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日本Otsuka大塚電子QE-2100量子測量系統(tǒng)
| 參考價(jià): | 面議 |
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)- 產(chǎn)品型號
- OTSUKA/日本大塚 品牌
- 代理商 廠商性質(zhì)
- 成都市 所在地
訪問次數(shù)：168更新時(shí)間：2025-02-22 14:32:31
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產(chǎn)品簡介
| 產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 | 價(jià)格區(qū)間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 綜合 |
產(chǎn)品信息 特點(diǎn) 可處理高達(dá)2400mm的直管光學(xué)總光通量測量 測量系統(tǒng)符合IESNA的LM-79和LM-80標(biāo)準(zhǔn) 采用新的探測器,，可以進(jìn)行廣動態(tài)范圍的測量 測量部分的尺寸（積分球或積分半球）從250毫...
產(chǎn)品介紹
日本Otsuka大塚電子QE-2100量子測量系統(tǒng)-成都藤田科技提供
產(chǎn)品信息
特征
堅(jiān)持高精度測量
量子效率（量子產(chǎn)率）可以瞬時(shí)測量
可以去除重新激發(fā)的熒光發(fā)射
集成半球單元實(shí)現(xiàn)明亮的光學(xué)系統(tǒng)
使用低雜散光多通道分光光度探測器大大減少了紫外區(qū)域的雜散光,。
溫度控制功能 （50~300°C） 可實(shí)現(xiàn)與溫度相關(guān)的量子效率（量子產(chǎn)率）測量
兼容紫外到近紅外寬帶 （300~1600nm） 規(guī)格
堅(jiān)持作簡便
使用專用軟件輕松作
易于安裝和拆卸樣品測量池
節(jié)省空間且設(shè)計(jì)緊湊
通過使用光譜儀型激發(fā)光源，可以選擇任意波長,。
可以在軟件中激發(fā)波長和步長值的自動測量
堅(jiān)持多功能性
與粉末,、溶液,、固體（薄膜）和薄膜樣品兼容
廣泛的分析功能
測量項(xiàng)目
量子效率（量子產(chǎn)率）測量
激發(fā)波長依賴性測量
發(fā)射光譜測量
PL 激發(fā)光譜測量
EEM（激發(fā)發(fā)射矩陣）測量
用法
測量 LED 和有機(jī) EL 熒光粉的量子效率（量子產(chǎn)率）
測量薄膜狀樣品
的透射熒光和反射熒光的量子效率（量子產(chǎn)率）,，例如用于遠(yuǎn)程熒光粉的熒光粉樣品量子點(diǎn)、熒光探針,、生物場,、包合物等的熒光測量
染料敏化太陽能電池量子效率（量子產(chǎn)率）的測量
復(fù)雜化合物的測定
為什么精度高？
1. 具有積分半球的理想光學(xué)元件
QE-2100 配備了一個(gè)積分半球,。 與積分球（球形）相比,，積分半球具有以下特點(diǎn)
由于非發(fā)光部件（支架等）可以暴露在外部，因此可以保持較小的自吸收,，從而實(shí)現(xiàn)理想的光學(xué)系統(tǒng)
鏡子在同一點(diǎn)將照度加倍,，從而實(shí)現(xiàn)高靈敏度測量。
樣品測量池易于安裝和拆卸,，損壞積分球內(nèi)部的風(fēng)險(xiǎn)很小,。
2. 通過再激發(fā)熒光校正功能觀察“真實(shí)物性值"
在包含重激發(fā)熒光發(fā)射的狀態(tài)下，觀察的不是材料本身的物理性質(zhì),，而是器件的特性,，無法確定真正的物理性質(zhì)值。 QE-2100 使用重激發(fā)熒光校正,，利用積分半球的優(yōu)勢進(jìn)行簡單準(zhǔn)確的測量,。
3. 低雜散光多通道光譜檢測器減少紫外區(qū)域的雜散光
常規(guī)探測器（多色儀）在紫外區(qū)域檢測到高水平雜散光，因此不適合測量量子效率（量子產(chǎn)率）,。 大冢電子通過開發(fā)一種去除雜散光的技術(shù)解決了這個(gè)問題,。 QE-2100 中安裝的多通道分光光度探測器與我們的傳統(tǒng)產(chǎn)品相比，雜散光量約為 1/5,，即使在紫外線區(qū)域也能實(shí)現(xiàn)高精度測量,。
日本Otsuka大塚電子QE-2100量子測量系統(tǒng)-成都藤田科技提供
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