顏色 – 偏光顯微研究
       光學(xué)顯微鏡和電子顯微鏡是礦相學(xué)和礦物表征的*備工具,。典型的應(yīng)用是對礦物的紋理和解離進(jìn)行定性,、定量分析及測定,。大部分巖石和礦物樣品含有光學(xué)各向異性材料,。顏色是在顯微鏡下鑒定礦物的最重要屬性之一,。因此,，偏光顯微鏡對礦物樣品的鑒定與研究具有十分重要的作用,。偏光顯微鏡能夠分析晶粒大小和形狀,、結(jié)晶度和巖石礦物形貌,，幫助識別各類巖石礦物。
檢測更多的特性
       偏光顯微鏡在礦物表征中的廣泛應(yīng)用包括分析多色性,、折射率和整體表面形貌,，以及孿晶、雜質(zhì)和解理等,。巖石形成的條件,，如溫度、壓力,、形成時(shí)的組份,、溶液結(jié)晶化或熔體凝固化，都會影響礦物形貌,、結(jié)晶及光學(xué)特性,，也可以作為我們判定某一特定巖石的成因和來源的依據(jù)。
適用于您特定需求的各種觀察方式
       借助透射偏光顯微鏡可以對拋光薄片進(jìn)行研究,，運(yùn)用正交,、錐光、DIC 及相差等各種透射光技術(shù)識別單個(gè)晶體和礦物顆粒,。對于不透明的礦物,，利用明場、暗場、DIC（微分干涉相差）或 C-DIC 等反射光觀察方法,，能夠分析比如攣晶的顏色,、晶體解理面及形貌等特征。大多數(shù)情況下,，在對各向異性材料進(jìn)行分類時(shí),，對錐光觀察獲得的干涉圖像進(jìn)行分析的價(jià)值遠(yuǎn)勝于物體本身的圖像信息。
選擇適合的儀器
       在礦物學(xué)教育和礦石研究領(lǐng)域中,，偏光顯微鏡也是您的首要選擇,，它包括簡易的觀察系統(tǒng)和*端的分析型儀器。這類顯微鏡永遠(yuǎn)不會過時(shí),，并能隨時(shí)進(jìn)行升級,。它可以提供無應(yīng)力光學(xué)元件、全功能的觀察方式和測量技術(shù),，正交偏光和錐光鑒定,，解理角的測定，并有多種選配件以及數(shù)字分析功能,。
如需獲取更深層的信息
       掃描電子顯微鏡是一種多用途的分析儀器,，例如可用于礦相分類和定量研究及礦物解離分析。礦石 & 礦物表征的*常用信號為背散射電子信號,，它能用于提供化學(xué)信息,。