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日本Otsuka大塚ZETA粒徑測(cè)試系統(tǒng)ELSEneoSE
| 參考價(jià): | 面議 |
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)- 產(chǎn)品型號(hào)
- OTSUKA/日本大塚 品牌
- 代理商 廠(chǎng)商性質(zhì)
- 成都市 所在地
訪(fǎng)問(wèn)次數(shù)：39更新時(shí)間：2025-02-21 14:25:33
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產(chǎn)品簡(jiǎn)介
| 產(chǎn)地類(lèi)別 | 進(jìn)口 | 價(jià)格區(qū)間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 綜合 |
產(chǎn)品信息 特 點(diǎn) 采用了偏光光學(xué)系和多通道分光檢出器 有可對(duì)應(yīng)各種尺寸的裝置,，從1mm大小的光學(xué)素子到第10代的大型基板 安全對(duì)策和粒子對(duì)策,，可對(duì)應(yīng)液晶line內(nèi)的檢查設(shè)備 測(cè)量項(xiàng)目...
產(chǎn)品介紹
日本Otsuka大塚ZETA粒徑測(cè)試系統(tǒng)ELSEneoSE-成都藤田科技提供
產(chǎn)品信息
特點(diǎn)
● 可根據(jù)用途增加功能(分子量測(cè)定,、粒子濃度測(cè)定、微流變測(cè)定,、凝膠網(wǎng)眼結(jié)構(gòu)分析,、粒徑多角度測(cè)定)
● 可以用標(biāo)準(zhǔn)流動(dòng)池連續(xù)測(cè)量粒徑和zeta電位
● 可以測(cè)量從稀薄到濃厚溶液(~40% )的廣泛濃度范圍的粒徑zeta電位
● 可以在高鹽濃度下測(cè)定平板狀樣品的zeta電位
● 可在0~90℃的廣闊溫度范圍內(nèi)進(jìn)行測(cè)量
● 通過(guò)溫度梯度功能，可對(duì)蛋白質(zhì)等的變性及相變溫度進(jìn)行解析
● 通過(guò)樣品池內(nèi)的實(shí)測(cè)電氣浸透流圖分析,，提供高精度的ZETA電位測(cè)量結(jié)果
● 可安裝熒光濾光器(選配)
用途
非常適用于界面化學(xué),、無(wú)機(jī)物質(zhì)、半導(dǎo)體、聚合物,、生物學(xué),、制藥和醫(yī)學(xué)領(lǐng)域的基礎(chǔ)研究和應(yīng)用研究，不僅涉及微小顆粒,，還涉及薄膜和平板表面的科學(xué)研究,。
● 新型功能材料領(lǐng)域
- 燃料電池相關(guān)（碳納米管、富勒烯,、功能膜,、催化劑、納米金屬）
- 納米生物相關(guān)（納米膠囊,、樹(shù)枝狀聚合物,、DDS、納米生物粒子）,、納米氣泡等,。
● 陶瓷/著色材料工業(yè)領(lǐng)域
- 陶瓷（二氧化硅/氧化鋁/氧化鈦等）
- 無(wú)機(jī)溶膠的表面改性/分散/聚集控制
- 顏料的分散/聚集控制（炭黑/有機(jī)顏料）
- 漿料狀樣品
- 濾光器
- 浮游選定礦物的捕集材料的收集和研究
● 半導(dǎo)體領(lǐng)域
- 異物附著在硅晶片表面的原理解析
- 研磨劑和添加劑與晶片表面的相互作用的研究
- CMP漿料的相互作用
● 聚合物/化工領(lǐng)域
- 乳液（涂料/粘合劑）的分散/聚集控制，乳膠的表面改性（醫(yī)藥/工業(yè)）
- 聚電解質(zhì)（聚苯乙烯磺酸鹽,，聚羧酸等）的功能研究
- 功能納米顆粒紙/紙漿造紙過(guò)程控制和紙漿添加劑研究
● 制藥/食品工業(yè)領(lǐng)域
- 乳液（食品/香料/醫(yī)療/化妝品）分散/聚集控制及蛋白質(zhì)的機(jī)能性檢測(cè)
- 脂質(zhì)體/囊泡分散/聚集控制及表面活性劑（膠束）機(jī)能性檢測(cè)
原理
粒徑測(cè)量原理：動(dòng)態(tài)光散射法（光子相關(guān)法）
由于溶液中的粒子根據(jù)粒子的大小在做布朗運(yùn)動(dòng),，粒子受到光照射時(shí)會(huì)得到的散射光。小粒子呈現(xiàn)快速波動(dòng),，大粒子呈現(xiàn)緩慢波動(dòng)。通過(guò)光子相關(guān)法分析這種波動(dòng),，就可以求得粒度和粒度分布,。
分析流程
zeta電位測(cè)量原理：電泳光散射法 （激光多普勒法）
對(duì)溶液中的粒子施加電場(chǎng)時(shí)，可以觀(guān)察到粒子電荷所對(duì)應(yīng)的電泳動(dòng),。籍由此電泳速度可以求得ZETA電位及電泳移動(dòng)度,。
電泳散射法將光照射在泳動(dòng)中的粒子上得到散射光，根據(jù)散射光的多普勒位移量求得電泳速度,。
因此也被稱(chēng)之為激光多普勒（Laser Doppler）法,。
參數(shù)
測(cè)量原理 | 粒徑 | 動(dòng)態(tài)光散射法（光子相關(guān)法） |
ZETA電位 | 電泳光散射法（激光多普勒法） | |
分子量 | 靜態(tài)光散射法 | |
光學(xué)系統(tǒng) | 粒徑 | 零差光學(xué)系統(tǒng) |
ZETA電位 | 外差光學(xué) | |
分子量 | 零差光學(xué)系統(tǒng) | |
光源 | 高功率半導(dǎo)體激光器 | |
探測(cè)器 | 高靈敏度APD | |
樣品池單元 | ZETA電位：標(biāo)準(zhǔn)池 微量一次性池或濃縮池 | |
粒度/分子量：方形池 | ||
溫度 | 0~90℃（帶溫度梯度功能） | |
電源 | 220V ± 10% 250VA | |
尺寸(WDH) | 330(W)×565(D)×245(H) | |
重量 | 22Kg |
測(cè)量范圍
ZETA電位 | No effective limitations（無(wú)有效上限） |
電氣移動(dòng)度 | -2×10-5 ~ 2×10-5 cm2/V·s |
粒徑 | 0.6nm ~ 10um |
● 對(duì)應(yīng)范圍
測(cè)量溫度范圍 | 0~90℃ |
測(cè)量濃度范圍 | Zeta電位：0.001～40% 粒徑：0.00001%（0.1ppm)~40%*1 |
*1（標(biāo)準(zhǔn)粒子： 0.00001 ～ 10%、?；撬幔?～ 40%）
日本Otsuka大塚ZETA粒徑測(cè)試系統(tǒng)ELSEneoSE-成都藤田科技提供
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