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掃描電鏡高溫原位系統(tǒng)通過MEMS芯片對樣品施加熱場控制，在原位樣品臺內(nèi)構(gòu)建熱場自動控制及反饋測量系統(tǒng),，結(jié)合EDS,、EBSD等多種不同模式，實現(xiàn)從納米甚至原子層面實時,、動態(tài)監(jiān)測樣品在真空環(huán)境下隨溫度變化產(chǎn)生的微觀結(jié)構(gòu),、相變、元素價態(tài),、微觀應(yīng)力以及表/界面處的原子級結(jié)構(gòu)和成分演化等關(guān)鍵信息,。
應(yīng)用：
1,、材料科學研究：用于研究材料在高溫下的力學性能、變形,、斷裂等失效機制的微觀過程,，為新材料的設(shè)計和優(yōu)化提供重要支持。
2,、工程材料設(shè)計：通過實時觀察材料在不同應(yīng)力條件下的微觀結(jié)構(gòu)和變化過程,，為工程材料的疲勞壽命預測和性能提升提供依據(jù)。
3,、納米材料研究：結(jié)合納米力學測試技術(shù),，實時觀察納米材料的變形和斷裂行為，揭示其特殊的力學特性,。
4,、材料相變與晶體生長：通過加熱或冷卻不同材料，實時觀察材料的相變過程和晶體生長機制,，有助于對材料結(jié)構(gòu)與性能的影響進行深入了解,。
掃描電鏡高溫原位系統(tǒng)是應(yīng)用廣泛的科研儀器，在材料科學研究,、工程材料設(shè)計等領(lǐng)域發(fā)揮著重要作用,。
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