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晶體硅太陽電池
多晶硅和C-Si基太陽能電池的質(zhì)量控制解決方案
SENperc PV是為PERC太陽能電池制造質(zhì)量控制而設(shè)計(jì)的,。它測量SiO2,、Al2O3和SiNX單層膜和疊層膜,,這些單層膜和疊層膜用于PERC電池(多晶硅襯底和c-Si襯底)的正面反射和背面鈍化。對沉積過程的穩(wěn)定性進(jìn)行長時(shí)間的監(jiān)測,。由此,,優(yōu)化了維護(hù)時(shí)間間隔。
Al2O3和SiNx薄膜的厚度和折射率指數(shù)測量
SENperc PV 配備了基于配方的用于質(zhì)量控制按鈕操作,。在樣品臺(tái)上放置一個(gè)PERC電池,,涂有涂層的背面朝下以控制鈍化層。晶體硅太陽能電池插入到一個(gè)特殊的晶片架來分析防反射涂層,。不需要對準(zhǔn),。雜散光不影響測量。測量到的厚度和折射率指數(shù)被保存到SQL數(shù)據(jù)庫中,。
SiO2,、Al2O3和SiNx沉積的長期穩(wěn)定性監(jiān)測
統(tǒng)計(jì)制程控制(SPC)被應(yīng)用于PERC太陽能電池的評估。預(yù)置范圍應(yīng)用于良率分析,。向操作人員提供直接和長期的反饋,,以便立即進(jìn)行干預(yù)。SQL數(shù)據(jù)庫在本地以及通過LAN可訪問,,以支持電池跟蹤和良率分析,。除了按鈕操作之外,SENpercPV還配備了強(qiáng)大的軟件接口,,用于新配方的研發(fā),。
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