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LiteScope AFM-SEM 同步聯(lián)用技術(通用版)

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復納科學儀器(上海)有限公司(簡稱“復納科技”)于 2012 年在上海成立,,聚焦荷蘭飛納臺式掃描電鏡在中國市場的推廣和應用,涵蓋領域包括材料,、鋰電新能源,、半導體、生命科學和法醫(yī)檢測等,。

截止目前,,復納科技服務超過 2000 家飛納電鏡客戶和 100 家相關產(chǎn)品客戶,包括:清華大學,、北京大學、復旦大學,、上海交通大學,、華南理工大學和中科院系統(tǒng)等高校科研單位,;巴斯夫,、寧德時代,、微軟、默克和出入境檢驗局等企事業(yè)單位,。

2017 年開始,,復納科技陸續(xù)與 7 家行業(yè)品牌建立了長期合作,致力于為中國高校,、研究所,、企業(yè)和政府用戶提供先進可靠、高效智能的科學分析儀器,、優(yōu)質專業(yè)的服務和基于核心技術的解決方案,。目前已引進先進的:DENSsolutions TEM原位樣品桿,飛納臺式掃描電鏡,,NEOSCAN臺式高分辨顯微 CT,,F(xiàn)orgeNano原子層沉積、 Technoorg Linda SEM/TEM樣品制備和VSParticle 納米氣溶膠沉積等設備,。

十年以來,,復納科技賦能中國科研創(chuàng)新、工業(yè)升級,,人工智能檢測的使命也越來越清晰,。

 

 

 

 

臺式掃描電鏡,SEM / TEM 樣品制備,,ALD 原子層沉積,,TEM 原位樣品桿,X 射線顯微 CT

產(chǎn)地類別 進口 價格區(qū)間 面議
樣品尺寸 8 mmmm 樣品臺移動范圍 80 µm x 80 µm x 16 µmmm*mm
儀器種類 原子力顯微鏡 應用領域 生物產(chǎn)業(yè),電子/電池,鋼鐵/金屬

AFM-SEM 同步聯(lián)用技術(通用版)

產(chǎn)品簡介

革命性的原子力顯微鏡(AFM),,可實現(xiàn)與掃描電子顯微鏡(SEM)的無縫集成,,為原位關聯(lián)顯微鏡開辟新可能。

憑借優(yōu)化設計,,LiteScope AFM 兼容賽默飛世爾,、TESCAN、蔡司,、日立,、JEOL 等主流品牌 SEM 系統(tǒng)及其配件,其他品牌電鏡亦可定制適配,。

 

測量模式:

• 機械性能:AFM,,能量耗散,相位成像

• 電性能:C-AFM,、KPFM,、EFM、STM

• 磁性能:MFM

• 電機械性:PFM

• 光譜學:F-z

 曲線,I-V 曲線

• 相關性分析:CPEM


AFM-SEM 同步聯(lián)用技術(通用版)

實用特點

  • 原位樣品表征

在 SEM 內部的原位條件下確保樣品分析同時,、同地,、同條件下進行,并且在飛納電鏡內部也能實現(xiàn)原子級分辨率

  • 精確定位感興趣區(qū)域

    SEM 與 AFM 原位聯(lián)用,,保證了同一時間,、同一地點和相同條件下的分析 使用 SEM 畫面,實時觀測探針與樣品的相對位置,,為探針提供導航,,精準定位

  • 實現(xiàn)復雜的樣品分析需求

    提供電氣、磁學,、光譜等多種測量模式,,且能同一位置直接聯(lián)用 SEM 及 EDS 功能。同時獲取 AFM 與 SEM 數(shù)據(jù),,并將其無縫關聯(lián)



應用案例

鋼和合金的復合分析

利用原子力顯微鏡對雙相鋼進行復合分析,,揭示了表面形貌(AFM)、鐵 氧體晶粒的磁疇結構(MFM),、晶粒相比(SEM)和表面電位雜質開爾文 探針力顯微分析法,。 • 相關多模態(tài)分析揭示了復雜的性質 • 掃描電鏡精確定位 ROI,AFM 綜合分析


電池的原位表征

固態(tài)電池(SSB)比鋰離子電池顯示出更高的能量密度,、更長的壽命和更 好的安全性,。由鋰鎳錳鈷氧化物(NMC)顆粒組成的正極膠帶在手套箱中 經(jīng)過 200 個周期后被打開,原位切割并使用 AFM-in-SEM 測量,。

 樣品提供: Aleksandr Kondrakov, BELLA (DEU)

• 在 CAM 橫截面處對局部電導率(C-AFM)進行表征

• 無需空氣暴露即可原位制備敏感 CAM


納米線的優(yōu)良表征

懸掛蜘蛛絲納米線因其機械性能而被研究,,通過超精確定位AFM 尖在懸掛的納米線上。力-距離光譜學使得確定納米線的彈性和塑性 變形成為可能,。

樣品提供: Linnea Gustafsson, KTH (SWE),。

• SEM: 精確定位 AFM 尖和納米線變形的實時觀察

• 分析屬性如楊氏模量和抗拉強度




選配件

納米壓痕模塊

納米壓痕模塊能夠在使用超高倍數(shù)掃描電子顯微鏡觀察樣品的同時進 行微機械實驗,并利用 LiteScope 以亞納米級分辨率對壓痕樣品進行 分析

NenoCase 與數(shù)碼相機

在環(huán)境條件或不同氣氛下將 LiteScope 作為獨立 AFM 使用,,通過數(shù)碼 相機精確導航探針,。

樣品旋轉模塊

適用于 FIB 后進行 AFM 分析。此外還允許同時安裝多個樣品實現(xiàn)在不 打開 SEM 腔室的情況下即可對多個樣品進行測試,。






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