組合式 (Modular)超高真空系列產(chǎn)品,。
RHK Tech.公司*的模塊化設(shè)計(jì)賦予了該系列產(chǎn)品的適應(yīng)性。無(wú)論是掃描臺(tái),、樣品臺(tái),、變溫組件,還是樣品架,,他們都可以很容易地進(jìn)行替換和升以滿足您不斷進(jìn)步的科學(xué)研究的需要,。與此同時(shí),您也可以根據(jù)自己的科研要求,,自行選擇各種SPM組件,,隨后RHK Tech.公司的工程師們會(huì)以其雄厚的技術(shù)底蘊(yùn)、*的系統(tǒng)化設(shè)計(jì),,為您量身定做提供套性能異的表面分析設(shè)備,。
UHV 350&750系列AFM/STM系統(tǒng) | |
UHV 350系列采用外部氣柱振動(dòng)隔離系統(tǒng) , 充分用了“Beetle”設(shè)計(jì)的點(diǎn)。真空室外設(shè)計(jì)了多個(gè)面向針尖/樣品接觸面的端口。除了良好的樣品操作視角和內(nèi)部傳輸視角外,,該系統(tǒng)還提供了全面的光學(xué)信號(hào)輸入接口,,為諸如NSOM之類的研究設(shè)備提供了有的條件。位置固定的樣品臺(tái)和無(wú)磁性源的顯微鏡設(shè)計(jì)為SPM/光學(xué)設(shè)備聯(lián)合系統(tǒng)提供了個(gè)理想的研究環(huán)境,。 | |
![]() | UHV 750系列采用內(nèi)部彈簧懸掛暨渦流振動(dòng)隔離系統(tǒng),,它采用穩(wěn)定的“Beetle”設(shè)計(jì),振動(dòng)隔離通過(guò)內(nèi)部的彈簧懸掛和渦流阻尼來(lái)實(shí)現(xiàn),。UHV 700系列也可以為用戶提供良好的光學(xué)接入端口,。彈簧懸掛系統(tǒng)可以很容易被鎖定,便于針尖和樣品的更換,。 |
AFM&STM掃描臺(tái)結(jié)構(gòu) | |
UHV STM 350和750系列子系統(tǒng)中,,高質(zhì)量的低電流成像技術(shù)已經(jīng)建立并發(fā)展了二十多年。靈活的操作模式與低噪音,、大帶寬電子控制器件的聯(lián)合,,為用戶提供了個(gè)*的STM系統(tǒng),。RHK設(shè)計(jì)的針尖更換系統(tǒng)可通過(guò)簡(jiǎn)單的操作而完成新舊針尖的替換,,同時(shí)也可以原位對(duì)針尖進(jìn)行修飾或者加熱。 UHV 350/750 STM掃描臺(tái)點(diǎn):低電流成像技術(shù):<1pA at 5kHz bandwidth,;高速掃描:3 Frames/Second,;異的熱穩(wěn)定性和機(jī)械穩(wěn)定性。 | |
![]() | UHV350&750系列的AFM/STM子系統(tǒng)采用了傳統(tǒng)的激光反射型反饋設(shè)計(jì),,這會(huì)賦予AFM多種操作模式:垂直力,、側(cè)向力、非接觸,、近場(chǎng)接觸,、恒高、CAFM,、MFM,、同步AFM/STM等各種模式。UHV 350系列包括了標(biāo)準(zhǔn)的商用微懸臂安裝臺(tái)和標(biāo)準(zhǔn)的STM針尖安裝臺(tái),。針尖和微懸臂易于更換和存放,,而更換用的針尖架可對(duì)針尖進(jìn)行原位熱處理和離子束修飾。 UHV 350/750 AFM掃描臺(tái)點(diǎn):貫通的激光通道,,無(wú)需任何平面鏡和棱鏡,;正交激光與位置敏感探測(cè)器對(duì)準(zhǔn);真正的摩擦力定量測(cè)量,。 |
變溫樣品臺(tái) | |
UHV 350/750系列采用的變溫設(shè)計(jì)允許在不破環(huán)真空的前提下,,進(jìn)行加熱功能和冷卻功能的快速轉(zhuǎn)換。樣品溫度范圍從<25K到>1500K。 | |
![]() ![]() | 樣品加熱方式
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![]() ![]() | 樣品冷卻方式
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