IMEC清洗法通常指由比利時微電子研究中心(Imec,,原縮寫為IMEC)開發(fā)或推廣的半導體硅片清洗技術(shù)。以下是關(guān)于IMEC清洗法的可能技術(shù)特點與背景解析:
1. 可能的技術(shù)內(nèi)涵
原子級潔凈度:
IMEC可能研究或優(yōu)化了結(jié)合兆聲波(MegaSonic)清洗,、等離子體處理或紫外氧化分解的技術(shù),,以實現(xiàn)亞微米顆粒(<0.1μm)和有機污染物的高效去除,滿足EUV光刻,、High-K/Metal Gate等制程對表面潔凈度的嚴苛要求。
無損傷與選擇性:
針對脆弱材料(如3D NAND的垂直孔洞結(jié)構(gòu),、HBM的薄層堆疊),,IMEC可能開發(fā)了低應力刷洗技術(shù)或化學液精準調(diào)控方案,避免機械損傷或化學腐蝕過度,。
環(huán)保與可持續(xù)性:
IMEC可能推動無氟清洗液(如檸檬酸,、過氧化氫體系)、低溫工藝(<40℃)或溶劑回收技術(shù)(如IPA蒸餾再利用),以降低碳排放和危廢處理成本,。
智能化集成:
結(jié)合AI算法實時優(yōu)化清洗參數(shù)(如時間,、溫度、超聲頻率),,或通過數(shù)字孿生技術(shù)模擬污染物分布與清洗效果,,提升工藝效率與良率。
2. 具體技術(shù)示例(推測)
SCREEN-IMEC聯(lián)合工藝:
IMEC與Screen Seimi等設(shè)備商合作,,開發(fā)單片清洗機中的復合清洗模塊,,例如“兆聲波+刷洗+化學噴淋”多步處理,適用于Chiplet封裝中的臨時鍵合劑(TBA)去除,。
等離子體輔助清洗:
使用氧基或氬基等離子體分解有機物,,替代傳統(tǒng)濕法工藝,減少化學廢液排放,,同時實現(xiàn)更均勻的表面處理,。
紫外增強清洗(UV-Clean):
通過深紫外(DUV)光解吸附顆粒與有機物,配合超純水沖洗,,避免兆聲波空化效應對敏感結(jié)構(gòu)的損傷,。
3. 行業(yè)背景與應用
制程需求驅(qū)動:
隨著芯片制程進入3nm以下節(jié)點,傳統(tǒng)RCA清洗法難以滿足原子級潔凈度要求,,IMEC的研究可能聚焦于混合鍵合(Hybrid Bonding),、GAA(全環(huán)繞柵極)晶體管等新結(jié)構(gòu)對應的清洗挑戰(zhàn)。
產(chǎn)業(yè)鏈影響力:
IMEC的清洗技術(shù)可能通過與設(shè)備商(如LAM Research,、DNS)合作,,轉(zhuǎn)化為商業(yè)化解決方案,例如用于EUV光罩修復,、HBM堆疊前的表面處理等場景,。
“IMEC清洗法”并非一個標準化術(shù)語,而是泛指IMEC在硅片清洗領(lǐng)域提出的創(chuàng)新技術(shù),。其核心可能圍繞原子級潔凈度,、低損傷、環(huán)保與智能化展開,,旨在解決傳統(tǒng)清洗工藝在制程中的瓶頸問題,。
相關(guān)產(chǎn)品
免責聲明
- 凡本網(wǎng)注明“來源:化工儀器網(wǎng)”的所有作品,均為浙江興旺寶明通網(wǎng)絡有限公司-化工儀器網(wǎng)合法擁有版權(quán)或有權(quán)使用的作品,,未經(jīng)本網(wǎng)授權(quán)不得轉(zhuǎn)載,、摘編或利用其它方式使用上述作品。已經(jīng)本網(wǎng)授權(quán)使用作品的,,應在授權(quán)范圍內(nèi)使用,,并注明“來源:化工儀器網(wǎng)”,。違反上述聲明者,本網(wǎng)將追究其相關(guān)法律責任,。
- 本網(wǎng)轉(zhuǎn)載并注明自其他來源(非化工儀器網(wǎng))的作品,,目的在于傳遞更多信息,并不代表本網(wǎng)贊同其觀點和對其真實性負責,,不承擔此類作品侵權(quán)行為的直接責任及連帶責任,。其他媒體、網(wǎng)站或個人從本網(wǎng)轉(zhuǎn)載時,,必須保留本網(wǎng)注明的作品第一來源,,并自負版權(quán)等法律責任。
- 如涉及作品內(nèi)容,、版權(quán)等問題,,請在作品發(fā)表之日起一周內(nèi)與本網(wǎng)聯(lián)系,否則視為放棄相關(guān)權(quán)利,。