S wide大面積3D光學(xué)測量系統(tǒng)的應(yīng)用和優(yōu)點
新世代的大范圍計量工具
S wide 是專用系統(tǒng),,適用于快速測量大樣品區(qū)域,,測量面積最高可達 300 x 300 mm,。它具有集成了數(shù)字顯微鏡的高分辨率測量儀器的所有優(yōu)點,。一鍵式采集功能,,易于使用,。
解決方案
大面積3D光學(xué)測量系統(tǒng)
先進制造業(yè)
考古學(xué)與古生物學(xué)
消費類電子產(chǎn)品
醫(yī)療設(shè)備
模塑
光學(xué)
鐘表業(yè)
關(guān)鍵特性
整個拼接擴展區(qū)域都擁有亞微米高度重復(fù)性,。
無需Z軸掃描即可測量最高40mm的單次測量高度,。
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具有極低場失真的雙側(cè)遠心鏡頭,,提供精確的測量。
與3D CAD模型的形狀偏差 提供幾何差異和公差測量
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可追溯性
表面紋理測量儀器的校準
我們的所有系統(tǒng)精心制造,,提供準確,、可追溯的測量。系統(tǒng)按照符合ISO 25178第 7 部分關(guān)于下列參數(shù)的指南的可追溯標準進行校準:Z 放大系數(shù),、XY 橫向尺寸,、平面度誤差以及偏心度。
相關(guān)產(chǎn)品
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