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日本Otsuka大塚ZETA電位測試系統(tǒng)ELSZneo
| 參考價: | 面議 |
具體成交價以合同協(xié)議為準- 產(chǎn)品型號
- OTSUKA/日本大塚 品牌
- 代理商 廠商性質(zhì)
- 成都市 所在地
訪問次數(shù)：26更新時間：2025-02-21 10:37:53
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產(chǎn)品簡介
| 產(chǎn)地類別 | 進口 | 價格區(qū)間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 應用領(lǐng)域 | 綜合 |
MINUK可評價nｍ級的透明的異物?缺陷,，一次拍照即可瞬時獲得深度方向的信息，可非破壞?非接觸?非侵入的進行測量,。且無需對焦,，可在任意的面進行高速掃描,輕松決定測量位置。
產(chǎn)品介紹
日本Otsuka大塚ZETA電位測試系統(tǒng)ELSZneo-成都藤田科技提供
產(chǎn)品信息
ELSZ series的高級機型,，除了在稀薄溶液~濃厚溶液中進行zeta電位（Zeta Potential,，ζ-電位）和粒徑測定之外，還能進行分子量測定的裝置,。作為新的功能,，為了提高粒度分布的分離能力，采用了多角度測定,。另外,，也可實現(xiàn)測量粒子濃度測定、微流變學測定,、凝膠的網(wǎng)狀結(jié)構(gòu)分析,。 全新的zeta電位平板固體樣品池，通過新開發(fā)的對應高鹽濃度的涂層，可以在生理鹽水等高鹽濃度環(huán)境下進行測量,。3μL就能測定粒徑的超微量樣品池也位列其中,，從而擴大了生命科學領(lǐng)域的可能性。 在0~90℃的寬溫度范圍內(nèi),，可以進行自動溫度梯度測量的變性相變溫度分析。
特點
● 可對應從稀薄到濃厚溶液（~40%）寬濃度范圍的粒徑和ZETA電位測量
● 通過多角度測定,，可測量分辨率更高的粒徑分布
● 可以在高鹽濃度下測量平板樣品的ZETA電位
● 通過靜態(tài)光散射法可測量粒子的濃度
● 能過動態(tài)光散射法可測量微流變學
● 通過測量凝膠樣品在多個點的散射強度和擴散系數(shù),，可以分析凝膠的網(wǎng)絡結(jié)構(gòu)和不均勻性。
● 可以在0 ~ 90℃的寬溫度范圍內(nèi)進行測量
● 通過溫度梯度功能,，可對蛋白質(zhì)等的變性及相變溫度進行解析
● 通過樣品池內(nèi)的實測電氣浸透流圖分析,，提供高精度的ZETA電位測量結(jié)果,
● 可安裝熒光濾光器(選配)
用途
非常適用于界面化學、無機物質(zhì),、半導體,、聚合物、生物學,、制藥和醫(yī)學領(lǐng)域的基礎研究和應用研究,，不僅涉及微小顆粒，還涉及薄膜和平板表面的科學研究,。
● 新型功能材料領(lǐng)域
- 燃料電池相關(guān)（碳納米管,、富勒烯、功能膜,、催化劑,、納米金屬）
- 納米生物相關(guān)（納米膠囊、樹枝狀聚合物,、DDS,、納米生物粒子）、納米氣泡等
● 陶瓷/著色材料工業(yè)領(lǐng)域
- 陶瓷（二氧化硅/氧化鋁/氧化鈦等）
- 無機溶膠的表面改性/分散/聚集控制
- 顏料的分散/聚集控制（炭黑/有機顏料）
- 漿料狀樣品
- 濾光器
- 浮游選定礦物的捕集材料的收集和研究
● 半導體領(lǐng)域
- 異物附著在硅晶片表面的原理解析
- 研磨劑和添加劑與晶片表面的相互作用的研究
- CMP漿料的相互作用
● 聚合物/化工領(lǐng)域
- 乳液（涂料/粘合劑）的分散/聚集控制,，乳膠的表面改性（醫(yī)藥/工業(yè)）
- 聚電解質(zhì)（聚苯乙烯磺酸鹽,，聚羧酸等）的功能研究
- 功能納米顆粒紙/紙漿造紙過程控制和紙漿添加劑研究
● 制藥/食品工業(yè)領(lǐng)域
- 乳液（食品/香料/醫(yī)療/化妝品）分散/聚集控制及蛋白質(zhì)的機能性檢測
- 脂質(zhì)體/囊泡分散/聚集控制及表面活性劑（膠束）機能性檢測
原理
粒徑測量原理：動態(tài)光散射法（光子相關(guān)法）
由于溶液中的粒子根據(jù)粒子的大小在做布朗運動，粒子受到光照射時會得到的散射光,。小粒子呈現(xiàn)快速波動,，大粒子呈現(xiàn)緩慢波動。
通過光子相關(guān)法分析這種波動,，就可以求得粒度和粒度分布,。
zeta電位測量原理：電泳光散射法 （激光多普勒法）
對溶液中的粒子施加電場時，可以觀察到粒子電荷所對應的電泳動,。籍由此電泳速度可以求得ZETA電位及電泳移動度,。
電泳散射法將光照射在泳動中的粒子上得到散射光，根據(jù)散射光的多普勒位移量求得電泳速度,。
因此也被稱之為激光多普勒（Laser Doppler）法,。
實測電滲流的優(yōu)點
測量ZETA電位時,，在樣品池內(nèi)的粒子除了會泳動外，還會產(chǎn)生電滲流,。電滲流是指在樣品池內(nèi)壁面帶有負電荷時,，溶液中的正離子會聚集于壁面附近。如施加電場時,，壁面附近的正離子會往負離子電極方向移動,，并在樣品池內(nèi)中附近 產(chǎn)生的一種對流。
森·岡本公式
充分考慮電滲流后進行樣品池內(nèi)泳動速度的解析
電滲透流應用于多成分解析
ELSZ Series通過實測樣品內(nèi)多點觀察到的電泳移動度,，可以確認測量數(shù)據(jù)內(nèi)ZETA電位分布的再現(xiàn)性及判定雜質(zhì)的波峰,。
日本Otsuka大塚ZETA電位測試系統(tǒng)ELSZneo-成都藤田科技提供
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