首頁(yè)>>深圳市江麥智能科技有限公司>>產(chǎn)品展示>>探針臺(tái)/冷熱臺(tái)測(cè)試儀系列
真空探針臺(tái)測(cè)試儀 參考價(jià):111000
真空探針臺(tái)測(cè)試儀,,用于芯片,氣敏元器件等在不同氣氛環(huán)境下電學(xué)性能,,也可用 于材料分析,。廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體電學(xué)性能測(cè)試、物理研究,,氣敏分析,、集成電路、LED,、LCD...高溫探針臺(tái)測(cè)試儀 參考價(jià):68000
高溫探針臺(tái)測(cè)試儀測(cè)試儀廣泛的應(yīng)用于液態(tài)晶體,、材料、聚合物,、高分子及納米材料學(xué),、纖維、地質(zhì),、半導(dǎo)體,微機(jī)電系統(tǒng),、X-射線、流變,、冷凍干燥,、細(xì)胞生物學(xué)、生物學(xué),、生物...半導(dǎo)體冷熱探針臺(tái) 參考價(jià):面議
半導(dǎo)體冷熱探針臺(tái),,用于芯片、氣敏元器件等在不同氣氛環(huán)境下電學(xué)性能,,也可用變溫光學(xué)測(cè)試,、變溫電學(xué)測(cè)試、材料表征等分析,。廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體電學(xué)性能測(cè)試,、物理研究、氣敏...冷熱探針臺(tái)測(cè)試儀 參考價(jià):28000
冷熱探針臺(tái)測(cè)試儀,,用于芯片,、氣敏元器件等在不同氣氛環(huán)境下電學(xué)性能,也可用于材料分析,。廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體電學(xué)性能測(cè)試,、物理研究,、氣敏分析、鋰電池測(cè)試,、LED,、LCD...光電測(cè)試加熱探針臺(tái)測(cè)試儀 參考價(jià):面議
光電測(cè)試加熱探針臺(tái)測(cè)試儀,用于芯片,、氣敏元器件等在不同氣氛環(huán)境下電學(xué)性能,,也可用于材料分析。廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體電學(xué)性能測(cè)試,、物理研究,、氣敏分析、鋰電池測(cè)試,、LED...光熱催化探針臺(tái)測(cè)試儀 參考價(jià):面議
光熱催化探針臺(tái)測(cè)試儀主要用于氣固相的光催化和熱催化反應(yīng),,如CO2還原、加氫反應(yīng),、VOCs降解,、固氮、固硫等反應(yīng),。該儀器廣泛應(yīng)用于能源化工,、環(huán)境治理、化學(xué)工業(yè),、材...(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)