以下是一些常見的車載芯片高低溫溫控測(cè)試設(shè)備：

inTEST ThermoStream 系列熱流儀

型號(hào)：如 ATS-545-M-k,、ATS-710E、ATS-750E 等,。

溫度范圍：不同型號(hào)有所差異,，一般可提供 - 75℃至 + 225℃甚至更寬的溫度沖擊范圍,。例如,，ATS-750E-M 制冷能力更強(qiáng)，低溫可達(dá) - 85℃,，高溫達(dá)到 300℃,。

變溫速率：每秒可快速升溫 / 降溫 15℃-18℃，能在短時(shí)間內(nèi)實(shí)現(xiàn)大幅度的溫度變化,，如 ATS-710E 可在 10 秒或更短時(shí)間內(nèi)實(shí)現(xiàn) - 55℃至 + 125℃以及 + 125℃至 - 55℃的溫度轉(zhuǎn)變,。

溫度精度：精度可達(dá) ±1℃，部分型號(hào)溫度顯示分辨率為 ±0.1℃,。

優(yōu)勢(shì)：可以單獨(dú)對(duì) PCB 上的單個(gè) IC 進(jìn)行溫度沖擊測(cè)試,，而不影響周圍元件；能實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)待測(cè)元件真實(shí)溫度,，并隨時(shí)調(diào)整沖擊氣流溫度,；高度適配各類測(cè)試平臺(tái)。

車載芯片沖擊測(cè)試用高低溫一體機(jī)

溫度范圍：可實(shí)現(xiàn) - 60℃-250℃寬溫域精準(zhǔn)控制,。

溫度精度：精度高達(dá) ±0.1℃,。

功能：集成超寬溫域控制、動(dòng)態(tài)響應(yīng)調(diào)節(jié)與多應(yīng)力協(xié)同功能,，支持模擬高溫運(yùn)行,、低溫啟動(dòng)、快速溫變及機(jī)械沖擊等惡劣工況,，兼容 AEC - Q100,、ISO 16750 - 3 等國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)，可同步控制溫度,、振動(dòng),、濕度及氣壓，廣泛應(yīng)用于 ECU,、IGBT 模塊,、電池管理系統(tǒng)（BMS）等車載芯片的全流程可靠性驗(yàn)證。

溫變 Chiller（溫度控制冷水機(jī)）

溫度范圍：一般可模擬 - 65℃至 + 150℃的嚴(yán)苛溫變場(chǎng)景,，能滿足車規(guī)芯片標(biāo)準(zhǔn)（如 AEC - Q100 Grade 0：-40℃至 + 150℃）及超限測(cè)試需求,。

溫度精度：通過(guò)配備 PID + 模糊控制算法，結(jié)合鉑電阻或紅外傳感器實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)溫度,，可實(shí)現(xiàn) ±0.1℃精度控制,。

設(shè)備特性：支持 5℃-20℃/min 的線性升溫 / 降溫，具有動(dòng)態(tài)溫變速率,；通過(guò)傳感器實(shí)時(shí)反饋溫度數(shù)據(jù)，確保測(cè)試艙內(nèi)溫度均勻性在 ±0.5℃以內(nèi)；可匹配芯片封裝尺寸,，確保導(dǎo)熱介質(zhì)流量均勻覆蓋被測(cè)器件,；支持多個(gè) DUT（被測(cè)設(shè)備）并行測(cè)試，提升測(cè)試效率,。