什么是AFM探針,？

AFM探針，是在掃描隧道顯微鏡探針基礎(chǔ)上發(fā)明的一種新的原子級高分辨率儀器,，可在大氣,、液體環(huán)境中檢測納米區(qū)材料及樣品的物理特性，也可直接進行納米操作,。

1985年,，來自IBM的Binning和Stanford大學(xué)的Quate開發(fā)出了AFM探頭，以彌補STM的不足,，使之能夠?qū)θ魏螛悠?不論是否導(dǎo)電)表面進行測量,。AFM探頭是利用一端帶有一小點針頭和一根針尖的微懸臂來取代STM隧道針尖，它是通過檢測針尖和試樣間的作用力來獲得表面成像,。

AFM探針原理是什么,？

利用微細探針對試樣的表面進行“摸索”以獲取信息，原理更為簡單,。在靠近試樣的位置上,，針尖受力的影響,，使懸臂產(chǎn)生彎曲或振幅變化。在測量系統(tǒng)檢測到的懸臂改變之后,，將其轉(zhuǎn)化為電信號傳給反饋系統(tǒng)和成像系統(tǒng)，在掃描過程中記錄一系列探針變化,，即可得到樣品表面信息圖像

AFM探頭的開發(fā)基于STM探頭,。其區(qū)別在于，它沒有利用電子隧道效應(yīng),，而是利用原子間的范德華力作用,，呈現(xiàn)樣品的表面性質(zhì)。假定兩個原子分別位于懸臂處的探針和樣品表面,，兩者間的力隨著距離的變化而變化,。

在離原子很近的地方，電子云斥力的相互影響比原子核和電子云之間的引力大,，因此,，整個合力就會顯示出斥力，相反地,，如果兩原子分開有一段距離,，其電子云斥力的作用小于彼此原子核和電子云之間的吸引力，因此,，整個合力作用表現(xiàn)為重力效應(yīng),。橘河科技小編告訴大家，AFM探頭利用了原子間的細微關(guān)系,，將原子形貌表現(xiàn)出來,。