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當(dāng)前位置：納加霍里科技（深圳）有限公司>>KITA>>半導(dǎo)體器件檢測的彈簧探針>> KNS025-001WP日本KITA半導(dǎo)體器件彈簧探針開爾文接觸
產(chǎn)品型號KNS025-001WP
品 牌KITA/日本
廠商性質(zhì)經(jīng)銷商
所 在 地深圳市
更新時間：2025-04-22 14:52:39瀏覽次數(shù)：97次
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| 價格區(qū)間 | 面議 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 能源,電子/電池,鋼鐵/金屬,汽車及零部件,綜合 |
|---|
深圳納加霍里科技專業(yè)代理銷售 日本KITA半導(dǎo)體器件彈簧探針開爾文接觸（4 端子連接）產(chǎn)品特點如下：
日本KITA半導(dǎo)體器件彈簧探針開爾文接觸（4 端子連接）開爾文接觸（4端子連接）是一種高精度測試技術(shù),，主要用于半導(dǎo)體芯片、晶圓,、封裝測試等領(lǐng)域的電氣性能測量,。
1. 開爾文接觸（4端子連接）原理
開爾文連接（Kelvin Connection）通過分離電流施加和電壓測量的路徑，消除導(dǎo)線和接觸電阻的影響,，顯著提升小電阻或低電壓信號的測量精度：
電流路徑（Force線）：提供測試電流,。
電壓路徑（Sense線）：獨立測量被測器件兩端的電壓，避免電流路徑的壓降干擾,。
2. KITA彈簧探針的關(guān)鍵設(shè)計
KITA的彈簧探針針對開爾文測試優(yōu)化，具有以下特性：
獨立隔離的4端子：每個探針包含兩個彈簧觸點（Force/Sense）,，物理隔離以減少串?dāng)_,。
高精度材料：使用鈹銅、鈀合金等低電阻且耐磨損材料,，確保長期穩(wěn)定性,。
微細(xì)間距適配：支持高密度布局，適用于微小焊盤或凸塊（如BGA,、CSP封裝）,。
彈性行程控制：彈簧結(jié)構(gòu)提供穩(wěn)定的接觸壓力，避免損傷被測表面,。
3. 典型應(yīng)用場景
晶圓測試（Wafer Probing）：測量晶體管,、二極管、電阻的IV特性,。
封裝測試（Package Test）：驗證封裝后器件的導(dǎo)通性和阻抗,。
高精度參數(shù)分析：如接觸電阻（幾毫歐級）、導(dǎo)通電阻（RDS(on)）等,。
4. 優(yōu)勢
降低接觸誤差：消除探針與焊盤之間的接觸電阻影響,。
高重復(fù)性：彈簧結(jié)構(gòu)保證多次測試的接觸一致性。
兼容自動化：適配探針卡（Probe Card）或測試插座（Test Socket）,。
5. 與其他技術(shù)的對比
| 特性 | KITA開爾文探針 | 傳統(tǒng)2端子探針 |
|---|---|---|
| 測量精度 | 較高（μΩ級） | 受接觸電阻影響大 |
| 復(fù)雜度 | 較高（需4線布局） | 簡單 |
| 成本 | 較高 | 較低 |
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