光學(xué) 3D 表面輪廓儀采用先進(jìn)的光學(xué)原理和精密的測量技術(shù),，能夠?qū)ξ矬w表面進(jìn)行非接觸式的三維測量,。與傳統(tǒng)的測量方法相比,，它具有諸多優(yōu)勢,。首先,，非接觸式測量避免了對被測物體的損傷,，尤其對于一些精密的,、易損的材料和工件,，能夠在不影響其性能的前提下進(jìn)行準(zhǔn)確測量,。其次，高分辨率的測量能力可以捕捉到物體表面微小的細(xì)節(jié),，無論是納米級的微觀結(jié)構(gòu)還是宏觀物體的復(fù)雜形貌,，都能清晰呈現(xiàn)。再者,，快速的測量速度使得它能夠在短時間內(nèi)完成大量數(shù)據(jù)的采集,，提高了工作效率。

SuperViewW 系列光學(xué) 3D 表面輪廓儀,，涵蓋了多種不同類型的產(chǎn)品,，滿足了不同客戶的多樣化需求。無論是追求高精度測量的科研機構(gòu),，還是需要測量大尺寸工件的工業(yè)企業(yè),，都能在這個系列中找到適合自己的解決方案。

高精度：精準(zhǔn)捕捉每一個細(xì)節(jié)

在高精度測量要求的應(yīng)用場景中,，高精度光學(xué) 3D 表面輪廓儀采用先進(jìn)的白光干涉技術(shù),，能夠精確地捕捉物體表面的微小細(xì)節(jié)，為科研人員和工程師們提供了可靠的數(shù)據(jù)支持,。如在材料科學(xué)領(lǐng)域,，通過高精度光學(xué) 3D 表面輪廓儀對新型納米材料進(jìn)行表面形貌研究，可以精準(zhǔn)測量出納米材料表面的高度信息,、粗糙度等關(guān)鍵數(shù)據(jù),，為進(jìn)一步優(yōu)化材料性能提供了重要依據(jù)。其精度之高,，可達(dá)到納米級別,。

大尺寸測量：輕松應(yīng)對大型工件

在需要測量大尺寸工件時，SuperViewW 系列同樣有相應(yīng)的產(chǎn)品可供選擇,。這些大尺寸測量儀器具備廣闊的測量范圍和穩(wěn)定的性能,，能夠輕松應(yīng)對各種大型工件的測量任務(wù)。

WX-S1000,，升級版超大行程光學(xué)3D表面輪廓儀（龍門結(jié)構(gòu),，超大行程，氣浮隔振，穩(wěn)如泰山）,，2D表面測量/3D立體重建一鍵全自動測量,，高精度微納尺寸形貌檢測利器。

多種產(chǎn)品滿足各種特殊需求

除了高精度和大尺寸測量的產(chǎn)品外,，SuperViewW 系列還包括了多種不同功能和規(guī)格的光學(xué) 3D 表面輪廓儀,，以滿足不同行業(yè)和應(yīng)用場景的特殊需求。有的產(chǎn)品具備快速測量功能,，能夠在短時間內(nèi)完成大量樣品的測量任務(wù),，提高生產(chǎn)效率；有的產(chǎn)品則具有便攜性,，方便用戶在現(xiàn)場進(jìn)行測量,，為戶外作業(yè)和緊急情況提供了便利。

白光干涉測頭具有體積小,、重量輕,、便攜的特點，能夠方便地搭載在各種具備XY水平位移架構(gòu)的平臺上,，在產(chǎn)線上對器件表面進(jìn)行自動化形式的測量,，直接獲取與表面質(zhì)量相關(guān)的粗糙度、輪廓尺寸等2D/3D參數(shù),。

在科研領(lǐng)域,，科學(xué)家們可以利用光學(xué) 3D 表面輪廓儀來分析各種新型材料的表面特性，如粗糙度,、紋理,、高度分布等，從而深入了解材料的性能和潛在應(yīng)用,；

在半導(dǎo)體行業(yè),，對芯片表面的高精度測量至關(guān)重要。光學(xué) 3D 表面輪廓儀能夠精確測量芯片的微觀結(jié)構(gòu),，確保芯片的質(zhì)量和性能符合嚴(yán)格的標(biāo)準(zhǔn),；

在機械制造領(lǐng)域，它可以用于檢測零部件的表面質(zhì)量,，為加工工藝的優(yōu)化提供依據(jù),；

例如，光學(xué) 3D 表面輪廓儀通過納米傳動與掃描技術(shù),、白光干涉與高精度3D重建技術(shù)實現(xiàn)0.1nm級表面粗糙度測量,，在光通信行業(yè)中輕松實現(xiàn)針對光纖端面粗糙度的測量。

光纖端面測量場景及3D圖像