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日本Otsuka大塚FE-3700高精度膜厚測量系統(tǒng)
| 參考價: | 面議 |
具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)- 產(chǎn)品型號
- OTSUKA/日本大塚 品牌
- 代理商 廠商性質(zhì)
- 成都市 所在地
訪問次數(shù)：115更新時間：2025-02-22 11:18:45
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產(chǎn)品簡介
| 產(chǎn)地類別 | 進口 | 價格區(qū)間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 綜合 |
產(chǎn)品信息 特殊長度 可以高速、高精度地測量各種玻璃基板上各種薄膜的膜厚和光學(xué)常數(shù)。 除了支持包括下一代尺寸在內(nèi)的大型玻璃基板外,，它還支持 LCD,、TFT 和有機 EL,。 用法 LCD ITO...
產(chǎn)品介紹
日本Otsuka大塚FE-3700高精度膜厚測量系統(tǒng)-成都藤田科技提供
產(chǎn)品信息
特殊長度
可以高速,、高精度地測量各種玻璃基板上各種薄膜的膜厚和光學(xué)常數(shù),。除了支持包括下一代尺寸在內(nèi)的大型玻璃基板外,，它還支持 LCD,、TFT 和有機 EL。
用法
LCD
ITO / Glass, PI / OC / Glass, CF / Glass, Resist / Glass
TFT
SiN / a-Si / 玻璃
有機EL
有機EL / ITO / 玻璃
PDP
介電層/玻璃
核心特點：
超大基板全覆蓋：專為下一代尺寸玻璃基板設(shè)計（支持超長/超寬規(guī)格）,，可高效測量LCD,、TFT、有機EL等大型面板,，兼容PI,、ITO、SiN,、介電層等復(fù)雜膜層結(jié)構(gòu),。
納米級精度與秒級速度：采用分光干涉+AI算法技術(shù)，單點測量時間＜1秒,，膜厚精度±0.1nm,，光學(xué)常數(shù)（n/k）解析＜0.5%,，滿足量產(chǎn)級質(zhì)量控制需求。
全場景適配性：從研發(fā)實驗室到自動化產(chǎn)線,，支持在線（inline）集成,，可定制XYZ多軸平臺，實現(xiàn)基板全域厚度分布映射與缺陷快速篩查,。
高速量產(chǎn)優(yōu)化：每小時可檢測超3000點,，支持多探頭并行測量，大幅提升玻璃基板（如G8/G10）產(chǎn)線效率,，降低設(shè)備綜合成本（CoO）,。
超薄與超厚膜通吃：量程覆蓋1nm至200μm，適用于OC（光學(xué)膠）,、Resist（光刻膠）等軟膜與硬質(zhì)涂層的精準(zhǔn)厚度控制,。
低維護：非接觸式測量設(shè)計，無探針損耗,，長期使用穩(wěn)定性達99.8%,，搭配遠程診斷功能，減少停機風(fēng)險,。
日本Otsuka大塚FE-3700高精度膜厚測量系統(tǒng)-成都藤田科技提供
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