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目錄:賽默飛電子顯微鏡>>聚焦離子束顯微鏡>> Helios 5 Laser PFIB賽默飛(原FEI)Helios 5 激光 PFIB

賽默飛(原FEI)Helios 5 激光 PFIB
  • 賽默飛(原FEI)Helios 5 激光 PFIB
  • 賽默飛(原FEI)Helios 5 激光 PFIB
參考價(jià)7000000-10000000/件
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)

參考價(jià):¥7000000 ~ ¥10000000

具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • FEI/賽默飛 品牌
  • Helios 5 Laser PFIB 型號(hào)
  • 生產(chǎn)商 廠商性質(zhì)
  • 上海市 所在地

更新時(shí)間:2025-03-21 09:52:16瀏覽次數(shù):2256評(píng)價(jià)

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賽默飛(原FEI)Helios 5 激光 PFIB這是一臺(tái)先進(jìn)的聚焦離子束掃描電子顯微鏡(FIB-SEM),,可以利用納米級(jí)分辨率實(shí)現(xiàn)快速3D表征毫米尺度材料,。

集成飛秒激光系統(tǒng)的Thermo Scientific 賽默飛(原FEI)Helios 5 激光 PFIB,,這是一臺(tái)先進(jìn)的聚焦離子束掃描電子顯微鏡(FIB-SEM),,可以利用納米級(jí)分辨率實(shí)現(xiàn)快速3D表征毫米尺度材料。

Helios 5 Laser PFIB集成了好的Thermo Scientific Elstar SEM鏡筒(用于超高分辨率成像和先進(jìn)的分析能力),、等離子FIB鏡筒(可在所有操作條件下實(shí)現(xiàn)最佳性能)以及飛秒激光,,可實(shí)現(xiàn)以從前無法通過商業(yè)化產(chǎn)品獲得的速率進(jìn)行原位材料刻蝕。Helios 5 Laser PFIB是業(yè)界的Helios系列第五代產(chǎn)品的一部分,。

Helios 5 Laser PFIB極大地加快了學(xué)術(shù)和工業(yè)用戶的研究步伐,,使他們能夠在幾分鐘之內(nèi)完成材料的表征,而之前需要花費(fèi)的幾天的時(shí)間,。研究人員不僅可以針對(duì)定點(diǎn)的毫米大小的截面在納米級(jí)分辨率下快速,、準(zhǔn)確地成像且更具有統(tǒng)計(jì)意義,還可以設(shè)置大體積的3D分析,,使其在一夜之間自動(dòng)完成,,從而使顯微鏡空出時(shí)間來用于其他用途。

Helios 5 Laser PFIB使研究人員可以獲得準(zhǔn)確的大體積3D和次表面數(shù)據(jù),,其速度比典型的鎵離子源聚焦離子束(Ga-FIB)快15,000倍,。對(duì)于許多材料,,Helios 5 Laser PFIB可以在不到5分鐘的時(shí)間內(nèi)刻蝕數(shù)百微米的大截面。借助激光和等離子FIB的組合,,現(xiàn)在可以進(jìn)行連續(xù)截面層析成像,,并且當(dāng)與EDS和EBSD檢測(cè)器結(jié)合使用時(shí),可以擴(kuò)展到毫米級(jí)的3D元素和晶粒取向分析,。

經(jīng)過數(shù)年與加州大學(xué)圣巴巴拉分校的McLean Echlin 和Tresa Pollock的密切合作,,第一批商業(yè)化產(chǎn)品被運(yùn)抵日本國立材料科學(xué)研究所(NIMS)和英國曼徹斯特大學(xué),這兩個(gè)單位都已經(jīng)看到收益,。

Helios 5 Laser PFIB使學(xué)術(shù)和工業(yè)實(shí)驗(yàn)室可以輕松處理具有挑戰(zhàn)性的非導(dǎo)電,,對(duì)空氣敏感和對(duì)離子束敏感的材料。他們還可以加快故障分析的速度,,同時(shí)可以快速訪問傳統(tǒng)FIB通常無法訪問的埋沒的下層,。FIB-SEM可用于分析各種材料,包括金屬,,電池,,玻璃,陶瓷,,涂層,,聚合物,生物材料和石墨,。

建立在Thermo Scientific Helios 5平臺(tái)上,,Thermo Scientific 賽默飛(原FEI)Helios 5 激光 PFIB重新定義了具有高材料對(duì)比度的高分辨率成像標(biāo)準(zhǔn);快速,,簡便,,精確的高質(zhì)量樣品制備,適用于掃描透射電子顯微鏡(S / TEM)和原子探針層析技術(shù)(APT),。




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