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原子力顯微鏡(AFM)是一種掃描探針顯微鏡(SPM),，其分辨率在納米量級(jí)，比光學(xué)衍射極限高1000倍以上。信息是通過(guò)用機(jī)械探針“感覺(jué)”或“觸摸”表面來(lái)收集的,。壓電元件有助于根據(jù)(電子)命令進(jìn)行微小但精確的移動(dòng),，從而實(shí)現(xiàn)精確掃描,。
探針對(duì)樣品施加在其上的力的反應(yīng)可以用于以高分辨率形成樣品表面的三維形狀(形貌)的圖像,。這是通過(guò)光柵掃描樣品相對(duì)于尖部的位置并記錄對(duì)應(yīng)于恒定探針-樣品相互作用的探針高度來(lái)實(shí)現(xiàn)的(詳見(jiàn)原子力顯微鏡中的地形成像部分)。表面形貌通常顯示為偽彩色圖,。
原子力顯微鏡的探針主要有以下幾種：
1,、非接觸/輕敲模式針尖以及接觸模式探針：常用的產(chǎn)品，分辨率高,，使用壽命一般,。使用過(guò)程中探針不斷磨損，分辨率很容易下降,。主要應(yīng)用于表面形貌觀察。
2、導(dǎo)電探針：通過(guò)對(duì)普通探針鍍10-50納米厚的Pt(以及別的提高鍍層結(jié)合力的金屬,，如Cr,，Ti，Pt和Ir等)得到,。
導(dǎo)電探針應(yīng)用于EFM,，KFM，SCM等,。導(dǎo)電探針?lè)直媛时萾apping和contact模式的探針差,，使用時(shí)導(dǎo)電鍍層容易脫落，導(dǎo)電性難以長(zhǎng)期保持,。導(dǎo)電針尖的新產(chǎn)品有碳納米管針尖,，金剛石鍍層針尖，全金剛石針尖,，全金屬絲針尖,，這些新技術(shù)克服了普通導(dǎo)電針尖的短壽命和分辨率不高的缺點(diǎn)。
3,、磁性探針：應(yīng)用于MFM,，通過(guò)在普通tapping和contact模式的探針上鍍Co、Fe等鐵磁性層制備,，分辨率比普通探針差,，使用時(shí)導(dǎo)電鍍層容易脫落。
4,、大長(zhǎng)徑比探針：大長(zhǎng)徑比針尖是專為測(cè)量深的溝槽以及近似鉛垂的側(cè)面而設(shè)計(jì)生產(chǎn)的,。特點(diǎn)：不太常用的產(chǎn)品，分辨率很高,，使用壽命一般,。技術(shù)參數(shù)：針尖高度>9μm；長(zhǎng)徑比5:1,；針尖半徑<10nm,。
5、類金剛石AFM探針/全金剛石探針：一種是在硅探針的針尖部分上加一層類金剛石碳膜,，另外一種是全金剛石材料制備(價(jià)格很高),。這兩種金剛石碳探針具有很大的耐久性，減少了針尖的磨損從而增加了使用壽命,。
除此之外,，還有生物探針(分子功能化)，力調(diào)制探針,，壓痕儀探針,。
相關(guān)產(chǎn)品
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