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日本Otsuka大塚nanoSAQLA納米粒子徑測試
| 參考價(jià): | 面議 |
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)- 產(chǎn)品型號
- OTSUKA/日本大塚 品牌
- 代理商 廠商性質(zhì)
- 成都市 所在地
訪問次數(shù)：39更新時(shí)間：2025-02-21 10:30:49
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- 網(wǎng)址：
- www.fujita-cn.com
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產(chǎn)品簡介
| 產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 | 價(jià)格區(qū)間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 綜合 |
MINUK可評價(jià)nｍ級的透明的異物?缺陷,，一次拍照即可瞬時(shí)獲得深度方向的信息，可非破壞?非接觸?非侵入的進(jìn)行測量,。且無需對焦,，可在任意的面進(jìn)行高速掃描,輕松決定測量位置。
產(chǎn)品介紹
日本Otsuka大塚nanoSAQLA納米粒子徑測試-成都藤田科技提供
Smart膜厚儀 vs OPTM顯微分光膜厚儀——革新光學(xué)測量的雙引擎
核心對比與OPTM優(yōu)勢：
技術(shù)差異化：
OPTM系列：基于分光干涉法,，結(jié)合顯微光學(xué)系統(tǒng),，實(shí)現(xiàn)反射率分析，支持超薄膜（1nm）與復(fù)雜多層結(jié)構(gòu),，技術(shù)解決透明基板干擾,。
Smart膜厚儀：側(cè)重便攜性與快速篩查，適用于常規(guī)單層膜厚測量,，但精度與功能擴(kuò)展性不及OPTM系列,。
應(yīng)用場景：
OPTM適用于研發(fā)（R&D）與高精度QC，如半導(dǎo)體晶圓,、光學(xué)濾光片,；Smart膜厚儀更適合產(chǎn)線快速抽檢。
性價(jià)比優(yōu)勢：OPTM以中型設(shè)備成本提供媲美橢偏儀的精度,，且操作門檻更低,，軟件內(nèi)置NIST校準(zhǔn)追溯，確保數(shù)據(jù)可靠性,。
特長
● 1臺便可實(shí)再5個(gè)樣品的連續(xù)測量
實(shí)現(xiàn)了在沒有自動取樣器的情況下難以連續(xù)測量的多個(gè)樣品
可以改變每個(gè)樣品的條件進(jìn)行測量
● 可以對應(yīng)從稀薄到濃厚的樣品
● 標(biāo)準(zhǔn)測量時(shí)間1分的高度測量
自動調(diào)整從濃厚系到稀薄系樣品的測量位置,，實(shí)現(xiàn)約1分鐘的高速測量
● 配備簡單測量功能(點(diǎn)擊一鍵即可開始測量)
沒有任何復(fù)雜的操作，簡單易懂的軟件
● 因?yàn)槊總€(gè)樣品槽都是獨(dú)立的,，沒有接觸污染的風(fēng)險(xiǎn),。
● 搭載溫度梯度功能
測量范圍（理論值）
● 粒徑0.6nm～10μm
● 濃度范圍 0.00001～40％
● 溫度范圍0～90℃*
規(guī)格
| 型號 | 多檢體納米粒徑測量系統(tǒng) |
| 測量原理 | 動態(tài)光散射法（光子相關(guān)法） |
| 光源 | 高功率半導(dǎo)體激光（660nm、70mW） *1 |
| 檢出器 | 高感度APD |
| 連續(xù)測量 | 最多5個(gè)樣品 |
| 測量范圍 | 0.6nm ～ 10μm |
| 濃度范圍 | 0.00001 ～ 40% *2 |
| 溫度范圍 | 0 ～ 90℃ （具備溫度梯度功能） *3 |
| 樣品容量 | 四面透光比色皿：1.2mL～,、微量比色皿：20μL～ |
| 尺寸 | W240 X D480 X H375 mm |
| 電壓 | 220V 50/60Hz、250VA |
| 重量 | 約18 kg |
| 軟件 | 平均粒徑解析（累積法解析） |
| 粒徑分布解析 | |
| （Marquardt法/Contin法/NNLS/Unimodal法） | |
| 粒度分布重疊 | |
| 逆相關(guān)數(shù) 殘差Plot | |
| 粒徑監(jiān)測 | |
| 粒徑表示范圍 （0.1 ～ 106 nm） | |
| 分子量計(jì)算機(jī)能 | |
| 21 CFR Part11對應(yīng)*4 | |
| 選配 | 微量樣品池（20μL開始対應(yīng)）,、熒光濾光片 |
*1 本設(shè)備劃分在激光安全基準(zhǔn)（JIS C 6802）的等級內(nèi),。
*2 Latex120nm：0.00001 ～ 10％、牛黃膽酸：～40%
*3 標(biāo)準(zhǔn)glass cell的批量測量的情況,。
一次性cell或連續(xù)測量時(shí),， 15 ～ 40℃ （不對應(yīng)溫度梯度）
*4 選配功能
測量示例
不同溶劑的5個(gè)樣品連續(xù)測量
溫度梯度機(jī)能使用的測定
可對應(yīng)寬泛粒徑的范圍的測量
日本Otsuka大塚nanoSAQLA納米粒子徑測試-成都藤田科技提供
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