LiteScope AFM-SEM 同步聯(lián)用技術(通用版)
- 公司名稱 復納科學儀器(上海)有限公司
- 品牌 Phenom/飛納電鏡
- 型號 LiteScope
- 產(chǎn)地 荷蘭
- 廠商性質 生產(chǎn)廠家
- 更新時間 2025/5/27 14:44:42
- 訪問次數(shù) 81
聯(lián)系方式:楊西子18516656178 查看聯(lián)系方式
聯(lián)系我們時請說明是化工儀器網(wǎng)上看到的信息,謝謝!
產(chǎn)地類別 | 進口 | 價格區(qū)間 | 面議 |
---|---|---|---|
樣品尺寸 | 8 mmmm | 樣品臺移動范圍 | 80 µm x 80 µm x 16 µmmm*mm |
儀器種類 | 原子力顯微鏡 | 應用領域 | 生物產(chǎn)業(yè),電子/電池,鋼鐵/金屬 |
AFM-SEM 同步聯(lián)用技術(通用版)
產(chǎn)品簡介
革命性的原子力顯微鏡(AFM),,可實現(xiàn)與掃描電子顯微鏡(SEM)的無縫集成,,為原位關聯(lián)顯微鏡開辟新可能。
憑借優(yōu)化設計,,LiteScope AFM 兼容賽默飛世爾,、TESCAN、蔡司,、日立,、JEOL 等主流品牌 SEM 系統(tǒng)及其配件,其他品牌電鏡亦可定制適配,。
測量模式:
• 機械性能:AFM,,能量耗散,相位成像
• 電性能:C-AFM,、KPFM,、EFM、STM
• 磁性能:MFM
• 電機械性:PFM
• 光譜學:F-z
曲線,I-V 曲線
• 相關性分析:CPEM
AFM-SEM 同步聯(lián)用技術(通用版)
實用特點
原位樣品表征
在 SEM 內部的原位條件下確保樣品分析同時,、同地,、同條件下進行,并且在飛納電鏡內部也能實現(xiàn)原子級分辨率
精確定位感興趣區(qū)域
SEM 與 AFM 原位聯(lián)用,,保證了同一時間,、同一地點和相同條件下的分析 使用 SEM 畫面,實時觀測探針與樣品的相對位置,,為探針提供導航,,精準定位
實現(xiàn)復雜的樣品分析需求
提供電氣、磁學,、光譜等多種測量模式,,且能同一位置直接聯(lián)用 SEM 及 EDS 功能。同時獲取 AFM 與 SEM 數(shù)據(jù),,并將其無縫關聯(lián)
鋼和合金的復合分析
利用原子力顯微鏡對雙相鋼進行復合分析,,揭示了表面形貌(AFM)、鐵 氧體晶粒的磁疇結構(MFM),、晶粒相比(SEM)和表面電位雜質開爾文 探針力顯微分析法,。 • 相關多模態(tài)分析揭示了復雜的性質 • 掃描電鏡精確定位 ROI,AFM 綜合分析
電池的原位表征
固態(tài)電池(SSB)比鋰離子電池顯示出更高的能量密度,、更長的壽命和更 好的安全性,。由鋰鎳錳鈷氧化物(NMC)顆粒組成的正極膠帶在手套箱中 經(jīng)過 200 個周期后被打開,原位切割并使用 AFM-in-SEM 測量,。
樣品提供: Aleksandr Kondrakov, BELLA (DEU)
• 在 CAM 橫截面處對局部電導率(C-AFM)進行表征
• 無需空氣暴露即可原位制備敏感 CAM
納米線的優(yōu)良表征
懸掛蜘蛛絲納米線因其機械性能而被研究,,通過超精確定位AFM 尖在懸掛的納米線上。力-距離光譜學使得確定納米線的彈性和塑性 變形成為可能,。
樣品提供: Linnea Gustafsson, KTH (SWE),。
• SEM: 精確定位 AFM 尖和納米線變形的實時觀察
• 分析屬性如楊氏模量和抗拉強度
選配件
納米壓痕模塊
納米壓痕模塊能夠在使用超高倍數(shù)掃描電子顯微鏡觀察樣品的同時進 行微機械實驗,并利用 LiteScope 以亞納米級分辨率對壓痕樣品進行 分析
NenoCase 與數(shù)碼相機
在環(huán)境條件或不同氣氛下將 LiteScope 作為獨立 AFM 使用,,通過數(shù)碼 相機精確導航探針,。
樣品旋轉模塊
適用于 FIB 后進行 AFM 分析。此外還允許同時安裝多個樣品實現(xiàn)在不 打開 SEM 腔室的情況下即可對多個樣品進行測試,。